触摸感测单元和包括该触摸感测单元的显示装置制造方法及图纸

技术编号:25707736 阅读:15 留言:0更新日期:2020-09-23 02:54
提供一种触摸感测单元和包括该触摸感测单元的显示装置。该触摸感测单元包括:基体层,包括触摸感测区域和触摸外围区域;触摸电极,设置在触摸感测区域中;触摸线,设置在触摸外围区域中并电连接到触摸电极;检查垫,设置在位于触摸外围区域的一侧处的垫区域中;以及检查薄膜晶体管,设置在垫区域中并电连接到触摸线和检查垫。

【技术实现步骤摘要】
触摸感测单元和包括该触摸感测单元的显示装置本申请要求于2019年3月15日在韩国知识产权局提交的第10-2019-0030001号韩国专利申请的优先权,该韩国专利申请的公开通过引用全部包含于此。
专利技术构思的示例性实施例涉及一种触摸感测单元、一种包括该触摸感测单元的显示装置以及一种使该触摸感测单元老化的方法。
技术介绍
显示装置被用于各种电子电器(诸如智能电话、平板PC、数码相机、笔记本计算机、导航仪和电视)中以向用户显示图像或提供图像。显示装置包括用于产生并显示图像的显示面板以及各种输入器件。近来,在智能电话和平板PC的领域中,识别触摸输入的触摸感测单元已广泛用于显示装置中。在制造触摸感测单元的工艺中,由于异物可能在触摸电极之间发生短路,从而引起触摸感测单元的故障。为了防止由于异物引起的短路并克服此故障,可以使用其中将预定电压施加到触摸感测单元的老化方法。
技术实现思路
根据专利技术构思的示例性实施例,一种触摸感测单元包括:基体层,包括触摸感测区域和触摸外围区域;触摸电极,设置在触摸感测区域中;触摸线,设置在触摸外围区域中并电连接到触摸电极;检查垫,设置在位于触摸外围区域的一侧处的垫区域中;检查薄膜晶体管,设置在垫区域中并电连接到触摸线和检查垫。触摸线可以包括在第一方向上顺序地布置在垫区域中的多条触摸线,并且检查薄膜晶体管可以仅设置在所述多条触摸线中的奇数触摸线上。触摸线可以包括在第一方向上顺序地布置在垫区域中的第一驱动线、第二驱动线和第三驱动线,检查垫可以包括连接到第一驱动线的第一检查垫、连接到第二驱动线的第二检查垫和连接到第三驱动线的第三检查垫,检查薄膜晶体管可以包括第一检查薄膜晶体管、第二检查薄膜晶体管、第三检查薄膜晶体管和第四检查薄膜晶体管,第一检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第一驱动线,第一检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第一检查垫。第二检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第三驱动线,第二检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第三检查垫。触摸线还可以包括在第一方向上顺序地布置在垫区域中的第一感测线、第二感测线和第三感测线,检查垫可以包括连接到第一感测线的第四检查垫、连接到第二感测线的第五检查垫和连接到第三感测线的第六检查垫,并且第三检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第一感测线,第三检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第四检查垫。第四检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第三感测线,并且第四检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第六检查垫。检查垫还可以包括第七检查垫,并且第七检查垫可以连接到第一检查薄膜晶体管、第二检查薄膜晶体管、第三检查薄膜晶体管和第四检查薄膜晶体管中的每个检查薄膜晶体管的控制电极。检查薄膜晶体管还可以包括第五检查薄膜晶体管和第六检查薄膜晶体管,第五检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第二驱动线,第五检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第二检查垫。第六检查薄膜晶体管的第一电极可以连接到第二感测线,第六检查薄膜晶体管的第二电极可以连接到第五检查垫。检查垫还可以包括第八检查垫,第八检查垫可以连接到第五检查薄膜晶体管和第六检查薄膜晶体管中的每个检查薄膜晶体管的控制电极。触摸感测单元还可以包括设置在触摸线与检查薄膜晶体管之间并电连接到触摸线和检查薄膜晶体管的触摸垫。触摸感测单元还可以包括设置在检查薄膜晶体管与检查垫之间并电连接到检查薄膜晶体管和检查垫的触摸垫。根据专利技术构思的示例性实施例,一种显示装置可以包括:基底,包括显示区域和非显示区域;薄膜晶体管层,设置在基底上并且包括驱动薄膜晶体管和检查薄膜晶体管;发光元件层,设置在薄膜晶体管层上;以及触摸感测单元,设置在发光元件层上。驱动薄膜晶体管可以设置在显示区域中,检查薄膜晶体管可以设置在非显示区域中并且与驱动薄膜晶体管位于同一层上。触摸感测单元可以包括触摸线,触摸线电连接到检查薄膜晶体管。根据专利技术构思的示例性实施例,一种使触摸感测单元老化的方法可以包括:将栅极截止电压施加到连接到第一节点的第一节点检查垫;以及将第一老化信号输入到连接到多条触摸线的检查垫以在所述多条触摸线之间形成电位差。可以在第一方向上顺序地布置所述多条触摸线,可以将检查薄膜晶体管仅连接到所述多条触摸线中的奇数触摸线,并且可以将栅极截止电压施加到连接到第一节点的检查薄膜晶体管。所述多条触摸线可以包括在第一方向上顺序地布置的第一驱动线、第二驱动线和第三驱动线,检查垫可以包括连接到第一驱动线的第一检查垫、连接到第二驱动线的第二检查垫和连接到第三驱动线的第三检查垫,检查薄膜晶体管可以包括第一检查薄膜晶体管和第二检查薄膜晶体管,第一检查薄膜晶体管连接到第一驱动线和第一检查垫,第二检查薄膜晶体管连接到第三驱动线和第三检查垫。所述多条触摸线还可以包括在第一方向上顺序地布置的第一感测线、第二感测线和第三感测线,检查垫还可以包括连接到第一感测线的第四检查垫、连接到第二感测线的第五检查垫和连接到第三感测线的第六检查垫,并且检查薄膜晶体管还可以包括第三检查薄膜晶体管和第四检查薄膜晶体管,第三检查薄膜晶体管连接到第一感测线和第四检查垫,第四检查薄膜晶体管连接到第三感测线和第六检查垫。第一检查薄膜晶体管、第二检查薄膜晶体管、第三检查薄膜晶体管和第四检查薄膜晶体管中的每个检查薄膜晶体管的控制电极可以连接到第一节点。该方法还可以包括:将栅极导通电压施加到连接到第一节点的第一节点检查垫;以及将第一老化信号施加到第一检查垫至第三检查垫中的每个检查垫,并且将第二老化信号施加到第四检查垫至第六检查垫中的每个检查垫。附图说明通过参照附图详细描述专利技术构思的示例性实施例,专利技术构思的以上和其它方面以及特征将变得更加明显。图1是根据专利技术构思的示例性实施例的显示装置的透视图。图2是根据专利技术构思的示例性实施例的显示装置的平面图。图3是沿着根据专利技术构思的示例性实施例的图2的线I-I'截取的剖视图。图4是示出根据专利技术构思的示例性实施例的图3的显示单元的平面图。图5是示出根据专利技术构思的示例性实施例的图3的触摸感测单元的平面图。图6是示出根据专利技术构思的示例性实施例的图3的触摸感测单元的平面图。图7是示出根据专利技术构思的示例性实施例的触摸垫(pad,或称为“焊盘”)与检查垫的连接关系的示意图。图8是示出根据专利技术构思的示例性实施例的触摸垫与检查垫的连接关系的示意图。图9是示出根据专利技术构思的示例性实施例的第一老化进行的状态的示意图。图10是示出根据专利技术构思的示例性实施例的第二老化进行的状态的示意图。图11是示出根据专利技术构思的示例性实施例的其中第一老化和第二老化进行的工艺的流程图。图12是示出根据专利技术构思的示例性实施例的触摸垫与检查垫的连接关系的示意图。图13是示出根据专利技术构思的示例性实施例的触摸垫与检查垫的连接关系的示意图。图14是示出根据专利技术构思的示例性实施例的第一老化进行的状态的示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸感测单元,所述触摸感测单元包括:/n基体层,包括触摸感测区域和触摸外围区域;/n触摸电极,设置在所述触摸感测区域中;/n触摸线,设置在所述触摸外围区域中并电连接到所述触摸电极;/n检查垫,设置在位于所述触摸外围区域的一侧处的垫区域中;以及/n检查薄膜晶体管,设置在所述垫区域中并电连接到所述触摸线和所述检查垫。/n

