微小样品密度精确测量的方法技术

本发明专利技术涉及样品密度的高精确度测量方法，尤其涉及微小样品密度的高精确度的测量方法。一种微小样品密度精确测量的方法，包括有将待测样品与比浸没液体密度小的已知精确密度的金属丝连接；将样品和金属丝的联合体浸没于经精确标定密度的化合物液体中，其化合物液体的密度大于所述金属密度，而小于样品密度；通过逐步精确调整已知精确密度的金属丝的质量达到样品和金属丝联合体在化合物液体中呈现既不上升也不下降的悬浮状态；取出样品和金属丝联合体，将金属丝与样品分别精确称重。利用公式计算待测样品的密度。本发明专利技术的有益效果是该技术借助漂浮技术来测量样品密度，本发明专利技术所述方法最突出的特点是对毫克级的微小样品密度测量有相当高的精度，可以好于０．５％，而其他密度测量方法对于这样微小样品的测量难以达到这样的精度。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及样品密度的高精确度测量方法，尤其涉及微小样品密度的高精确度的测量方法。
技术介绍
在低温下重离子辐照的非晶态材料显现一种各向异性生长现象。为判明这种生长现象是否伴随密度的改变，必须进行密度的精确测量。因为辐照样品的尺寸一般约为5mm×1mm×10μm，重量约0.4mg，辐照后如有密度改变也是十分微小，难以探测。所以在密度测量中要求有特别高的精度。测量密度的常规方法是通过测量物体的质量和体积，然后两者相除，而获得该物体的密度。一般情况下，质量的测量可以达到很高的精度，但体积的测量却相当困难，特别是对微小的样品或形状不规则的样品，难以达到很高的精度，从而致使微小样品密度测量成为一个难题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种。它的特点是可以把质量小于0.5mg的微小样品的密度测量到好于5‰的精度。本专利技术的目的可以通过采用以下技术方案来实现一种，其主要特点包括有A.将待测样品与比浸没液体密度小的已知精确密度的金属丝连接。B.将样品和金属丝的联合体浸没于经精确标定密度的化合物液体中，其密度大于所述金属密度，样品密度大于化合物液体密度。C.通过逐步本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微小样品密度精确测量的方法，其特征包括有：Ａ．将待测样品与比浸没液体密度小的已知精确密度的金属丝连接。Ｂ．将样品和金属丝的联合体浸没于经精确标定密度的化合物液体中，其密度大于所述金属密度，样品密度大于化合物液体密度。 Ｃ．通过逐步精确调整已知精确密度的金属丝的质量达到样品和金属丝联合体在化合物液体中呈现既不上升也不下降的悬浮状态。Ｄ．取出样品和金属丝联合体，将金属丝与样品分别精确称重。Ｅ．利用下述公式计算待测样品的密度：Ｄ↓［ ｓ］＝Ｍ↓［ｓ］Ｄ↓［ｌ］Ｄ↓［Ａｌ］／［Ｍ↓［ｓ］Ｄ↓［Ａｌ］－（Ｄ↓...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：侯明东，
申请(专利权)人：中国科学院近代物理研究所，
类型：发明
国别省市：62[中国|甘肃]