一种GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路技术

本发明专利技术涉及面板技术领域，特别涉及一种GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和时钟信号电连接，能够通过晶体管T10将输出信号引入到测试信号线，连接到测试Pad上，通过测量测试Pad上的信号，从而达到可以检测每一级GIP的输出信号效果，有效的解决了现有GIP技术中无法检测每一级GIP输出信号的情况，从而提高了监控和解决问题的能力。

【技术实现步骤摘要】
一种GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路
本专利技术涉及面板
，特别涉及一种GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路。
技术介绍
近几十年来，随着时代的进步和信息技术的发展，人们对电子消费产品的需求日益增加，这就促进了液晶显示行业的发展，并且随着时代的发展，电子类产品朝着轻、薄和省功耗的方向不断的发展；而在显示行业中，液晶显示占据着重要的地位，在液晶显示屏中每个像素具有一个TFT(即ThinFilmTransistor，薄膜场效应晶体管)，其栅极(Gate)连接至水平方向扫描线，源极(Drain)连接至垂直方向的资料线，而源极(Source)则连接至像素电极；若在水平方向的某一条扫描线上施加足够的正电压，会使得该条线上所有的TFT打开，此时该条线上的像素电极会与垂直方向的资料线连接，而将资料线上的视讯信号电压写入像素中，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果；在进行栅极电路的驱动是，目前主要有两种方法：一是面板外绑定IC芯片；另一就是通过GIP(GIPInPanel，即栅极做在玻璃基板上)技术来完成；但是，随着时代的发展，人们对面板显示高屏占比的要求越来越高，GIP技术已经是驱动栅极电路的主要方式；而GIP基本概念是将LCDPanel(即液晶面板)的栅极驱动器集成在玻璃基板上，来代替由外接硅晶片的一种技术，形成对面板的扫描驱动；该技术相比传统的COF和COG工艺，不仅节省成本，同时也可以省去栅极方向绑定的工艺，对提升产能极为有利，并提高TFT-LCD(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，薄膜晶体管液晶显示器)面板的集成度；所以，GIP技术减少了栅极驱动IC芯片的使用量，降低了功耗和成本，同时能够使减小显示面板的边框，实现窄边框的设计，是一种值得重视技术；但是由于GIP电路是靠级传进行驱动和关闭上下级电路的，在一般情况下，如果面板的某一级输出信号出现问题，我们难以通过测量方式确定哪一级的输出信号有问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种能够有效的监控每一级的输出信号的GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的第一种技术方案为：一种GIP电路，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，所述预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，所述输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和外设的时钟信号电连接，所述预充电路与扫描信号线Gn-4电连接，所述下拉电路与扫描信号线Gn+4电连接，所述扫描信号线Gn-4和扫描信号线Gn+4中的参数n均为大于或者等于4的正整数。本专利技术采用的第二种技术方案为：一种GIP电路的控制方法，包括以下步骤：步骤S1、在第一时间段，控制预充电路输入高电平；步骤S2、在第二时间段，控制输出电路输入高电平；步骤S3、在第三时间段，控制下拉电路输入高电平；所述第一时间段、第二时间段和第三时间段为依次连续的时间段。本专利技术采用的第三种技术方案为：一种GIP输出信号检测电路，包括两个以上的测试信号线，每个所述测试信号线上均电连接有两个以上的上述的GIP电路。本专利技术的有益效果在于：通过本方案设计的GIP电路，能够通过晶体管T10将输出信号引入到测试信号线，连接到测试Pad上，通过测量测试Pad上的信号，从而达到可以检测每一级GIP的输出信号效果，有效的解决了现有GIP技术中无法检测每一级GIP输出信号的情况，从而提高了监控和解决问题的能力。附图说明图1为根据本专利技术的一种GIP电路的电路连接框图；图2为根据本专利技术的一种GIP电路的电路原理图；图3为根据本专利技术的一种GIP电路的控制方法的步骤流程图；图4为根据本专利技术的一种GIP输出信号检测电路的电路连接框图；图5为根据本专利技术的一种GIP输出信号检测电路的电路模拟示意图；标号说明：1、预充电路；2、输出电路；3、下拉电路；4、测试信号线。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。请参照图1，本专利技术提供的一种技术方案：一种GIP电路，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，所述预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，所述输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和外设的时钟信号电连接，所述预充电路与扫描信号线Gn-4电连接，所述下拉电路与扫描信号线Gn+4电连接，所述扫描信号线Gn-4和扫描信号线Gn+4中的参数n均为大于或者等于4的正整数。从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：通过本方案设计的GIP电路，能够通过晶体管T10将GIP电路的输出信号引入到测试信号线，连接到测试Pad上，通过测量测试Pad上的信号，从而达到可以检测每一级GIP的输出信号效果，有效的解决了现有GIP技术中无法检测每一级GIP输出信号的情况，从而提高了监控和解决问题的能力。进一步的，所述预充电路包括晶体管T1，所述晶体管T1的栅极与扫描信号线Gn-4电连接，所述晶体管T1的源极分别与输出电路和下拉电路电连接。由上述描述可知，在预充阶段中，利用晶体管T1先对Q点进行充电。进一步的，所述输出电路包括晶体管T4和电容C1，所述晶体管T4的栅极分别与预充电路、下拉电路、晶体管T10的栅极和电容C1的一端电连接，所述晶体管T4的漏极与时钟信号电连接，所述晶体管T4的源极分别与电容C1的另一端、晶体管T10的源极和下拉电路电连接。由上述描述可知，通过晶体管T4对输出信号Gn进行输出，同时可晶体管T10和Q点的作用，将输出信号Gn通过晶体管T10导入到测试信号线上，有效的监控每一级的输出信号。进一步的，所述下拉电路包括晶体管T2、晶体管T3、晶体管T5、晶体管T7、晶体管T8和晶体管T9，所述晶体管T2的栅极分别与预充电路、晶体管T7的漏极、输出电路和晶体管T10的栅极电连接，所述晶体管T2的漏极分别与晶体管T3的栅极、晶体管T8的漏极、晶体管T9的漏极和晶体管T5的栅极电连接，所述晶体管T2的源极分别与晶体管T3的源极、晶体管T9的源极和晶体管T5的源极电连接，所述晶体管T8的栅极与晶体管T8的源极电连接，所述晶体管T5的漏极分别与输出电路和晶体管T10的源极电连接。由上述描述可知，通过下拉电路中的晶体管对Q点和输出信号Gn进行下拉，下拉完成后，继续依靠下拉电路中的晶体管对Q点和输出信号Gn进行下拉稳定；通过晶体管T10将GIP的输出信号进行拉出测试，通过Q点的倍压作用，能够在不引入其它更多信号线的情况，有效的检测每一级的输出信号。进一步的，所述晶体管T10为薄膜晶体管。进一步的，所述GIP电路的晶体管T10的漏极与外设的测试信号线电连接。请参照图3，本专利技术提供的第二种技术方案：一种GIP电路的控制方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种GIP电路，其特征在于，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，所述预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，所述输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和外设的时钟信号电连接，所述预充电路与扫描信号线G

