便携式产品鉴定装置制造方法及图纸

一种用来分析产品中的关键成分和关键成分的相对数量继而使鉴定和监视产品的真实性、欺诈和质量控制成为可能的便携式产品鉴定装置和方法被揭示出来。特定的发光化合物可以被用来识别和定量分析产品中的关键成分的相对水平。这项发明专利技术包括提供光源照射试样产品的探针组件、检测从受照射的产品发出的光线的光学探测器以及通过发出的光线与标准进行比较确定试样产品的真实性或质量的控制器。待鉴定的产品的小样在现场进行检验（例如，在制造地点或分销地点），借此给出关于其真实性或质量的直接反馈。试样可以与发光化合物一起放在芯片上。芯片和少量的试样一起放在探针组件中。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的现有技术这项专利技术处在用来鉴定试样组成的装置和方法的一般领域。为了区分非常相似的复杂的混合物对产品进行鉴定和监视由于各种理由都是有用的。例如，为了保护品牌的完整性，应当对假冒伪劣物质(例如来自竞争者的冒牌材料或来自有执照者/特许经营者的误调配的材料)的使用进行检测。再者，为了适当的提高产品质量，低质量的物质(例如，稀释的或误调配的产品)应当便捷地被检测。共同转让的美国专利第5,753,511号(在此通过引证将其全部内容完整地并入)揭示一种自动开发数据库的方法，以便储存信息用于产品(甚至就产品批号和每批容量而论)的“图谱”型分析。自动化分析是评价和区别竞争产品及其它(例如建立产品的可靠性或原点)的方法，甚至在狭窄的领域或产业范围内。在这方面本专利技术涉及利用发光化合物自动识别产品中的关键成分和/或关键成分的相对数量的方法。511号专利中提及的用于鉴定试样的实验室装备不容易低成本地运输。因此，现场确定产品的真实性不论是在制造点还是在分销点都不现实。就伪造物质的分销或来自有执照者和/或特许经营者的误调配材料的生产而论，品牌拥有者不可能称心如意地自发地现场检验产品的真实性。此外，加工厂(例如)在任何给定的时刻可能有为数众多的正在完成的连续处理过程。当产品正在生产时检验产品的纯度或质量(例如)可能是符合要求的。采用比较大而且价格昂贵的实验室装备，这是不可能的。因此，加工必须中断，试样产品必须送到远程站点进行检验，而且在完成试样检验之前加工不能重新开始。本专利技术的概述按照本专利技术的一个方面，提供一种便携式产品鉴定装置。该装包括具有软导管的底座单元和与软导管耦合的探针组件。探针组件具有用预定波长的光线照射待鉴定试样的光源。这个装置进一步包括用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线的光学探测器。控制器配置在底座单元内并且与探针组件通信以便接收试样特征并且将试样特征与图谱进行比较。在一个实施方案中，控制器定位在远离探针组件的站点上并且可以包括储存图谱的数据库。在一个实施方案中，光源是发光二极管。在另一个实施方案中，光源是可操作地接在发光二级管上的光缆。在又一个实施方案中，光缆配置在探针组件之内并且可操作地接在光学的探测器上，以便接收试样产生的发射光并且传送给给光学探测器。作为替代，光学探测器配置在探针组件之内。在重要的实施方案中，装置包括用来可更换地接纳众多光源之一的插座。每个光源都是为了发射波长符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的。在另一个实施方案中，该装置还可以包括用来从试样对照射波长的光线作出响应时产生的发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线的发射滤光片和/或用来滤除光源产生的波长不符合要求的光线的光源滤光片。在又一个实施方案中，探针组件适合可更换地接纳众多发射滤光片之一和/或众多光源滤光片之一。每个发射滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的，而每个光源滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据选定的光源选定的。在另一个实施方案中，光学探测器检测试样产生的至少一种发射波长的光线的数量。作为替代，光学探测器检测试样产生的至少一种发射波长的光线的数量的超时变化。光学探测器检测真实试样的特征以便提供图谱，并且可以在一个待鉴定试样上完成众多检测任务。图谱可以包括一系列可接受的图谱。在又一个实施方案中，探针组件进一步包括适合容纳试样的夹持器。探针组件可以包括把光源发射的光线朝试样反射的反射器。在本专利技术的另一个方面中，提供用来检测被鉴定的试样的特征的探针组件。该探针组件包括手持式探针壳体和配置在所述壳体内用预定波长的光线照射试样的光源。光学探测器配置在壳体中用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线。