SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对SSD进行数据随机写操作；向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；对SSD上电初始化；判断SSD上电初始化是否成功；对SSD写入的数据进行数据校验；判断数据校验是否匹配。本发明专利技术弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质
本专利技术涉及SSD正常掉电测试
，更具体地说是指SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
在PCIeNVMeSSD(以下简称SSD)产品开发阶段的初期，通常需要对其一些关键特性或功能进行快速评估，以检验相应设计是否存在缺陷。其中，对SSD进行正常掉电测试十分重要。所谓正常掉电是相对异常掉电而言的，即在对SSD掉电前，主机先对SSD发送正常掉电通知命令，然后再对SSD掉电。目前，在对消费级SSD进行正常掉电测试的方法中，通常利用第三方的掉电测试软件(例如，sleeper)和读写测试软件(例如，BurnInTest)在Windows下，先对SSD读写一段时间，然后再对整机进行休眠或冷启动操作来实现对SSD的正常掉电，这种测试方法的优点是在操作上简单方便。然而，这种方法存在以下两个缺点：1、上述方法所采用的第三方掉电测试软件，在对SSD下发了正常掉电通知命令后，并不会等待SSD是否已完成该命令(根据NVMe1.3协议规定，主机在下发了正常掉电通知命令后，至少要等待1s或以上再进行其他操作)，如此一来，也就无法判断SSD是否已完成该命令，而直接对SSD掉电；若出现这种情况，对SSD而言，这在某些时候属于一次异常掉电测试，与本该对SSD进行正常掉电测试的意图相违背，从而有可能漏掉某些在正常掉电测试下才会出现的SSD产品缺陷(例如处理正常掉电通知命令超时)；2、上述方法所采用的第三方读写测试软件，不会在SSD下一个上电周期里，对上一个上电周期已写入的数据进行校验，这样有可能会漏掉SSD在正常掉电后仍有可能出现数据不一致相关的缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：SSD正常掉电的测试方法，包括以下步骤：对SSD进行数据随机写操作；向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；若不是，则进行脚本报错，停止测试；若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；对SSD上电，并进行初始化；判断SSD上电初始化是否成功；若不成功，则进行脚本报错，停止测试；若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；判断数据校验是否匹配；若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。其进一步技术方案为：所述步骤“对SSD进行数据随机写操作”中，写操作的数据模式为0x5a。其进一步技术方案为：所述步骤“等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值”中，N大于等于1。其进一步技术方案为：所述步骤“若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒”中，X为3-10。SSD正常掉电的测试装置，包括：写单元，下发设置单元，等待读取单元，第一判断单元，掉电单元，上电初始化单元，第二判断单元，校验单元，第三判断单元，返回单元，及报错停止单元；所述写单元，用于对SSD进行数据随机写操作；所述下发设置单元，用于向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；所述等待读取单元，用于等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；所述第一判断单元，用于判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；所述掉电单元，用于对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；所述上电初始化单元，用于对SSD上电，并进行初始化；所述第二判断单元，用于判断SSD上电初始化是否成功；所述校验单元，用于对SSD写入的数据进行数据校验；所述第三判断单元，用于判断数据校验是否匹配；所述返回单元，用于返回执行“对SSD进行数据随机写操作”；所述报错停止单元，用于进行脚本报错，停止测试。其进一步技术方案为：所述写单元中，写操作的数据模式为0x5a。其进一步技术方案为：所述等待读取单元中，N大于等于1。其进一步技术方案为：所述掉电单元中，X为3-10。一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的SSD正常掉电的测试方法。一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的SSD正常掉电的测试方法。本专利技术与现有技术相比的有益效果是：弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内(N秒)正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，以及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷，能够更好地满足需求。下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的SSD正常掉电的测试方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的SSD正常掉电的测试装置的示意性框图；图3为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。请参阅图1到图3所示的具体实施例，其中，请参阅图1所示，本专利技术公开了一种SSD正常掉电的测试方法，包括以下步骤：S1，对SSD进行数据随机写操作；其中，在本实施例中，对SSD进行数据随机写操作M秒，M≥1，例如：M＝3,5，或7等，M的值可根据实际情况而设定，以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n对SSD进行数据随机写操作；/n向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；/n等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；/n判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；/n若不是，则进行脚本报错，停止测试；/n若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；/n对SSD上电，并进行初始化；/n判断SSD上电初始化是否成功；/n若不成功，则进行脚本报错，停止测试；/n若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；/n判断数据校验是否匹配；/n若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；/n若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。/n

【技术特征摘要】
1.SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
对SSD进行数据随机写操作；
向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
若不是，则进行脚本报错，停止测试；
若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
对SSD上电，并进行初始化；
判断SSD上电初始化是否成功；
若不成功，则进行脚本报错，停止测试；
若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；
判断数据校验是否匹配；
若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；
若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。


2.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“对SSD进行数据随机写操作”中，写操作的数据模式为0x5a。


3.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值”中，N大于等于1。


4.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒”中，X为3-10。


5.SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，包括：写单元，下发设置单元，等待读取单元，第一判断单元，掉电单元，上电初始化单元，第二判断单元，校验单元，第三判断单元，返回单元，及报错停止单元；
所述写单元，用于对SSD进行数据随机写操作；
所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗发治，郭芳芳，贾宗铭，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44