测量设备与物理特性测量装置制造方法及图纸

技术编号:25798840 阅读:97 留言:0更新日期:2020-09-29 18:32
一种测量设备与物理特性测量装置。测量设备包括至少一第一物理特性测量装置以及数据处理装置。第一物理特性测量装置包括感测器、信号处理电路以及传递路径。感测器依据第一物理特性测量装置所在位置的物理特性产生测量信号。信号处理电路将测量信号转换为第一经处理信号。传递路径能够与第二物理特性测量装置相互电性连接。传递路径将第二物理特性测量装置的第二经处理信号传递给数据处理装置,以回应第一物理特性测量装置与第二物理特性测量装置相互电性连接。

【技术实现步骤摘要】
测量设备与物理特性测量装置
本专利技术涉及一种物理特性测量技术,且特别涉及一种测量设备与物理特性测量装置。
技术介绍
在针对生物材料或非生物材料的物理特性检测技术中,经常使用多孔盘乘载这些材料,并利用测量装置或记录器来逐一测量多孔盘中每个孔洞对应的材料当前的物理特性变化。这种物理特性变化例如是温度、湿度…等数值的变化。然而,当需要同时测量多个孔洞中材料的物理特性变化时,便需要对应的多个测量装置(如,多个温度线)同时测量,在进行相关实验的建置及步骤流程上十分繁琐且耗时。因此,在使用多孔盘乘载材料的情况下,如何利用适当的物理特性测量装置以妥善地对所需的孔洞中材料进行物理特性测量,从而加速检测的过程,便是检测技术中的问题之一。
技术实现思路
本专利技术提供一种测量设备及物理特性测量装置,其以模块化设计物理特性测量装置,让使用者可依据其需求(如,希望在多孔盘中测量特定孔洞的内容物)以方便且容易地使用的方式来设置物理特性测量装置,从而在所述特定孔洞中测量到所需的物理特定数值。本公开的测量设备包括至少一第一物理特性测量装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量设备,包括:/n至少一第一物理特性测量装置,包括:/n感测器,用以依据所述至少一第一物理特性测量装置所在位置的物理特性产生测量信号;/n信号处理电路,耦接所述感测器,用以将所述测量信号转换为第一经处理信号;以及/n传递路径,能够与至少一第二物理特性测量装置相互电性连接,数据处理装置,用以接收并处理所述第一经处理信号,/n其中,所述传递路径将所述至少一第二物理特性测量装置的第二经处理信号传递给所述数据处理装置,以回应所述至少一第一物理特性测量装置与所述至少一第二物理特性测量装置相互电性连接,其中所述数据处理装置接收并处理所述第二经处理信号。/n

【技术特征摘要】
20190319 TW 1081093221.一种测量设备,包括:
至少一第一物理特性测量装置,包括:
感测器,用以依据所述至少一第一物理特性测量装置所在位置的物理特性产生测量信号;
信号处理电路,耦接所述感测器,用以将所述测量信号转换为第一经处理信号;以及
传递路径,能够与至少一第二物理特性测量装置相互电性连接,数据处理装置,用以接收并处理所述第一经处理信号,
其中,所述传递路径将所述至少一第二物理特性测量装置的第二经处理信号传递给所述数据处理装置,以回应所述至少一第一物理特性测量装置与所述至少一第二物理特性测量装置相互电性连接,其中所述数据处理装置接收并处理所述第二经处理信号。


2.如权利要求1所述的测量设备,还包括:
至少一传递装置,其中所述至少一第一物理特性测量装置通过所述至少一传递装置将所述第一经处理信号传递给所述数据处理装置,并且,
所述第二经处理信号通过所述至少一第一物理特性测量装置的所述传递路径以及所述至少一传递装置以传递给所述数据处理装置,以回应所述至少一第一物理特性测量装置与所述至少一第二物理特性测量装置相互电性连接。


3.如权利要求2所述的测量设备,其中所述至少一传递装置还包括电源连接路径,用以将所述数据处理装置所提供的电力传递给所述至少一第一物理特性测量装置。


4.如权利要求3所述的测量设备,其中所述至少一第一物理特性测量装置还包括电源连接点,用以从所述数据处理装置获得电力。


5.如权利要求1所述的测量设备,其中所述数据处理装置包括:
模拟数字转换器,耦接所述至少一第一物理特性测量装置,用以将模拟式的所述第一经处理信号转换为数字式的所述第一经处理信号,并且还将模拟式的所述第二经处理信号转换为数字式的所述第二经处理信号,以回应所述至少...

【专利技术属性】
技术研发人员:林庭瑜
申请(专利权)人:纬创资通股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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