基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法技术

本发明专利技术提供了基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，包括样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储和色系对比，其中，样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储均为检测的学习记忆阶段，色系对比是将待检测LED灯珠与形成记忆的样本LED灯珠对比；本发明专利技术采用样本学习的方式，通过光学和色彩对比的方式检测缺陷是直接的，并且针对LED灯珠存在的微小的缺损、分层等质量缺陷无法定量的问题，并且这种缺陷肉眼无法准确识别，可以大大提高灯珠的检测效率，并且可以完成全检，而不是抽检，保证成品的出厂质量，还可以有效的避免批量问题的产生。

【技术实现步骤摘要】
基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法
本专利技术涉及LED灯珠检测
，尤其涉及基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法。
技术介绍
我国现有技术中，对于LED灯珠缺陷的检测方式主要以人工目检为主，这种方式准确率浮动较大，效率较低。为了提高LED灯珠检测的效率和准确性，采用从大量数据中自动提取LED灯珠缺陷特征的方式来检测LED灯珠缺陷的检测仪器，由于LED灯珠属于较小的元器件，且易发生缺损、分层等难以定量的缺陷，单纯采用目测或者平面的检测方法，不能对LED灯珠的整体质量有效的把控，这使得LED灯珠的质量不稳定，并且在生产中容易出现批量的质量问题，当出现批量的质量问题时再通过专用的检测设备对LED灯珠做全面的检测，已经造成成本的增加并且增加了废品率，为了解决这一问题，需要一个具有智能的能够在产品不断更新换代的情况下可以通过对样品的学习，对颜色的记忆，对位置的准确标记从而使每一个LED灯珠均可以经过检测，进行全方位的检测，准确的建模并且与样本进行对比，从而获取LED灯珠的缺陷位置，有效的提高检测的效率。
技术实现思路
本专利技术旨在提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，以解决LED灯珠存在的肉眼无法目测的缺陷的问题。为达到上述目的，本专利技术的技术方案具体是这样实现的：本专利技术的提供了基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，包括样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储和色系对比，其中，样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储均为检测的学习记忆阶段，色系对比是将待检测LED灯珠与形成记忆的样本LED灯珠对比，具体检测和学习记忆方法如下：样本LED灯珠准备：在成套产品中质选一批质量完整的LED灯珠作为样本；图样采集：图样采集包括学习阶段的图样采集和检测阶段的图样采集，学习阶段图样采集摄取的是样本LED灯珠颜色样本，而检测阶段图样采集摄取的是待检测LED灯珠的颜色样本；三维建模：三维建模包括色系生成、色系分解和色系处理，三者之间的关系是相互交叉的；记忆存储：记忆存储不仅是对现有的存储，还对未被存储的色系经过两次采集出现相同的RGB数值定义为新的色系；光照选择：在进行LED灯珠检测时，灯珠所处的外部环境的光照条件进行选择，并且在该光照条件下调取学习记忆阶段采集的RGB色系；色系对比：将待检测的LED灯珠摄取的色系与学习记忆阶段同样采用单色的提取和位置的标记方式；缺陷判断：对于灯珠缺陷的判断主要是对颜色差异的判断，采用三次采集限度，三次采集均不能与记忆存储数值相同则判断该点位缺陷位置；判断反馈：反馈的阶段始终与缺陷判断同时进行，并且将缺陷的出现反馈至记忆存储和图样摄取中。作为本专利技术进一步的方案，所述三维建模的具体过程如下：色系生成：通过图样的采集对LED灯珠的样本颜色进行采集，对灯珠进行立体的数据采集；色系分解：将采集生成的颜色根据单一颜色的RGB数值进行标记和归类，标记包括面的标记和位置的标记使生成的色系可以在空间中有效的表达，通过空间的算法对生成的颜色位置准确的标记，并且通过RGB的数值标记确；色系处理：分解成单一的色系和进行位置标记后对单一颜色的位置以二进制的方式进行数据的处理，数据处理包括对单一颜色的学习认定，并且对学习的单一颜色归类，归类的同时对RGB数值进行对比。作为本专利技术进一步的方案，所述LED灯珠的整体结构由其外部结构和透过外部延伸至内部的结构组成。作为本专利技术进一步的方案，该学习记忆方法采用RGB数值作为存储介质，采用笛卡尔坐标系作为定位点获取空间位置。作为本专利技术进一步的方案，该样本LED灯珠学习过程如下：选择目标Z，并且确定其对应的颜色标准值为B；选择既定位置i，确定目标的颜色阈值，并且在记忆存储功能中通过RGB数值标记该颜色；以背景色为纯白色对采集的矩阵点进行灰度还原，通过RGB的数值形成数字模型。作为本专利技术进一步的方案，采集的RGB数值和位置以当前光照条件为大框架存储，在检测时先调用相同光照条件，再完成RGB数值和标记点位置的对应。本专利技术提供了基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，有益效果在于：本专利技术采用样本学习的方式，采用对大量标准的样本的立体结构进行扫描，并且通过颜色识别的方式，利用RGB的数值特点进行单一颜色的标记，并且通过数学建模的方式，定位选取位置的点和该点的面，逐一放大的形式建立完整的三维数字模型，通过对三维数字模型的对比判断待检测灯珠是否存在于样本学习记忆中的缺陷部分，并且可以准确的将该位置标记，最终完成待检测LED灯珠的缺陷检测，这种通过光学和色彩对比的方式检测缺陷是直接的，并且针对LED灯珠存在的微小的缺损、分层等质量缺陷无法定量的问题，并且这种缺陷肉眼无法准确识别，可以大大提高灯珠的检测效率，并且可以完成全检，而不是抽检，保证成品的出厂质量，还可以有效的避免批量问题的产生。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图1为本专利技术实施例提供的结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。参见图1，本专利技术实施例提供的基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，包括样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储和色系对比，其中，样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储均为检测的学习记忆阶段，色系对比是将待检测LED灯珠与形成记忆的样本LED灯珠对比，从而判断待检测LED灯珠是否存在缺陷，具体检测和学习记忆方法如下：样本LED灯珠准备：在成套产品中质选一批质量完整，但是形态颜色有区分的LED灯珠作为样本，样本的量越大，对学习记忆越有效；图样采集：图样采集包括学习阶段的图样采集和检测阶段的图样采集，学习阶段图样采集摄取的是样本LED灯珠颜色样本，而检测阶段图样采集摄取的是待检测LED灯珠的颜色样本；三维建模：三维建模包括色系生成、色系分解和色系处理，三者之间的关系是相互交叉的，色系生成：通过图样的采集对LED灯珠的样本颜色进行采集，颜色的采集是360度全方位的，即在立体的六个面上对灯珠进行颜色的采集，对灯珠进行立体的数据采集；色系分解：将采集生成的颜色根据单一颜色的RGB数值进行标记和归类，标记包括面的标记和位置的标记使生成的色系可以在空间中有效的表达，通过空间的算法对生成的颜色位置准确的标记，并且通过RGB的数值标记，使采集的颜色和位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，包括样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储和色系对比，其中，样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储均为检测的学习记忆阶段，色系对比是将待检测LED灯珠与形成记忆的样本LED灯珠对比，具体检测和学习记忆方法如下：/n样本LED灯珠准备：在成套产品中质选一批质量完整的LED灯珠作为样本；/n图样采集：图样采集包括学习阶段的图样采集和检测阶段的图样采集，学习阶段图样采集摄取的是样本LED灯珠颜色样本，而检测阶段图样采集摄取的是待检测LED灯珠的颜色样本；/n三维建模：三维建模包括色系生成、色系分解和色系处理，三者之间的关系是相互交叉的；/n记忆存储：记忆存储不仅是对现有的存储，还对未被存储的色系经过两次采集出现相同的RGB数值定义为新的色系；/n光照选择：在进行LED灯珠检测时，灯珠所处的外部环境的光照条件进行选择，并且在该光照条件下调取学习记忆阶段采集的RGB色系；/n色系对比：将待检测的LED灯珠摄取的色系与学习记忆阶段同样采用单色的提取和位置的标记方式；/n缺陷判断：对于灯珠缺陷的判断主要是对颜色差异的判断，采用三次采集限度，三次采集均不能与记忆存储数值相同则判断该点位缺陷位置；/n判断反馈：反馈的阶段始终与缺陷判断同时进行，并且将缺陷的出现反馈至记忆存储和图样摄取中。/n...

