坐标定位方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:25711201 阅读:41 留言:0更新日期:2020-09-23 02:57
本发明专利技术实施例公开了一种坐标定位方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取原始印章图像;所述原始印章图像中包括至少一组印章,各组印章中包括两个部分重叠的印章;对所述原始印章图像进行预处理,得到二值化的印章图像;对所述二值化的印章图像进行水平投影和垂直投影,得到原始印章图像中的各印章的中心点坐标。本发明专利技术实施例的技术方案,提高了获取印章中心点的坐标的效率和准确度。

【技术实现步骤摘要】
坐标定位方法、装置、设备及存储介质
本专利技术实施例涉及图像处理
,尤其涉及一种坐标定位方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
目前,银行等机构在为用户办理业务时,通常需要在文件上盖大量的印章,为了节省人力资源,提高作业效率,可以使用印控仪来进行盖章操作。现有技术中,使用印控仪盖章时,实际盖章点往往与标准盖章点有一定的偏差,为了确定偏差大小,需要测量印章的中心点坐标。目前主要通过人工测量的方式来获取印章的中心点坐标,例如,使用直尺等测量工具测量印章中心点坐标,但这种方法的测量效率比较低,准确率也比较差。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种坐标定位方法、装置、设备及存储介质,以提高获取印章中心点的坐标的效率和准确度。第一方面,本专利技术实施例提供了一种坐标定位方法,包括:获取原始印章图像;原始印章图像中包括至少一组印章,各组印章中包括两个部分重叠的印章;对原始印章图像进行预处理,得到二值化的印章图像;对二值化的印章图像进行水平投影和垂直投影,得到原始印章图像中的各印章的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种坐标定位方法,其特征在于,包括:/n获取原始印章图像;所述原始印章图像中包括至少一组印章,各组印章中包括两个部分重叠的印章;/n对所述原始印章图像进行预处理,得到二值化的印章图像;/n对所述二值化的印章图像进行水平投影和垂直投影,得到原始印章图像中的各印章的中心点坐标。/n

【技术特征摘要】
1.一种坐标定位方法,其特征在于,包括:
获取原始印章图像;所述原始印章图像中包括至少一组印章,各组印章中包括两个部分重叠的印章;
对所述原始印章图像进行预处理,得到二值化的印章图像;
对所述二值化的印章图像进行水平投影和垂直投影,得到原始印章图像中的各印章的中心点坐标。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述原始印章图像进行预处理,得到二值化的印章图像,包括:
对所述原始印章图像进行灰度化处理和二值化处理,得到印章为黑色的二值化的印章图像。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,对所述二值化的印章图像进行水平投影和垂直投影,得到原始印章图像中的各印章的中心点坐标,包括:
按照自上至下的顺序,对所述二值化的印章图像的每一行像素进行水平投影,并获取各目标黑色像素的纵坐标值;
其中,所述目标黑色像素的前一像素为白色像素;
按照自左至右的顺序,对所述二值化的印章图像的每一列像素进行垂直投影,并获取各目标黑色像素的横坐标值;
根据各目标黑色像素的横坐标值和纵坐标值,确定原始印章图像中的各印章的中心点坐标。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据各目标黑色像素的横坐标值和纵坐标值,确定原始印章图像中的各印章的中心点坐标,包括:
分别确定与各组印章对应的目标黑色像素集合;
从当前目标黑色像素集合中,获取纵坐标值最小的目标黑色像素作为第一参考像素,获取横坐标值最小的目标黑色像素作为第二参考像素,获取横坐标值最大的目标黑色像素作为第三参考像素;
将与第一参考像素对应的较小的横坐标值作为第一横坐标,将第二参考像素的纵坐标作为第一纵坐标,得到与当前目标黑色像素集合对应的印章组中第一印章的中心点坐标;
将与第一参考像素对应的较大的横坐标值作为第二横坐标,将第三参考像素的纵坐标作为第二纵坐标,得到与当前目标黑色像素集合对应的印章组中第二印章的中心点坐标。


5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述原始印章图像中包括的至少一组印章是由印控仪根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:李雪
申请(专利权)人:北京惠朗时代科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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