辅料检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种辅料检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及生产工艺检测技术领域。所述方法包括：基于待测图像中没有辅料的局部区域，对所述待测图像与模板图像进行特征匹配，获得特征图像；确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间；在所述辅料对应的特征映射空间中，确定所述辅料的瑕疵类型。该方法基于待测图像中没有辅料的局部区域进行特征匹配与模板对齐，在不同的辅料对应的不同特征映射空间中进行辅料的瑕疵类型判定，提高了辅料瑕疵类型检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
辅料检测方法、装置、电子设备及存储介质
本申请涉及生产工艺检测
，具体而言，涉及一种辅料检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
随着计算机以及图像识别技术的发展，除了基于人工操作和判断进行物料生产和检测外，在工业生产中逐渐引入图像识别技术进行生产工艺的自动化控制与检测。在实际工业生产中，例如电子产品辅料瑕疵的判定往往需要人工操作，通过与标准件的比对剔除不良品。而人工判定效率较低，且准确率受限于主观因素影响，易造成误判。而现有的自动化的辅料瑕疵判定方法中，由于电子产品辅料种类繁多，不同的辅料产生的瑕疵不尽相同，会对图像识别造成不利影响，在进行辅料瑕疵判定时存在准确性较差的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种辅料检测方法、装置、电子设备及存储介质，以改善现有技术中存在的辅料瑕疵判定准确性较差的问题。本申请实施例提供了一种辅料检测方法，所述方法包括：基于待测图像中没有辅料的局部区域，对所述待测图像与模板图像进行特征匹配，获得特征图像；确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间；在所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辅料检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n基于待测图像中没有辅料的局部区域，对所述待测图像与模板图像进行特征匹配，获得特征图像；/n确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间；/n在所述辅料对应的特征映射空间中，确定所述辅料的瑕疵类型。/n

【技术特征摘要】
1.一种辅料检测方法，其特征在于，所述方法包括：
基于待测图像中没有辅料的局部区域，对所述待测图像与模板图像进行特征匹配，获得特征图像；
确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间；
在所述辅料对应的特征映射空间中，确定所述辅料的瑕疵类型。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待测图像中没有辅料的局部区域，对所述待测图像与模板图像进行特征匹配，获得特征图像，包括：
对所述待测图像和所述模板图像进行特征提取；
获取所述待测图像中没有辅料的局部区域以及所述模板图像中与所述没有辅料的局部区域的对应区域的匹配特征点；
基于所述匹配特征点将所述待测图像与所述模板图像进行对齐，将对齐后的特征提取图像作为所述特征图像。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间之前，所述方法还包括：
基于预先采集的多种辅料的数据，采用指定类型的网络进行特征学习并生成所述辅料对应的特征映射空间，所述指定类型的网络包括：ResNet50网络。


4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述确定所述特征图像中的辅料对应的特征映射空间，包括：
基于注意力机制确定所述特征图像中与所述辅料对应的相关区域；
将所述辅料对应的相关区域的嵌入空间作为所述辅料对应的所述特征映射空间。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述辅料的瑕疵类型，包括：
在所述辅料对应的特征映射空间中，提取所述辅料所处的局部区域的深度特征；
在所述深度特征与所述模板图像中对应区域的特征相似度大于或等于预设阈值时，确定所述辅料无瑕疵；
在所述深度特征与所述模板图像中对应区域的特征相似度小于所述预设阈值时，采用多种辅料瑕疵类型划分组...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤寅航，赵迪，
申请(专利权)人：创新奇智成都科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51