在一个实施方案中，光源是发光二级管。在另一个实施方案中，探针组件包括在壳体上形成的用来可更换地接纳众多发光二极管之一的发光二级管插座。每个发光二极管都是为了发射波长符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的。在另一个实施方案中，发射滤光片配置在壳体中以便从试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线。光源滤光片可以配置在壳体中以便滤除光源产生的波长不符合要求的光线。在重要的实施方案中，探针组件包括在壳体中形成的用来可更换地接纳众多发射滤光片之一的发射滤光片插座和/或在壳体中形成的用来可更换地接纳众多光源滤光片之一的光源滤光片插座。每个发射滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的，而每个源滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据选定的光源选定的。在又一个实施方案中，探针组件包括适合接纳试样的夹持器。探针组件可以包括把光源了发出的光线朝试样反射的反射器。在本专利技术的又一个方面中，提供用来检测带鉴定试样的特征的配套器材。这种配套器材包括包括具有众多插座和至少一个用预定波长的光线照射试样的发光二级管的手持式探针壳体。每个发光二极管都适合插入所述插座之一并且是根据待发射的光线的预期波长选定的。每个预期波长都是根据想要鉴定的试样确定的。另外，可以提供用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线的光学探测器。另外，探针壳体可以包括把光源发出的光朝试样反射的反射器。在一个实施方案中，这种配套器材进一步包括至少一个从试样对照射波长的光学作出响应时产生的至少一种发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线的发射滤光片和/或至少一个滤除光源产生的波长不符合要求的光线的光源滤光片。每个滤光片都适合插入所述插座之一。配套器材可以进一步包括至少一种发光化合物。每种发光化合物都适合与被选定的待鉴定试样反应。配套器材可以进一步包括适合插入探针壳体的夹持器。夹持器适合夹持发光化合物和试样。配套器材还可以配备一个手提箱。在本专利技术的又一个方面中，揭示一种用便携式鉴定装置检测待鉴定试样的特征的方法。该装置具有包括用预定波长的光线照射试样的光源和用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线的光学探测器的探针组件。该方法包括下述步骤用光学探测器检测背景光；把发光化合物添加到真实产品的试样中形成真实试样混合物；用照射波长的光线照射真实试样混合物；检测真实试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线的数量或数量的超时变化以便提供图谱；把发光化合物添加到试验产品试样中形成试验试样混合物；用照射波长的光线照射试验试样混合物；检测试验试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线的数量或数量的超时变化，以便提供试验试样的特征，将试验试样的特征与图谱进行比较，以确定该试验试样的真伪。在重要的实施方案中，用于真实试样混合物和试验试样混合物两者的照射步骤和检测步骤发生在非常接近时空中。在另一个实施方案中，当试验试样不真实时，该方法进一步包括与远程计算机通信并且读取储存的图谱，以便确定该试验试样的身份。在另一个实施方案中，真实试样混合物产生的光线的数量和数量的超时变化可能都被检测。在另一个实施方案中，该方法进一步包括与具有众多图谱的数据库的控制器通信的步骤。通信发生在根据比较确定该试验试样不真实之后，而且该通信步骤包括将试验试样的特征与图谱数据库进行比本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种便携式产品鉴定装置，其中包括：底座单元；探针组件，所述的探针组件与所述的底座单元耦合并且具有用来照射待鉴定的试样的光源，该光源的光线波长是预定的；光学探测器，它检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种波长将提供试样特 征的发射光；以及控制器，所述的控制器配置在所述的底座单元内并且与所述的探针组件通信，以便接收所述的试样特征并且将所述的试样特征与图谱进行比较。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：理查德L塞林弗瑞安，理查德P吉尔，兰克什维格，J克里斯费尔菲利普斯，弗雷德贝赫英格，
申请(专利权)人：鉴定技术公司dba维特科，
类型：发明
国别省市：US[美国]