具有两个不同地工作的测量装置的颜色测量设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于对承印物（３）进行颜色测量的设备。本发明专利技术的特征在于：该用于对承印物（３）进行颜色测量的设备具有两个以不同分辨率工作的用于检测承印物（３）的表面的测量装置（９，１０，１１）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于对承印物进行颜色测量的设备，该设备具有 两个测量装置。
技术介绍
为了控制印刷过程中的结果，需要或者以规则的距离或者持续地 检验生产的印刷品的质量。这一方面可通过印刷机操作者本身的视觉 检验来进行，但这在任何情况下都需要从印刷机中取出承印物。此外， 在这种情况下总是印刷品的主观印象起作用。为了客观地测量承印 物，需要使用颜色测量仪器，这种颜色测量仪器传感地检测印刷图像 并且因此允许印刷图像与印刷原稿进行计算比较。这种颜色测量装置已由EP 1 154 260 A2公开。该专利申请说明了 一种用于对承印物上的印刷图像进行光学密度测量的探测方法，其 中，承印物通过传感器来探测。在此对承印物进行密度测量。为了起 动承印物的测量，以相对于待测量的颜色测量条确定的距离在承印物 上存在一些位置标记作为参考对象。为了检测参考对象设置有另一个 测量头，该测量头相对于实施颜色测量的其余测量头设置在后面。该 测量头用于检测参考标记并且由此触发其余测量头的测量过程。关于 该附加的测量头的结构方式的类型在EP 1 154 260 A2中未陈述。由EP 357 986 A2公开了另一种用于颜色测量的设备。为此，一 个三色同时测量头用于密度测量并且另一个三色同时测量头用于色 度测量。作为替换方案，也可使用一个公用的同时测量头，该公用的同时测量头包括六个光电子转换器，在这些光电子转换器的光路中设 置有三个用于密度测量的滤色器和三个另外的用于色度测量的滤色 器。在第一实施形式中，其中一个测量头被设计用于油墨密度测量， 并且其中另一个测量头被设计用于色度测量。但是在它们的结构方面，根据EP357 986A2的测量头在很大程度上相同。所述现有技术具有缺点所使用的测量头在颜色测量中虽然进行 非常精确的色度测量或者密度测量，但是该测量过程需要相对多的时 间，因为仅逐点地实施颜色测量并且必须测量非常多的点。
技术实现思路
本专利技术的任务在于，提供一种颜色测量设备，该颜色测量设备可 较快速地检测承印物上的颜色测量值并且因此加速测量过程。根据本专利技术，提出了一种用于对承印物进行颜色测量的设备，其 中，该用于对承印物进行颜色测量的设备具有两个以不同分辨率工作 的用于检测承印物的表面的测量装置。根据本专利技术，当前任务通过本专利技术的用于对承印物进行颜色测量 的设备来解决。本专利技术的有利构型从下述技术方案和附图中得到。根 据本专利技术，用于对承印物进行颜色测量的设备具有两个不同的测量装 置。与现有技术不同，这些测量装置根据本专利技术以不同的几何分辨率 和/或光学分辨率即颜色分辨率来工作，这使得通过一个第一测量装置 首先实施粗测量，并且可较快速地检测到承印物中的可能引人注目的 部位，而颜色测量通过第二测量装置非常精确地实施。通过两个不同 地工作的测量装置可实现首先检测承印物的一个较大的区域并且然后通过一个进行精确测量的第二测量装置对关键性部位进行颜色测 量。这提高了根据本专利技术的颜色测量装置的工作速度并且因此导致较 快速的颜色测量过程。这尤其是在在线颜色测量装置中使用时是必需的，这种在线颜色测量装置在巻筒纸轮转印刷机中并且越来越多地也 在单张纸印刷机中使用。在这种颜色测量装置中，承印物仍在印刷机 中被测量，这导致相应频繁的测量过程，其中，由于印刷速度高，很 少的时间可供测量过程使用。但是不言而喻，根据本专利技术的设备也可 在分开的测量台中使用，承印物在印刷过程之后搁置在这种测量台 上。也可在手动测量仪器中使用。在本专利技术的一个第一构型中提出，这些不同的测量装置组合在一 个测量头中。这种结构需要很少的结构空间并且因此允许例如在在线 颜色测量仪器或者台式测量仪器中的一个测量横梁中使用多个测量 头。