【技术特征摘要】
1.基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，包括样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储和色系对比，其中，样本LED灯珠的准备，图样采集学习，三维建模、记忆存储均为检测的学习记忆阶段，色系对比是将待检测LED灯珠与形成记忆的样本LED灯珠对比，具体检测和学习记忆方法如下：
样本LED灯珠准备：在成套产品中质选一批质量完整的LED灯珠作为样本；
图样采集：图样采集包括学习阶段的图样采集和检测阶段的图样采集，学习阶段图样采集摄取的是样本LED灯珠颜色样本，而检测阶段图样采集摄取的是待检测LED灯珠的颜色样本；
三维建模：三维建模包括色系生成、色系分解和色系处理，三者之间的关系是相互交叉的；
记忆存储：记忆存储不仅是对现有的存储，还对未被存储的色系经过两次采集出现相同的RGB数值定义为新的色系；
光照选择：在进行LED灯珠检测时，灯珠所处的外部环境的光照条件进行选择，并且在该光照条件下调取学习记忆阶段采集的RGB色系；
色系对比：将待检测的LED灯珠摄取的色系与学习记忆阶段同样采用单色的提取和位置的标记方式；
缺陷判断：对于灯珠缺陷的判断主要是对颜色差异的判断，采用三次采集限度，三次采集均不能与记忆存储数值相同则判断该点位缺陷位置；
判断反馈：反馈的阶段始终与缺陷判断同时进行，并且将缺陷的出现反馈至记忆存储和图样摄取中。


2.根据权利要求1所述的基于学习记忆的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述三维建模的具体过程如下：
色系生成：通过图样的采集...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海波，
申请(专利权)人：深兰科技达州有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51