粒子测定装置及粒子测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能省去调整光纤位置所耗费的工夫，并能维持光恰当地射入光纤的状态的粒子测定装置及粒子测定方法。粒子测定装置（10）包括：流动室（20），用于供含有粒子的试样（11）流动；照射部（30），对在流动室（20）中流动的试样（11）照射照射光；聚光镜（42），聚集由于照射光的照射而从试样（11）所含有的粒子产生的光；光传送部（50），由复数个光纤（51）束起而构成并会有透射聚光镜（42）的光射入；光检测部（61），接收由光传送部（50）传送的光并输出检测信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】粒子测定装置及粒子测定方法
本专利技术涉及测定粒子的粒子测定装置及粒子测定方法。
技术介绍
已知一种向粒子照射激光，并通过光纤将从粒子产生的光向检测部引导的流式细胞仪。例如，专利文献1中记载了一种多色流式细胞术，其对从生物体试样中的复数种目标物质得到的复数个荧光信号进行解析。具体来说，如图14所示，专利文献1中记载了一种光学单元，其具备：激光光源601、602、603、604，射出波长互不相同的激光；流动室610，被激光照射；聚光镜620，聚集通过激光的照射产生的荧光；检测部631、632、633、634；光纤641、642、643、644，将由聚光镜620聚集的荧光分别引导向检测部631、632、633、634；保持器650，支撑光纤641、642、643、644。另外，专利文献1中记载了如下内容：当通过1种激光照射产生的荧光由1条光纤引导向检测部且荧光偏离光纤的射入侧端面时，通过移动保持器来进行光纤的定位。现有技术文件专利文献专利文献1：美国专利第6683314号说明书。
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题但是，1条光纤的直径一般为9μm～60μm，很小。因此，在上述光学单元中，只要光纤产生微小的位置偏移，光就不会恰当地射入光纤。由此，测定结果的精度降低。在上述多色流式细胞术中，为了高精度地从多个目标物质同时检测复数个荧光，需要在每次测定时调整光纤的位置。但是，若每次测定都需要调整位置的话，用户进行维护所耗费的作业负担大，且也要求用户具有用于执行维护的熟练度。解决技术问题的技术手段本专利技术的第1技术形态涉及一种粒子测定装置。本技术形态涉及的粒子测定装置（10）包括：流动室（20），用于供含有粒子的试样（11）流动；照射部（30），对在流动室（20）流动的试样（11）照射照射光；聚光镜（42），聚集由于照射光的照射而从试样（11）所含有的粒子产生的光；光传送部（50、210、220、230），由复数条光纤（51、211、221、231）束起而构成，且会有透射聚光镜（42）的光射入；光检测部（61、300、400、500），接收由光传送部（50、210、220、230）传送的光并输出检测信号。根据本技术形态涉及的粒子测定装置，由聚光镜聚集的光被引导至由复数个光纤束起而构成的光传送部。此时，易于将光传送部的射入侧端面的直径设定为比由聚光镜聚集的光束的直径大。由此，由聚光镜聚集的光易于射入光传送部的射入侧端面，因此即使光纤产生些许位置偏移，也能抑制从粒子产生的光偏离出光传送部。由此，能省去用户调整光纤的位置所耗费的工夫，并能维持光恰当地射入光纤的状态。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为，聚光镜（42）使从粒子产生的光聚集于光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）内。这样一来，即使光纤发生位置偏移，也能维持光恰当地射入光纤的状态。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为，聚光镜（42）使从粒子产生的光以比各光纤（51、211、221、231）的射入端的直径大且跨复数个光纤（51、211、221、231）的复数个射入端的宽度聚集于光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）。这样一来，与由聚光镜聚集的光以被聚拢得很小的状态聚集于光传送部的射入侧端面的情况相比，能使被引导至光传送部内的光纤的光量维持在一定水平。即，被聚拢得很小的状态的光有时会仅射入光纤的包层部分或被束起的复数个光纤的间隙。此时，由光传送部引导至后续的光检测部的光量大幅降低。但是，如果由聚光镜聚集的光以比光纤的射入侧端面的直径大且跨复数个光纤的射入端的宽度射入光传送部的射入侧端面的话，虽然一部分光会射入包层部分或间隙，但其他光会射入光纤的芯部分。由此，能抑制由光传送部引导至后续的光检测部的光量参差不齐的情况。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为，包括导光用透镜（43、201、202、203），所述导光用透镜（43、201、202、203）用于将由聚光镜（42）聚集的光引导至光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）。这样一来，即使光纤产生位置偏移或聚光镜的聚光位置产生参差不齐的情况，也能将由聚光镜聚集的光引导至光传送部的射入侧端面。由此，能维持光恰当地射入光纤的状态。此时，可设计为，导光用透镜（43、201、202、203）使由聚光镜（42）聚集的光的直径扩大并将其引导至光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）。这样一来，能抑制由光传送部引导至后续的光检测部的光量参差不齐的情况。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为，导光用透镜（43、201、202、203）将由聚光镜（42）聚集的光作为平行光射入光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）。这样一来，能抑制射入光传送部的光纤的光不在芯与包层的边界反射而从芯射出的情况。因此，能提高由光传送部引导的光的利用效率。本技术形态涉及的粒子测定装置（10）可设计为：还具备供从粒子产生的光透射的物镜（41）；其中，物镜（41）的后侧主平面与聚光镜（42）的主平面的距离以及聚光镜（42）的主平面与导光用透镜（43、201、202、203）的射入侧端面（43a、201a、202a、203a）的距离均设定为聚光镜（42）的焦距。这样一来，物镜、聚光镜以及导光用透镜构成远心光学系统，由聚光镜聚集的光垂直射入导光用透镜的射入侧端面。由此，能抑制射入导光用透镜的射入侧端面的光从导光用透镜的侧面向外侧漏出。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为：聚光镜（42）使从粒子产生的光会聚于导光用透镜（43、201、202、203）的射入侧端面（43a、201a、202a、203a），导光用透镜（43、201、202、203）使由聚光镜（42）会聚的光以比各光纤（51、211、221、231）的射入端的直径大且跨复数个光纤（51、211、221、231）的复数个射入端的宽度射入光传送部（50、210、220、230）的射入侧端面（50a、210a、220a、230a）。在本技术形态涉及的粒子测定装置（10）中，可设计为，导光用透镜（43、201、202、203）的焦距的条件用以下算式表示。【数1】在上述算式中，f2是导光用透镜（43、201、202、203）的焦距，m是光传送部（50、210、220、230）的光纤（51、211、221、231）的条数，b是光传送部（50、210、220、230）内的光纤（51、211、221、231）的外径，NA1是聚光镜（42）的数值孔径。这样一来，导光用透镜的射出侧端部处的光束的直径比光传送部的直径小，因此能使透射导光用透镜的光切实地射入光传送部。...