于是在这两个测量装置中存在一个具有多个测量头的测量横梁， 该测量横梁以其多个测量头可同时探测承印物的表面。这导致测量速 度进一步提高。被证实特别有利的是， 一个测量装置同时检测承印物的表面上的 多个像素。通过同时检测承印物的表面上的多个像素，允许同时检测 多个测量点并且因此加速了测量过程。特别适用于此的是呈具有约200pdi或者更好的几何分辨率的扫描装置的形式的光学测量装置。该 扫描装置具有多个照射源和多个探测器，以便可同时检测多个像素。 附加地可以以较小的速度测量承印物上的确定的图像区域并且以高 的速度测量其它区域。在平行测量承印物中的多个像素时也可同时在 承印物上检测多个光谱区域。扫描测量装置在此应首先作非偏振测 里0此外，以有利的方式提出， 一个第二测量装置对承印物的表面进 行色度测量。根据本专利技术，该第二测量装置构造成光谱测量头，该光 谱测量头具有相对小的几何分辨率，但为此具有高的光谱的颜色分辨 率。通过该光谱测量头尤其可以以高的光谱分辨率精确地测量测试元 素如承印物上的颜色测量条。因为这里存在处于约15dpi的范围中的较粗的几何分辨率，所以也可使用一个偏振光学系统，而测量持续时 间没有明显延长。本专利技术的一个构型被证实是特别有利的，在该构型中，借助于一 个计算机进行第一测量装置的测量值与第二测量装置的测量值之间 的平衡。因为第一测量装置的颜色测量值不太精确，戶万以可借助于进 行非常精确的色度测量的第二颜色测量装置使第一扫描测量装置在 其精度方面得到改善，其方式是借助于一个计算机在该测量装置中进 行测量值的平衡。这种平衡例如这样来进行承印物上的相同的颜色 测量元素或者承印物上的相同的像素通过两个测量装置来检测。以此 方式也可检定这两个不同地工作的测量装置。此外，在偏振光学系统 使用在第二测量装置中时可换算第一测量装置的非偏振的测量值，因 为承印物一次通过第一测量装置不偏振地并且一次通过第二测量装 置偏振地来检测。为了不降低测量速度，该平衡仅在确定的很少的参 考区域中实施，这些参考区域依次由两个测量装置测量。由此，尽管 进行两个测量装置的平衡，但可快速地检测承印物。这尤其是当所检 测的颜色测量值立即传输给一个用于控制印刷机中的输墨装置的调 节装置以便调节承印物上相对于印刷原稿的可能的确定出的偏差时 是重要的。在这种情况下，调节回路通过颜色测量装置闭合，这允许 对颜色测量值作出相应精确的反应。另外有利的是，该设备具有一个或多个用于对承印物的表面进行 照射的光源。为了对承印物实施精确的颜色测量，必须在确定的光源 的情况下测量承印物，该光源具有恒定的光谱。通过使用多个光源可 实现同时测量承印物上的多个像素。在此优选使用半导体光源，这些 半导体光源照射第一测量装置和第二测量装置的区域。半导体光源与 传统的灯相比具有使用寿命非常长的重要优点。本专利技术的一个构型的特征在于，第一测量装置是一个预告传感器，该预告传感器在该测量设备的移动路径的方向上设置在第二测量 装置的前面。本专利技术的该实施形式或者可作为替换方案或者可附加于 上面描述的实施形式来实现。在附加使用的情况下，预告传感器则是 一个第三测量装置，该第三测量装置补充扫描测量装置和进行光谱测 量的第二测量装置。预告传感器这样设置，使得该预告传感器在进行 光谱测量的颜色测量装置之前探测承印物的表面。该预告传感器不是 光谱地工作并且这样构造，使得该预告传感器对于检测亮度差具有细 的几何分辨率。通过所述不同的结构方式，预告传感器突出地本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于对承印物（３）进行颜色测量的设备，其特征在于：该用于对承印物（３）进行颜色测量的设备具有两个以不同分辨率工作的用于检测承印物（３）的表面的测量装置（９，１０，１１）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：H恩格勒，W胡贝尔，M施奈德，
申请(专利权)人：海德堡印刷机械股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]