平板探测器位置偏移量检测工装、方法及放射治疗装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种平板探测器位置偏移量检测工装、方法及放射治疗装置，该检测工装包括：基板和立柱，基板用于固定在平板探测器上，在基板的测试面上固定有多个立柱，且多个立柱于测试面上呈均匀分布。本发明专利技术不用借助高精度的测量工具即可检测出放射治疗装置机架在不同角度时，平板探测器相对于放射源的位置偏移，快速得到平板探测器的位置偏移量，检测工装结构简单，安装便捷，检测方法步骤简单，操作便利。

【技术实现步骤摘要】
平板探测器位置偏移量检测工装、方法及放射治疗装置
本专利技术属于医疗
，具体涉及一种平板探测器位置偏移量检测工装、方法及放射治疗装置。
技术介绍
如图2所示，现代的放射治疗装置通常配备了平板探测器，并利用此探测器做电子射野成像作为病人摆位是否正确的直接依据，同时还利用此平板探测器做一些日常的机械性能检测。此平板探测器是由一个专用的支撑臂进行固定并根据需要由此支撑臂将平板移动并固定在特殊的位置，平板探测器的位置是否准确就成为一个非常重要的基准参数，如果这个基准位置不准确的话，基于平板探测器做放射治疗装置机械性能检测的基础也就不准确，导致整个检测的不可信。现有的技术对平板探测器定位精度的检测都是要借助于高精度的测距传感器或水平仪等设备来进行，同时整个过程不能自动完成，需要耗费大量的精力和物力做测量和验证。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提出了一种平板探测器位置偏移量检测工装、方法及放射治疗装置。为了达到上述目的，本专利技术的技术方案如下：一方面，本专利技术公开一种平板探测器位置偏移量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.平板探测器位置偏移量检测工装，其特征在于，包括：/n基板，所述基板用于固定在平板探测器上；/n立柱，在所述基板的测试面上固定有N个立柱，且N个所述立柱于所述测试面上呈均匀分布，N≥2。/n

【技术特征摘要】
1.平板探测器位置偏移量检测工装，其特征在于，包括：
基板，所述基板用于固定在平板探测器上；
立柱，在所述基板的测试面上固定有N个立柱，且N个所述立柱于所述测试面上呈均匀分布，N≥2。


2.根据权利要求1所述的平板探测器位置偏移量检测工装，其特征在于，N个立柱以所述基板测试面中心呈对称设置，其中N为偶数。


3.根据权利要求1所述的平板探测器位置偏移量检测工装，其特征在于，所述基板厚度为2～3毫米，所述立柱为直径1厘米，高度为5～10厘米的圆柱体。


4.根据权利要求1-3任一项所述的平板探测器位置偏移量检测工装，其特征在于，所述基板为铝板或碳纤维板，所述立柱为钨柱或铜柱。


5.平板探测器位置偏移量检测方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
S1：将权利要求1-4任一项所述的检测工装固定安装于平板探测器的上表面；
S2：固定好检测工装后，将放射治疗装置的旋转机架转到0°，启动射线源进行电子射野采图，此时在得到的电子图像上有N个立柱图像，记录此时N个立柱图像分别在平板探测器整个成像区域的位置，作为判断平板探测器位置的参照图像；
S3：将放射治疗装置的旋转机架转动一定角度，再次启动射线源进行电子成像，把此时得到的检测工装在平板探测器上的图像与0°位置时得到的图像进行对比，从而检测出平板探测器相对射线源是否发生了位置偏移，若发生位置偏移，则根据立柱图像偏移量计算实际平板探测器位置偏移量。


6.根据权利要求5所述的平板探测器位置偏移量检测方法，其特征在于，所述步骤S3中具体包括以下内容：将放射治疗装置的旋转机架分别转到90°位置、180°位置和270°位置，在每个位置启动射线源进行电子成像，把每个位置得到的检测工装在平板探测器上的图像与0°位置时得到的图像进行对比，从而检测出该位置平板探测器相对射线源是否发生了位置偏移，若发生位置偏移，则根据立柱图像偏移量计算实际平板探测器位置偏移量。


7.根据权利要求6所述的平板探测器位置偏移量检测方法，其特征在于，当放射治疗装置的旋转机架转到90°位置或270°位置，采用如下方法计算实际平板探测器位置偏移量：
根据平板探测器的每个像素的尺寸，得到立柱图像占用了多少个像素，从而计算出立柱图像的尺寸大小；
将90°位...

【专利技术属性】
技术研发人员：甄永杰，姚毅，
申请(专利权)人：苏州雷泰医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32