表面污染测量仪支架制造技术

本申请提供了一种表面污染测量仪支架，包括壳体，壳体包括底板和侧壁，侧壁从底板的外周向上延伸形成容纳表面污染测量仪的空腔；底板上开设有第一通孔；第一通孔与表面污染测量仪的探测窗相适配；壳体的内部形成有用于容纳灌铅的内腔。本实用新型专利技术的表面污染测量仪支架由于使用灌铅的壳体，可以有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响以及待测物体周围高剂量γ射线对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度。因此，在测量后，无需对检测结果进行修正，从而提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
表面污染测量仪支架
本技术涉及放射性测量设备
，尤其涉及一种表面污染测量仪支架。
技术介绍
表面污染测量仪主要用于检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、衣服等表面受到α和β放射性污染的程度。表面污染测量仪使用晶体将射线转化为光粒子，并通过光电倍增管将光粒子转换成电流脉冲从而测量α和β放射性污染的程度。表面污染测量仪的底部设置有探测窗，用于接收待测平面发射的α和β射线，起到探头的作用。待测平面指的是探测窗内待测物体的表面。现有技术中，一般会使用支架支撑表面污染测量仪，有利于提高表面污染测量仪的稳定性，从而为检测提供便利。支架一般避让探测窗设置，以避免影响检测结果。然而，当待测物体表面的面积大于探测窗的面积时，现有的支架无法消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响，产生较大的误差，使得检测结果不够准确。因此，在测量后，还需要对检测结果进行修正，影响检测效率。
技术实现思路
针对上述现有技术中的问题，本申请提出了一种表面污染测量仪支架，当待测物体表面的面积大于探测窗的面积时，能够有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度；且可以通过使用垫板来调节表面污染测量仪的探测窗与待测平面间的距离，并在检测时保持探测窗与待测平面间的距离恒定，从而进一步地提高表面污染测量仪检测结果的准确度。本技术提供了一种表面污染测量仪支架，该表面污染测量仪支架包括壳体，所述壳体包括底板和侧壁，所述侧壁从所述底板的外周向上延伸形成容纳所述表面污染测量仪的空腔；所述底板上开设有第一通孔；所述第一通孔与所述表面污染测量仪的探测窗相适配；所述壳体的内部形成有用于容纳灌铅的内腔。利用该表面污染测量仪支架，当待测物体表面的面积大于探测窗的面积时，能够有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度。又由于在测量后，无需对检测结果进行修正，有利于提高检测效率。在一个实施方式中，所述底板的厚度为5毫米。通过该实施方式，使得探测窗与待测平面的距离为5毫米，继而符合《α、β表面污染仪检定规程(JJG478-2016)》和《表面污染测定(第1部分)：β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体(GB/T14056.1-2008)》所推荐的标准，有利于提高α射线检测结果的准确性。在一个实施方式中，该表面污染测量仪支架还包括垫板；所述垫板叠放在所述底板上；所述垫板上开设有第二通孔；所述第二通孔与所述表面污染测量仪的探测窗相适配。通过该实施方式，有利于拓展表面污染测量仪支架的适用范围，也有利于提高检测的准确性。在一个实施方式中，所述垫板的厚度为5毫米。通过该实施方式，使得探测窗与待测平面的距离为10毫米，继而符合《α、β表面污染仪检定规程(JJG478-2016)》和《表面污染测定(第1部分)：β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体(GB/T14056.1-2008)》所推荐的标准，有利于提高β射线检测结果的准确性。在一个实施方式中，所述垫板与所述壳体可拆卸地连接。通过该实施方式，有利于缩短检测过程，提高检测效率；也有利于提高检测结果的准确性。在一个实施方式中，所述垫板与所述壳体螺纹连接。通过该实施方式，有利于缩短检测过程，提高检测效率；也有利于提高检测结果的准确性。在一个实施方式中，所述垫板上设置有限位凸起，所述底板上开设有与所述限位凸起相适配的限位槽。通过该实施方式，有利于缩短检测过程，提高检测效率；也有利于提高检测结果的准确性。在一个实施方式中，所述垫板由铝塑板制成；或者，所述垫板由铅玻璃制成。