一种受电弓磨耗趋势分析仪制造技术

本实用新型专利技术涉及受电弓厚度测量技术领域，提供了一种受电弓磨耗趋势分析仪，包括：固定框架，用于固定于受电弓上；移动框架，滑动设置于固定框架上且可沿着受电弓的长度方向移动；第一位移测量元件，可移动地设置于移动框架上；第二位移测量元件，可移动地设置于移动框架上；以及弹性件，连接于第一位移测量元件和第二位移测量元件之间；第一位移测量元件和第二位移测量元件相对设置，分别抵接于受电弓的相对两侧面；本实用新型专利技术提供的受电弓磨耗趋势分析仪具有测量结果准确及无延时的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种受电弓磨耗趋势分析仪
本技术涉及厚度测量装置
，更具体地说，是涉及一种受电弓磨耗趋势分析仪。
技术介绍
列车使用的受电弓在长时间与高压线接触的过程中会产生磨损，而受电弓各个部位的磨损情况不一致，因此需要专门的厚度测量仪对受电弓进行厚度测量，但是现有的厚度测量仪多数采用激光位移传感器来进行测量受电弓的厚度，无论是重复精度和绝对精度均达不到要求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种受电弓磨耗趋势分析仪，以解决现有技术中存在的受电弓厚度测量不准确的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是一种受电弓磨耗趋势分析仪，包括：固定框架，用于固定于受电弓上；移动框架，设置于所述固定框架上且可沿所述受电弓的长度方向移动；第一位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；第二位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；以及弹性件，连接于所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件之间；所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件相对设置，分别抵接于所述受电弓的相对侧面以夹持所述受电弓。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，包括：/n固定框架，用于固定于受电弓上；/n移动框架，设置于所述固定框架上且可沿所述受电弓的长度方向移动；/n第一位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；/n第二位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；以及/n弹性件，连接于所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件之间；/n所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件相对设置，分别抵接于所述受电弓的相对侧面以夹持所述受电弓。/n

【技术特征摘要】
1.一种受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，包括：
固定框架，用于固定于受电弓上；
移动框架，设置于所述固定框架上且可沿所述受电弓的长度方向移动；
第一位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；
第二位移测量元件，可移动地设置于所述移动框架上；以及
弹性件，连接于所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件之间；
所述第一位移测量元件和所述第二位移测量元件相对设置，分别抵接于所述受电弓的相对侧面以夹持所述受电弓。


2.如权利要求1所述的受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，所述第一位移测量元件的与所述第二位移测量元件相对的一端设置有第一抵接件，所述第二位移测量元件的与所述第一位移测量元件相对的一端设置有第二抵接件，所述第一抵接件和所述第二抵接件分别抵接于所述受电弓的相对两侧面上。


3.如权利要求2所述的受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，所述第一抵接件和所述第二抵接件的移动方向垂直于所述移动框架的移动方向，并且所述第一抵接件和所述第二抵接件的移动方向平行于所述移动框架的长度方向。


4.如权利要求3所述的受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，所述弹性件的弹力方向平行于所述第一抵接件和所述第二抵接件的移动方向。


5.如权利要求4所述的受电弓磨耗趋势分析仪，其特征在于，所述第一抵接件为第一滚轮，所述第二抵接件为第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆凯，温明亮，喻智霞，王穗生，韩振兴，
申请(专利权)人：深圳信通环球科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44