【技术实现步骤摘要】
三维形状测量装置
本专利技术涉及三维形状测量装置,更详细而言,涉及一种测量基于测量对象物高度的三维形状的三维形状测量装置。
技术介绍
一般而言,在电子装置内至少具备一个印刷电路板(printedcircuitboard,PCB),在这种印刷电路板上,加装着多样形状的元件。为了检查这种元件的不良等,一般使用三维形状测量装置。以往的三维形状测量装置利用成像光学系统,向诸如印刷电路板的测量对象物照射光,利用照相机拍摄对此的反射图像。接着,利用拍摄的所述反射图像,测量基于测量对象物高度的三维形状。以往的成像光学系统可以由多样的构成实现。其中,成像光学系统可以采用光三角方式、立体方式等。所述光三角方式作为获得格子图案图像后,利用诸如漏桶算法(bucketalgorithm)的方法的方式而广泛应用。但是,该方式存在的问题是,可测量的高度受到生成图案图像的格子间距(pitch)限制。所述立体方式利用立体照相机。如同人的视觉将通过双眼输入的信息合成为距离信息而能够认知事物的远近一样,立体照相机也可以由两台照相 ...
【技术保护点】
1.一种三维形状测量装置,其中,包括:/n至少一个图案照明部,其朝向测量对象物照射格子图案光;/n多个拍摄部,其接受提供从所述图案照明部向所述测量对象物照射并被所述测量对象物反射的格子图案光的反射光,获得所述测量对象物的格子图案图像;及/n控制部,其选择性地应用第一方法、第二方法及第三方法,算出所述测量对象物的高度数据;/n其中,所述第一方法利用所述测量对象物的格子图案图像,算出所述测量对象物的高度数据;/n所述第二方法利用所述测量对象物的平面图像的成像位置及所述测量对象物的纹理信息,算出所述测量对象物的高度数据;/n所述第三方法将照射于所述测量对象物的格子图案用作所述纹理 ...
【技术特征摘要】
20150608 KR 10-2015-00802841.一种三维形状测量装置,其中,包括:
至少一个图案照明部,其朝向测量对象物照射格子图案光;
多个拍摄部,其接受提供从所述图案照明部向所述测量对象物照射并被所述测量对象物反射的格子图案光的反射光,获得所述测量对象物的格子图案图像;及
控制部,其选择性地应用第一方法、第二方法及第三方法,算出所述测量对象物的高度数据;
其中,所述第一方法利用所述测量对象物的格子图案图像,算出所述测量对象物的高度数据;
所述第二方法利用所述测量对象物的平面图像的成像位置及所述测量对象物的纹理信息,算出所述测量对象物的高度数据;
所述第三方法将照射于所述测量对象物的格子图案用作所述纹理信息,算出所述测量对象物的高度数据;
所述控制部通过所述第一方法、第二方法及第三方法,针对任意一个点计算出多个高度数据,并选择性地应用所述针对...
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