【技术保护点】
1.一种粒子测定装置，其特征在于，包括:/n流动室，用于供含有粒子的试样流动；/n照射部，对在所述流动室中流动的所述试样照射照射光；/n聚光镜，聚集由于所述照射光的照射而从所述试样含有的所述粒子产生的光；/n光传送部，由复数个光纤被束起而构成，且有透射所述聚光镜的所述光射入；/n光检测部，接收由所述光传送部传送的所述光并输出检测信号。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180227 JP 2018-0335151.一种粒子测定装置，其特征在于，包括:
流动室，用于供含有粒子的试样流动；
照射部，对在所述流动室中流动的所述试样照射照射光；
聚光镜，聚集由于所述照射光的照射而从所述试样含有的所述粒子产生的光；
光传送部，由复数个光纤被束起而构成，且有透射所述聚光镜的所述光射入；
光检测部，接收由所述光传送部传送的所述光并输出检测信号。


2.根据权利要求1所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述聚光镜使从所述粒子产生的光聚集于所述光传送部的射入侧端面内。


3.根据权利要求1所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述聚光镜使从所述粒子产生的光以比各所述光纤的射入端的直径大且跨复数个所述光纤的复数个射入端的宽度聚集于所述光传送部的射入侧端面。


4.根据权利要求1所述的粒子测定装置，其特征在于：
包括导光用透镜，所述导光用透镜用于将由所述聚光镜聚集的光引导至所述光传送部的射入侧端面。


5.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述导光用透镜使由所述聚光镜聚集的光的直径扩大并将其引导至所述光传送部的射入侧端面。


6.根据权利要求5所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述导光用透镜使由所述聚光镜聚集的光作为平行光射入所述光传送部的射入侧端面。


7.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
还包括会有从所述粒子产生的光透射的物镜；
其中，所述物镜的后侧主平面与所述聚光镜的主平面的距离、以及所述聚光镜的主平面与所述导光用透镜的射入侧端面的距离均设定为所述聚光镜的焦距。


8.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述聚光镜使从所述粒子产生的光会聚于所述导光用透镜的射入侧端面；
所述导光用透镜使由所述聚光镜会聚的光以比各所述光纤的射入端的直径大且跨复数个所述光纤的复数个射入端的宽度射入所述光传送部的射入侧端面。


9.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述导光用透镜的焦距的条件由下算式表示：
【数1】



在上述算式中，f2是导光用透镜的焦距，m是光传送部的光纤的条数，b是光传送部内的光纤的外径，NA1是聚光镜的数值孔径。


10.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
所述导光用透镜是随着远离中心轴而折射率变小的渐变折射率透镜。


11.根据权利要求4所述的粒子测定装置，其特征在于：
所...

【专利技术属性】
技术研发人员：田端诚一郎，
申请(专利权)人：希森美康株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP