一种光模块的高低温测试系统技术方案

本发明专利技术涉及光通讯模块高低温测试技术领域，提供了一种光模块的高低温测试系统，包括基座、供待测光模块安置的产品待测区、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的驱动机构，产品待测区设于所述基座上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区以将所述待测光模块封闭在所述基座上的罩体，所述罩体具有连接外部温度控制器的气出口。本发明专利技术测试组件的运动位置相对测试板和光模块固定，无需人工进行对位，不存在位置偏差风险，降低生产风险，而且机械式的运动，也提高了工作效率；气体导流块的设计，将冷热气体直接导向待测光模块，可以有效提高待测模块升降温的速率，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块的高低温测试系统
本专利技术涉及光通讯模块高低温测试
，具体为一种光模块的高低温测试系统。
技术介绍
光通讯模块高低温测试中需要不断从测试夹具里面取、放模块，而这个过程需要先将温度控制部件移开。传统的移开温度控制部件的方法为人工手动搬移或者将温度控制部件以悬臂的方式进行上下移动。但是以上两种方式都存在一定的缺陷。其中，人工搬移的方法，增加人工的工作量，使员工易疲劳，存在误撞产品和夹具的风险；同时效率低下；悬臂的方式一方面会增加设备的成本和体积，另一方面需要员工自主对准位置后，操作温度控制部件下降，无法对没有对准位置的情况进行防呆处理，存在一定的生产风险。另外，现有测试过程中，多是将模块放在一个测试区域空间内，对该空间整体进行降温或升温，必须要时整个空间都达到设定温度时，才可以保证模块得到有效的升温和降温，效率低且浪费了能源。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光模块的高低温测试系统，至少可以解决现有技术中的部分缺陷。为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：一种光模块的高低温测试系统，包括基座，还包括供待测光模块安置的产品待测区、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的驱动机构，所述产品待测区设于所述基座上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区以将所述待测光模块封闭在所述基座上的罩体，所述罩体具有连接外部温度控制器的气出口。进一步，所述罩体内设有气体导流块，所述气体导流块内具有出口对着所述待测光模块的气流通道，所述气流通道的入口与所述气出口连通。进一步，所述产品待测区为可供所述罩体嵌入的凹槽，所述凹槽开设在所述基座上。进一步，所述驱动机构包括可驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的气缸，所述气缸安设在所述基座上。进一步，所述气缸有两个，且两个所述气缸均竖直安装在所述基座上，每一所述气缸的驱动端均沿竖直方向移动，两个所述气缸的驱动端均与所述罩体连接。进一步，所述驱动机构还包括横置的固定板，所述固定板的一相对侧分别安装在两个所述气缸的驱动端上，所述罩体安装在所述固定板朝向所述产品待测区的面上。进一步，所述驱动机构还包括用于调节所述气缸的运动速度的调速阀。进一步，所述基座上设有走线槽和/或穿线孔。进一步，未罩盖所述产品待测区的所述罩体通过所述驱动机构悬设于所述产品待测区的正上方。进一步，所述罩体的外表面敷设有保温层。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：1、测试组件的运动位置相对测试板和光模块固定，无需人工进行对位，不存在位置偏差风险，降低生产风险，而且机械式的运动，也提高了工作效率。2、气体导流块的设计，将冷热气体直接导向待测光模块，可以有效提高待测模块升降温的速率，提高测试效率，相比将整个测试区域空间温度降低从而使模块达到测试温度，导流后模块温度能够更快的降到设定测试温度。3、本系统可以替代现有的涡流管温度控制器/热流仪悬臂结构，降低设备成本。附图说明图1为本专利技术实施例提供的一种光模块的高低温测试系统的立体图；图2为本专利技术实施例提供的一种光模块的高低温测试系统的后视图；图3为本专利技术实施例提供的一种光模块的高低温测试系统的局部剖面图；附图标记中：1-基座；10-产品待测区；11-凹槽；12-走线槽；13-穿线孔；20-罩体；21-气出口；22-气体导流块；23-气流通道；24-保温层；30-气缸；31-固定板；32-调速阀；4-按钮。