一种镶件检测装置，包括支架、导块与检测销；支架开设有通孔；导块装设于支架上并位于通孔的一端，导块与电源的一极电性相连；检测销活动穿设于支架的通孔内，并与电源的另一极电性相连，检测销包括检测部及接触部，检测部用于与镶件相抵接触，并在镶件的抵压力作用下移动检测销使接触部与导块相接触以接通检测回路。该镶件检测装置在检测时并利用镶件对检测销进行抵顶，使得与电源两极相连的两个电极由于检测销与导块的接触而形成回路，得到检测电流后即可判断镶件孔中镶有镶件。使用该镶件检测装置，无须通过人工进行肉眼观察并主观判断，可以有效避免检测人员的主观条件所带来的误检、漏检等情况。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种工件的检测装置，特别涉及一种可以进行自动检测的镶件检测装置。
技术介绍
各种工件之间经常采用镶接铆钉的方法进行连接，然而在生产过程中，经常会出现漏镶 铆钉的情况。漏镶铆钉会使得工件的接触和连接不能达到预定的强度要求，因此，在生产时 要求对所镶接的铆钉进行检测，以防发生漏铆现象。漏铆检测一般由人工进行，不仅耗时耗力，检测效率低下，而且这种检测方式还依赖于 检测人员的主观条件，容易发生误检、漏检等情况。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种可以自动进行检测的镶件检测装置。一种镶件检测装置，包括支架、导块与检测销；所述支架开设有通孔；所述导块装设于 所述支架上并位于所述通孔的一端，所述导块与电源的一极电性相连；所述检测销活动穿设 于所述支架的通孔内，并与所述电源的另一极电性相连，所述检测销包括检测部及接触部， 所述检测部用于与镶件相抵接触，并在所述镶件的抵压力作用下移动所述检测销使所述接触 部与所述导块相接触以接通检测回路。一种镶件检测装置，包括导块与检测销；所述导块与电源的一极电性相连，所述导块开 设有通孔；所述检测销包括相连的连接部与接触部，所述连接部穿过所述通孔，且与所述电 源的另一极电性相连，所述接触部的外径大于所述连接部的外径，其与所述连接部相连一侧 的端面可在镶件的抵压力作用下移动到与所述导块相接触以接通检测回路。上述镶件检测装置在检测时并利用镶件对检测销进行抵顶，从而使得与电源两极相连的 两个电极由于检测销与导块的接触而形成回路，得到检测电流后即可判断镶件孔中镶有镶件 。使用该镶件检测装置，无须通过人工进行肉眼观察并主观判断，可以有效避免检测人员的 主观条件所带来的误检、漏检等情况。附图说明图l为本专利技术镶件检测装置的较佳实施方式的剖面图。图2为本专利技术镶件检测装置的较佳实施方式在进行镶件检测时与镶件接触的剖面图。 图3为本专利技术镶件检测装置的较佳实施方式在进行镶件检测时形成检测回路的结构剖面图。图4为本专利技术镶件检测装置的较佳实施方式在进行镶件检测时未检测到镶件的剖面图。 具体实施例方式如图1所示，本专利技术镶件检测装置的较佳实施方式包括支架12，第一电极14、导块16、 检测销18、固定件20、第一弹簧22、第二电极24及第二弹簧26等，第一弹簧22和第二弹簧 26也可为其他弹性元件，如弹性垫圈等。支架12由电绝缘材料制成，其开设有通孔122。通孔122包括同轴的小径部分和大径部分第一 电极l 4包括相互连接的头部142和直径较头部142的直径小的杆部144 。 导块16为电导体材料制成，其包括基座162和设于基座162的呈台状的固定部164。导块16在其中间位置开设有贯穿基座162和固定部164的通孔166。基座162于靠近两端处分别开设穿孔(图未标号)。检测销18为电导体材料制成，其包括依次相连并同轴设置的连接部182、接触部184、支 撑部186及检测部188。连接部182的外径小于导块16的通孔166的内径。接触部184的外径大 于该通孔l66的内径。支撑部186的外径大于接触部184的外径。固定件20由绝缘材料制成，其结构与导块16的结构相似，包括基座202和设于基座202上 的呈台状的固定部204。固定件20开设有贯穿基座202和固定部204的导引孔206。支架12与动力装置(图未示)相连，该动力装置用于驱动支架12并带动装设于支架12上 的导块16、检测销18、固定件20等部件移动，以使该镶件检测装置对准待检测工件进行检测 、或检测完成后离开待检测工件。该动力装置可以是具有固定冲程的气缸。