光纤通信中分布式插损回损测量装置及方法制造方法及图纸

技术编号:25893800 阅读:51 留言:0更新日期:2020-10-09 23:39
本发明专利技术提出一种光纤通信中分布式插损回损测量方法,包括以下步骤:采集待测光路及校准模块区域上每一位置产生的拍频信号;对该拍频信号进行非均匀快速傅立叶变换转化为拍频频谱,并将频率映射为具体的物理距离,得到OFDR曲线的横坐标;由各点位置信号经光电探测器转换为电压值,得OFDR曲线的纵坐标,从而形成OFDR距离‑反射率曲线;从OFDR距离‑反射率曲线中获取校准模块的测量反射率与长度,根据其与标准值的偏差对OFDR距离‑反射率曲线进行校准,得到标准距离‑反射率曲线;根据标准距离‑反射率曲线计算待测光路沿线的插损回损值。本发明专利技术基于OFDR技术,测量无盲区,测量与校准同时进行,测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
光纤通信中分布式插损回损测量装置及方法
本专利技术涉及光通信测量领域,尤其涉及一种光纤通信中分布式插损回损测量装置及方法。
技术介绍
在光纤通信系统中,除去光纤自身的损耗外,光纤耦合器、光开关、隔离器等各类光无源器件及各功能模块的性能很大程度上决定了信号传输质量及传输距离。插损、回损值是衡量这些器件优劣的基本指标。普通的光功率测量法是最基本的测量方法,以接入被测件后的反射光功率与无被测件接入时发射光功率的比值作为回损值,接入被测件后的透射光功率与无被测件接入时光功率的差值作为插损值。这种测量方法接近基本的插回损定义,灵敏度较高,能适合大部分应用场合,但属于一种整体测试,测量的是整个光器件或一段光路上的插回损总和,无法得到被测光路上各特性点具体位置和信息,且测试步骤多,测量前需要复杂的系统校零,测试结果依赖于人为读数,精度不高且回损测量值不高于55dB。与传统的光功率测量法相比,目前常用在OTDR法能准确测量光路上某一点的插回损,且测试步骤简单,易于集成到自动化测量系统中,因而在大规模测试中得到了广泛的应用。但受限于OTDR基本原理,其测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤通信中分布式插损回损测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n采集待测光路及校准模块区域上每一位置产生的拍频信号;/n对该拍频信号进行非均匀快速傅立叶变换转化为拍频频谱,并将频率映射为具体的物理距离,得到连续点的位置信息,即OFDR曲线的横坐标;/n由各点位置信号经光电探测器转换为电压值,得到各点反射率,各点反射率对应OFDR曲线的纵坐标,形成OFDR距离-反射率曲线;/n从OFDR距离-反射率曲线中获取校准模块的测量反射率与长度,以

【技术特征摘要】
1.一种光纤通信中分布式插损回损测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
采集待测光路及校准模块区域上每一位置产生的拍频信号;
对该拍频信号进行非均匀快速傅立叶变换转化为拍频频谱,并将频率映射为具体的物理距离,得到连续点的位置信息,即OFDR曲线的横坐标;
由各点位置信号经光电探测器转换为电压值,得到各点反射率,各点反射率对应OFDR曲线的纵坐标,形成OFDR距离-反射率曲线;
从OFDR距离-反射率曲线中获取校准模块的测量反射率与长度,以为反射率校准系数对曲线上每点的反射率进行校准,以为长度校准系数对曲线上每点的长度进行校准,得到标准的OFDR距离-反射率曲线,其中R1为校准模块的标准反射率,L1为校准模块的长度,R0为校准模块反射率的测量值,L0为校准模块长度的测量值,校准后得到标准距离-反射率曲线;
由标准距离-反射率曲线计算待测光路沿线的回损值,具体选取一段覆盖回损待测区域的OFDR曲线,将该曲线上所有点的反射率逐一转化为强度后求和取对数,得到该区域的回损值;
由标准距离-反射率曲线计算待测光路沿线的插损值,具体在插损待测区域左右两侧各截取等长度的OFDR曲线,分别计算这两侧光纤的回损值、,根据这两侧的回损值计算待测区域的插损IL,,其中a为插损校准系数,当两侧光纤瑞利散射系数相同时,a=1;当两侧光纤瑞利散射系数不一致时,,其中A1为前段光纤的瑞利散射系数,A2为后段光纤的瑞利散射系数。


2.一种光纤通信中分布式插损回损测量装置,其特征在于,包括线性扫频激光器、光纤分束器、主干涉仪、辅助干涉仪、光电探测器、数据采集卡及计算机,其中:
所述线性扫频激光器用于提供波长周期性变化的光源;
所述光纤分束器将所述激光器输出的扫频激光分为两路,一路进入主干涉仪,另一路进入辅助干涉仪;
所述主干涉仪包括待测光路和校准模块,所述主干涉仪将光分为信号光和参考光,信号光经过待测光路...

【专利技术属性】
技术研发人员:王辉文张晓磊温永强张晓乔
申请(专利权)人:武汉昊衡科技有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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