【技术特征摘要】
1.一种GIP电路，其特征在于，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，所述预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，所述输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和外设的时钟信号电连接，所述预充电路与扫描信号线Gn-4电连接，所述下拉电路与扫描信号线Gn+4电连接，所述扫描信号线Gn-4和扫描信号线Gn+4中的参数n均为大于或者等于4的正整数。


2.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述预充电路包括晶体管T1，所述晶体管T1的栅极与扫描信号线Gn-4电连接，所述晶体管T1的源极分别与输出电路和下拉电路电连接。


3.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述输出电路包括晶体管T4和电容C1，所述晶体管T4的栅极分别与预充电路、下拉电路、晶体管T10的栅极和电容C1的一端电连接，所述晶体管T4的漏极与时钟信号电连接，所述晶体管T4的源极分别与电容C1的另一端、晶体管T10的源极和下拉电路电连接。


4.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述晶体管T2、晶体管T3、晶体管T5、晶体管T7、晶体管T8和晶体管T9，所述晶体管T2的栅极分别与预充电路、晶体管T7的漏极、输出电路和晶体管T10的栅极电连接，所述晶体管T2的漏极分别与晶体管T3的栅极、晶体管T8...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振东，刘汉龙，阮桑桑，郑聪秀，
申请(专利权)人：福建华佳彩有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35