一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置及方法制造方法及图纸

技术编号:25960300 阅读:105 留言:0更新日期:2020-10-17 03:52
本发明专利技术公开了一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置,包括多孔陶瓷柱、主导线、多个副导线以及多个钨丝,多孔陶瓷柱具有中心通孔和多个外环通孔;主导线延伸穿过中心通孔,一端均与所述多个钨丝的第一端连接,另一端在测量时连接直流电源负极;各副导线分别延伸穿过各外环通孔,一端分别与各钨丝的第二端连接,另一端在测量时连接直流电源正极;其中,所述主导线和各副导线与钨丝的连接点位于所述多孔陶瓷柱的端面;所述主导线的两端通过绝缘填料固定在所述中心通孔内;各副导线的两端通过所述绝缘填料固定在各外环通孔内。本发明专利技术能够在原有测量手段的基础上满足对等离子体空间电势测量实验的精度、效率、可靠性等方面的要求。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置及方法
本专利技术属于等离子体测量领域,涉及一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置及测量方法。
技术介绍
等离子体物理是近年来新兴的基础物理学科,随着研究的深入,对于等离子体空间电势的测量的需求日益旺盛。传统的测量方法是使用单股钨丝进行测量,测量精度低;同时,钨丝易烧断,烧断后的测量设备无法继续使用,需要打开真空设备后进行更换,效率极低,对相关的实验设备有较大的损伤。
技术实现思路
为此,本专利技术设计了一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置,以便能够对等离子体的空间电势进行测量;能够针对同一点处的空间电势,同时测量多组数据,减小实验所带来的人为误差,提高装置的测量精度;以及能够在钨丝意外烧断时,可以立即更换新的钨丝进行实验,降低因为更换设备带来的误差以及对推力器的损坏。本专利技术提供了一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置,包括多孔陶瓷柱、主导线、多个副导线以及多个钨丝,所述多孔陶瓷柱具有沿其纵向延伸的中心通孔和多个外环通孔;所述主导线延伸穿过所述中心通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置,其特征在于,包括多孔陶瓷柱(1)、主导线(2)、多个副导线(3)以及多个钨丝(4),/n所述多孔陶瓷柱(1)具有沿其纵向延伸的中心通孔和多个外环通孔;所述主导线(2)延伸穿过所述中心通孔,所述主导线(2)的一端与所述多个钨丝(4)的第一端均连接,另一端在测量时连接直流电源负极;各副导线(3)分别延伸穿过各外环通孔,各副导线(3)的一端分别与各钨丝(4)的第二端连接,另一端在测量时连接直流电源正极;/n其中,所述主导线(2)和各副导线(3)与钨丝(4)的连接点位于所述多孔陶瓷柱(1)的端面;所述主导线(2)的两端通过绝缘填料(5)固定在所述中心通孔...

【技术特征摘要】
1.一种用于测量等离子体空间电势的多孔测量装置,其特征在于,包括多孔陶瓷柱(1)、主导线(2)、多个副导线(3)以及多个钨丝(4),
所述多孔陶瓷柱(1)具有沿其纵向延伸的中心通孔和多个外环通孔;所述主导线(2)延伸穿过所述中心通孔,所述主导线(2)的一端与所述多个钨丝(4)的第一端均连接,另一端在测量时连接直流电源负极;各副导线(3)分别延伸穿过各外环通孔,各副导线(3)的一端分别与各钨丝(4)的第二端连接,另一端在测量时连接直流电源正极;
其中,所述主导线(2)和各副导线(3)与钨丝(4)的连接点位于所述多孔陶瓷柱(1)的端面;所述主导线(2)的两端通过绝缘填料(5)固定在所述中心通孔内;各副导线(3)的两端通过所述绝缘填料(5)固定在各外环通孔内。


2.根据权利要求1所述的多孔测量装置,其特征在于,所述多个副导线(3)的数量为2~8个。


3.根据权利要求1所述的多孔测量装置,其特征在于,所述主导线(2)为铁氟龙镀银导线。


4.根据权利要求1所述的多孔测量装置,其特征在于,所述多个副导线(3)为铁氟龙镀银导线。


5.根据权利要求1所述的多孔测量装置,其特征在于,所述多孔陶瓷柱(1)由氧化铝陶瓷制成。


6.根据权利要求1所述的多孔测量装置,其特征在于,所述绝缘填料...

【专利技术属性】
技术研发人员:汤海滨齐佳运张广川张尊
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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