第一电极14的头部142与电源的一极相连，杆部144穿过导块16的基座162的穿孔，并固 定于支架12。第一弹簧22套设于第一电极14的杆部144，其两端分别抵于头部142和导块16。 该第 一 电极14可以是对称地嵌设于支架12两侧的 一对电极。导块16的基座162装设于支架12的一侧，其固定部164伸入到支架12的通孔122中，并位 于该通孔122的小径部分中，且固定部164的外径与通孔122的小径部分的内径相当。第一弹 簧22的张力使得导块16被压制于支架12上。检测销18与第二电极24电性相连，第二电极24位于连接部182上并连接于电源的另一极 。检测销18大部分位于支架12的通孔122中。检测销18的连接部182和接触部184的外径小于 通孔l22的小径部分的内径，从而连接部182和接触部184的与连接部182相连的一部分可以位于通槽122的小径部分。检测销18的支撑部186的外径小于大径部分的内径、且大于小径部分 的内径，从而支撑部186、接触部184的与支撑部186相连的另一部分可以位于通槽l22的大径 部分。通孔122在小径部分和大径部分相交处形成台阶面，第二弹簧26套设于检测销18的接触 部184，其两端分别与该台阶面及支撑部186相抵接。固定件20的基座202固定于支架12的另一侧，并与支架12相贴合。固定部204伸入到支架 12所开设的通孔122的大径部分。由于第二复位弹簧26的张力作用施加于检测销18的支撑部 186上，使得支撑部186与固定件20的固定部204的端部相抵接，从而，检测销18被固定于支 架12的通孔122中。检测销18的检测部188穿过固定件20的导引孔206 。从而，检测销18被限定在由该导引孔 206限定的方向上运动。由于弹簧26的张力，在常态下，检测销18的接触部184与导块16的端面不接触，且连接 部182的外径小于导块16的通孔166的内径，因而，在常态下，分别连接到电源两极的检测销 18与导块16相互之间不接触。如图1所示，待测工件30上开设有镶件孔302，镶件孔302内镶有镶件32。检测销18的检 测部188端部的外径小于镶件孔302的内径而大于镶件32的通孔322的内径。请继续参考图2，进行检测时，动力装置驱动支架12并带动检测销18移动，使得检测销 18的检测部188对准待测工件上的镶件位置，并使得检测销18的检测部188与镶件孔302内的 镶件32相抵接触。继续相向移动时，镶件32向检测销18施力，从而检测销18的支撑部186压 縮第二弹簧24，支撑部186随之不再与固定件20的固定部204的端面接触。镶件检测装置与待测工件30继续相向运动，直到检测销18的接触部184与导块16的固定 部164相抵接触。从而，分别与电源两极相连的两电极14、 24通过导块16、检测销18的接触 部184、连接部182形成回路，并在回路中产生电流。在回路中设置的电流检测装置(图未示 )检测到该电流后，即可判断该待测工件30的镶件孔302中已经镶有镶件32。请继续参考图3，若镶件检测装置与待测工件30进一步相向运动，接触部184压抵导块 16的固定部164，使得导块16的基座162压縮第一弹簧22并离开与支架12相贴合的位置。此结 构可对检测销18的运动过程起缓冲作用。得到判断结果后，镶件检测装置不再与待测工件30相向移动，并退回到与待测工件30相 向移动之前的位置。此时，由于第一弹簧22的张力，导块16的基座162仍被抵压并贴合到支 架12的一侧；而由于第二弹簧26的张力，检测销18被推动而使其接触部184与导块16的固定20071本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种镶件检测装置，包括支架、导块与检测销；所述支架开设有通孔；所述导块装设于所述支架上并位于所述通孔的一端，所述导块与电源的一极电性相连；所述检测销活动穿设于所述支架的通孔内，并与所述电源的另一极电性相连，所述检测销包括检测部及接触部，所述检测部用于与镶件相抵接触，并在所述镶件的抵压力作用下移动所述检测销使所述接触部与所述导块相接触以接通检测回路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李凤春，刘发印，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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