使用铝塑板制成垫板有利于降低垫板的重量，从而有利于工作人员携带表面污染测量仪支架。使用铅玻璃制成垫板有利于消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响以及待测物体周围高剂量γ射线对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度。在一个实施方式中，所述壳体由不锈钢制成。通过该实施方式，有利于提高表面污染测量仪检测结果的准确度，也有利于表面污染测量仪支架的推广应用。在一个实施方式中，该表面污染测量仪支架还包括盖板，所述盖板与所述壳体相适配以封闭所述空腔。通过该实施方式，有利于保护表面污染测量仪不被放射性环境场所污染，有利于使其避免被重物砸伤或被尖锐物刮伤。本申请提供的表面污染测量仪支架，相较于现有技术，具有如下的有益效果：1、当待测物体表面的面积大于探测窗的面积时，能够有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度。2、使得探测窗与待测平面的距离为5毫米，继而符合《α、β表面污染仪检定规程(JJG478-2016)》和《表面污染测定(第1部分)：β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体(GB/T14056.1-2008)》所推荐的标准，有利于提高α射线检测结果的准确性。3、有利于拓展表面污染测量仪支架的适用范围。4、使得探测窗与待测平面的距离为10毫米，继而符合《α、β表面污染仪检定规程(JJG478-2016)》和《表面污染测定(第1部分)：β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体(GB/T14056.1-2008)》所推荐的标准，有利于提高β射线检测结果的准确性。5、有利于缩短检测过程，提高检测效率。6、有利于表面污染测量仪支架的推广应用。7、有利于保护表面污染测量仪不被放射性环境场所污染，也有利于使其避免被重物砸伤或被尖锐物刮伤。本技术的表面污染测量仪支架由于使用灌铅的壳体，可以有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响，从而减少检测误差，提高表面污染测量仪检测结果的准确度。因此，在测量后，无需对检测结果进行修正，从而提高检测效率。同时，表面污染测量仪支架还可以在检测时保持探测窗与待测平面间的距离恒定，并可以通过使用垫板来调节表面污染测量仪的探测窗与待测平面间的距离，从而进一步地提高表面污染测量仪检测结果的准确度。上述技术特征可以以各种适合的方式组合或由等效的技术特征来替代，只要能够达到本技术的目的。附图说明在下文中将基于实施例并参考附图来对本技术进行更详细的描述。其中：图1显示了根据本技术一实施方式的壳体的结构示意图；图2显示了根据本技术一实施方式的垫板的结构示意图。附图标记：1000-表面污染测量仪支架；1100-壳体；1110-底板；1111-第一通孔；1120-侧壁；1130-空腔；1200-垫板；1210-第二通孔。在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。具体实施方式下面将结合附图对本技术作进一步说明。如图1至图2所示，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面污染测量仪支架，其特征在于，包括壳体，所述壳体包括底板和侧壁，所述侧壁从所述底板的外周向上延伸形成容纳所述表面污染测量仪的空腔；所述底板上开设有第一通孔；所述第一通孔与所述表面污染测量仪的探测窗相适配；所述壳体的内部形成有用于容纳灌铅的内腔。/n

【技术特征摘要】
1.一种表面污染测量仪支架，其特征在于，包括壳体，所述壳体包括底板和侧壁，所述侧壁从所述底板的外周向上延伸形成容纳所述表面污染测量仪的空腔；所述底板上开设有第一通孔；所述第一通孔与所述表面污染测量仪的探测窗相适配；所述壳体的内部形成有用于容纳灌铅的内腔。


2.根据权利要求1所述的表面污染测量仪支架，其特征在于，所述底板的厚度为5毫米。


3.根据权利要求1所述的表面污染测量仪支架，其特征在于，还包括垫板；所述垫板叠放在所述底板上；所述垫板上开设有第二通孔；所述第二通孔与所述表面污染测量仪的探测窗相适配。


4.根据权利要求3所述的表面污染测量仪支架，其特征在于，所述垫板的厚度为5毫米。


5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄英，刘宇航，徐立鹏，杜元媛，刘端，古川，
申请(专利权)人：绵阳市辐射环境监测站，
类型：新型
国别省市：四川;51