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1、图2和图3，本专利技术实施例提供一种光模块的高低温测试系统，包括基座1、供待测光模块安置的产品待测区10、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区10的驱动机构，所述产品待测区10设于所述基座1上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区10以将所述待测光模块封闭在所述基座1上的罩体20，所述罩体20具有连接外部温度控制器的气出口21。在本实施例中，基座1设于最下层，其他部件均在该基座1的上表面布设且工作，使得这个系统结构紧凑，不会占用过多的空间。首先，在基座1上规划出一产品待测区10，该部分可以供待测光模块安置，然后再设测试组件来提供高低测试温度，以对待测光模块进行高低温测试，而设此驱动机构可以驱使测试组件靠近或远离产品待测区10，以替代现有人工手动搬移或将测试组件以悬臂的方式来驱使测试组件的移动，由于只有靠近或远离两个动作，可以按照既有线路进行移动，无需人工每次都进行对位，不存在位置偏差风险，降低生产风险，而且机械式的运动，也提高了工作效率，而且也降低了成本。另外，测试组件包括的罩体20能够配合基座1在罩盖下后对待测光模块实现密封，以通过气出口21输送热气或冷气时防止泄漏，加快了测试效率，而且通过驱动机构的动作可以使罩体20远离产品待测区10，可以快速地释放掉热气或冷气，以加快进入下一轮测试的速度。外部温度控制器是常规设备，此处就不再详述其具体结构以及工作原理。作为本专利技术实施例的优化方案，请参阅图3，所述罩体20内设有气体导流块22，所述气体导流块22内具有出口对着所述待测光模块的气流通道23，所述气流通道23的入口与所述气出口21连通。在本实施例中，通过设在罩体20内的气体导流块22，可以将冷热气体直接导向待测光模块，可以有效提高待测模块升降温的速率，提高测试效率，相比将整个测试区域空间温度降低从而使模块达到测试温度，导流后模块温度能够更快的降到设定测试温度。具体地，该气体导流块22可以与罩体20一体成型，也可以装设在罩体20内，它具有一个气流通道23，该气流通道23的入口与气出口21连通，出口直接作用在待测光模块上，这样就可以直接将冷热气体导送至待测光模块，不用再先对整个测试区域空间进行降温或升温后才作用到待测光模块上，不仅提高了效率而且还节省了能源。作为本专利技术实施例的优化方案，请参阅图1，所述产品待测区10为可供所述罩体20嵌入的凹槽11，所述凹槽11开设在所述基座1上。在本实施例中，在基座1上开设凹槽11，该凹槽11与罩体20的尺寸一致，或者优选的该罩体20的尺寸略大于凹槽11，这样当罩体20嵌入凹槽11后可以使罩体20的外壁贴紧凹槽11的内壁，进而起到更好的密封效果。优选的，该罩体20和该凹槽11均为圆形，可以在有限的范围内提供最大的测试面积。作为本专利技术实施例的优化方案，请参阅图1和图3，所述驱动机构包括可驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区10的气缸30，所述气缸30安设在所述基座1上。在本实施例中，驱动的方式是采用气缸30，优选的，所述气缸30有两个，且两个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块的高低温测试系统，包括基座，其特征在于：还包括供待测光模块安置的产品待测区、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的驱动机构，所述产品待测区设于所述基座上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区以将所述待测光模块封闭在所述基座上的罩体，所述罩体具有连接外部温度控制器的气出口。/n

【技术特征摘要】
1.一种光模块的高低温测试系统，包括基座，其特征在于：还包括供待测光模块安置的产品待测区、用于为所述待测光模块提供高低测试温度的测试组件以及用于驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的驱动机构，所述产品待测区设于所述基座上，所述测试组件具有用于罩盖所述产品待测区以将所述待测光模块封闭在所述基座上的罩体，所述罩体具有连接外部温度控制器的气出口。


2.如权利要求1所述的一种光模块的高低温测试系统，其特征在于：所述罩体内设有气体导流块，所述气体导流块内具有出口对着所述待测光模块的气流通道，所述气流通道的入口与所述气出口连通。


3.如权利要求1所述的一种光模块的高低温测试系统，其特征在于：所述产品待测区为可供所述罩体嵌入的凹槽，所述凹槽开设在所述基座上。


4.如权利要求1所述的一种光模块的高低温测试系统，其特征在于：所述驱动机构包括可驱使所述测试组件靠近或远离所述产品待测区的气缸，所述气缸安设在所述基座上。


5.如权利要求4所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈绍望，鲁小义，马威，
申请(专利权)人：武汉华工正源光子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42