【技术实现步骤摘要】
一种使用高光谱鉴定玉米抗旱基因的方法
本专利技术属于作物信息领域,涉及使用高光谱表型性状来鉴定玉米抗旱基因的方法。
技术介绍
玉米是世界上主要的农作物之一,是重要的饲料作物和生物能源。玉米是需水量较大的作物,随着生态环境不断破坏、我国干旱频繁发生,干旱胁迫已然成为限制玉米生长发育和产量最重要的非生物胁迫之一,因此,玉米的抗旱育种研究意义重大。随着基因组学与生物技术的发展,我国玉米抗旱基因鉴定工作取得了重大进展。BADH基因在花生、水稻、小麦等植物上成功克隆并表达,得到抗旱与耐盐较强的植株,郑成忠等(2016)将外源BADH基因以单拷贝形式整合到玉米基因组中,对T6代阳性植株进行干旱与盐胁迫处理后,测定脯氨酸、POD活性等生理生化指标,结果表明其抗旱耐盐性显著增强。祁茂冬(2018)利用生物信息学方法鉴定出41个玉米HSP70家族成员,通过对基因启动子区逆境和激素相关元件分析筛选出响应干旱胁迫的候选基因,构建相关基因超表达载体并转化拟南芥进行干旱响应验证,结果表明ZmHSP70-1、ZmHSP70-8在玉米响应干旱逆境过程中发挥着正调节因子作用。MAPK级联途径参与了植物干旱信号传递以及抗旱响应,赵冰兵(2019)以玉米MAPK家族中的ZmMKKK18基因为潜在的耐旱基因,构建ZmMKKK18基因的过表达载体,利用农杆菌介导转化玉米材料ZPM9,进行梯度干旱胁迫处理,鉴定抗旱相关指标,发现在干旱胁迫条件下ZmMKKK18基因提高了植株耐旱性。相关研究表明过表达MIPS可增强植物对高盐、冷和氧化等环境的耐受性,郝 ...
【技术保护点】
1.一种使用高光谱鉴定玉米抗旱基因的方法,其特征在于将高通量高光谱检测技术和全基因组关联分析技术结合,突破传统方法有损、低效、测量参数有限的缺点,提出一种玉米抗旱功能基因挖掘新方法,具体包括如下步骤:/n步骤A,不同自交系组成的盆栽玉米群体在干旱胁迫条件与正常条件下多重复生长状况的高光谱实现高通量数据采集,并对高光谱二进制数据流进行重整得到各波段下的高光谱图像,接着进行图像分割、图像掩摸和数据分析,进而获取海量高光谱表型性状;/n步骤B,高光谱表型性状降维处理和关键性状筛选,包括异常值筛选、重复性检验、独立样本T检验、主成分分析、多层感知器筛选与遗传力分析,进而筛选出遗传力高且玉米抗旱高度相关的高光谱表型性状;/n步骤C,利用混合线性模型对筛选后的高光谱表型性状进行全基因组关联分析,结合玉米基因组注释,查找显著关联SNP邻近基因以及热点基因作为玉米抗旱功能的候选基因;/n步骤D,高光谱表型性状关联的候选基因抗旱功能验证,结合候选基因在正常浇水和干旱胁迫下表达量数据进行eQTL分析,利用候选基因的突变体或转基因材料,进行抗旱表型性状的考查,确认候选基因的抗旱功能。/n
【技术特征摘要】
1.一种使用高光谱鉴定玉米抗旱基因的方法,其特征在于将高通量高光谱检测技术和全基因组关联分析技术结合,突破传统方法有损、低效、测量参数有限的缺点,提出一种玉米抗旱功能基因挖掘新方法,具体包括如下步骤:
步骤A,不同自交系组成的盆栽玉米群体在干旱胁迫条件与正常条件下多重复生长状况的高光谱实现高通量数据采集,并对高光谱二进制数据流进行重整得到各波段下的高光谱图像,接着进行图像分割、图像掩摸和数据分析,进而获取海量高光谱表型性状;
步骤B,高光谱表型性状降维处理和关键性状筛选,包括异常值筛选、重复性检验、独立样本T检验、主成分分析、多层感知器筛选与遗传力分析,进而筛选出遗传力高且玉米抗旱高度相关的高光谱表型性状;
步骤C,利用混合线性模型对筛选后的高光谱表型性状进行全基因组关联分析,结合玉米基因组注释,查找显著关联SNP邻近基因以及热点基因作为玉米抗旱功能的候选基因;
步骤D,高光谱表型性状关联的候选基因抗旱功能验证,结合候选基因在正常浇水和干旱胁迫下表达量数据进行eQTL分析,利用候选基因的突变体或转基因材料,进行抗旱表型性状的考查,确认候选基因的抗旱功能。
2.根据权利要求书1所述的方法,所述步骤A中的数据采集系统采用作物表型全自动高通量检测平台中的高光谱成像系统,数据采集的内容为不同品种的盆栽玉米在两个不同年份间的干旱胁迫条件与正常条件下干旱胁迫前、干旱胁迫期与复水期三个阶段的不同时间点生长状况的高光谱数据流,包括顶视高光谱数据与侧视高光谱数据,由此获得最终的高光谱数据流。
3.根据权利要求书1所述的方法,所述步骤A中的图像处理和数据分析采用LabVIEW8.6,将获得的二进制数据流重整为各波段下的高光谱图像;取其中两个波段下高光谱图像相除,获得玉米区域较为突出的灰度图;采用OTSU法对此灰度图像进行分割,获得二值图像;OTSU的计算方法如下:
假设一幅图像的像素总数为N,灰度级总数为L,其中灰度级为i的像素个数为Ni,0≤i≤L-1,其中∑Ni=N;记t为前景和背景的分割阈值,前景点像素个数占图像的比例为b0,平均灰度值为g0;背景点像素个数占图像的比例为b1,平均灰度值为g1,这些参数之间的关系如下:
b1=1-b0
那么,图像的总平...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨万能,冯慧,代明球,伍玺,叶军立,戴国新,李为坤,耿泽栋,宋京燕,陈国兴,熊立仲,
申请(专利权)人:华中农业大学,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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