【技术实现步骤摘要】
物料测量装置及物料测量系统
本公开涉及一种物料测量装置及物料测量系统。
技术介绍
固体物料仓储的物料体积测量一直以来是一个难点，主要原因在于物料会因为进料堆砌成山峰型或者因为出料堆砌成漏斗形。对于多个进出料点的料仓会出现多个山峰和漏斗形。传统方式只能够测量单点或很少点的物位信息。单点测量完全不能满足需要。而多点测量，目前的方式通常通过三个到四个天线对物料形状进行测量，但是仍然不能满足需求。通常的方式是采用喇叭天线，但是喇叭天线体积较大，在开口尺寸受限的情况下，将在数量上受到限制，因此通常仅为三个或四个喇叭天线。而且在现有的设计中，每增加一个波束，将会造成单个波束的增益下降，这样将会影响测量效果。另外，在环境比较复杂的测量环境下，现有技术中天线数量较少且信号较弱，很难适应测量环境，例如很难穿过固体灰尘等。对于液体的液位测量也存在物料表面不是平面的时候，比较常见的是液体因为搅拌而形成漩涡，此时同样存在上述的问题。另外，现有技术中对测量干扰物的排除效果也并不理想。
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种物料测量装置，其特征在于，包括：/n多个微带天线，形成多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及/n微波透镜，所述多个微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同，并且所述微波透镜会聚所述微波反射波束，以便所述接收天线接收会聚后的微波反射波束。/n
【技术特征摘要】
1.一种物料测量装置，其特征在于，包括：
多个微带天线，形成多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及
微波透镜，所述多个微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同，并且所述微波透镜会聚所述微波反射波束，以便所述接收天线接收会聚后的微波反射波束。
2.如权利要求1所述的物料测量装置，其特征在于，所述多个微带天线设置在所述微波透镜的焦面上。
3.如权利要求1或2所述的物料测量装置，其特征在于，
所述多个微带天线位于一个参考平面中或附近，所述一个参考平面与所述微波透镜的轴线平行和/或穿过所述轴线，位于所述一个参考平面中或附近的多个微带天线布置成直线或曲线形状或者接近直线或曲线形状；或者
所述多个微带天线位于两个以上参考平面中或附近，所述两个以上参考平面分别与所述微波透镜的轴线平行和/或穿过所述轴线，分别位于两个以上参考平面的每个参考平面中或附近的多个微带天线分别布置成直线或曲线形状或者接近直线或曲线形状。
4.一种物料测量装置，其特征在于，包括：
一个或多个微带天线，形成一个或多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及
微波透镜，所述微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同，并且所述微波透镜会聚所述微波反射波束，以便所述接收天线接收会聚后的微波反射波束，
其中，所述一个或多个微带天线为可移动微带天线，通过移动的所述微带天线，来对所述物料进行测量。
5.如权利要求4所述的物料测量装置，其特征在于，所述微带天线设置在所述微波透镜的焦面上且在所述焦面上移动。
6.如权利要求4或5所述的物料测量装置，其特征在于，
在所述微带天线在一个参考平面中或附近进行移...
【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，夏阳，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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