【技术特征摘要】
20190315 KR 10-2019-00300011.一种触摸感测单元,所述触摸感测单元包括:
基体层,包括触摸感测区域和触摸外围区域;
触摸电极,设置在所述触摸感测区域中;
触摸线,设置在所述触摸外围区域中并电连接到所述触摸电极;
检查垫,设置在位于所述触摸外围区域的一侧处的垫区域中;以及
检查薄膜晶体管,设置在所述垫区域中并电连接到所述触摸线和所述检查垫。


2.根据权利要求1所述的触摸感测单元,
其中,所述触摸线包括多条触摸线,所述多条触摸线在第一方向上顺序地布置在所述垫区域中,并且
所述检查薄膜晶体管仅设置在所述多条触摸线中的奇数触摸线上。


3.根据权利要求1所述的触摸感测单元,
其中,所述触摸线包括第一驱动线、第二驱动线和第三驱动线,所述第一驱动线、所述第二驱动线和所述第三驱动线在第一方向上顺序地布置在所述垫区域中,
所述检查垫包括第一检查垫、第二检查垫和第三检查垫,所述第一检查垫连接到所述第一驱动线,所述第二检查垫连接到所述第二驱动线,所述第三检查垫连接到所述第三驱动线,
所述检查薄膜晶体管包括第一检查薄膜晶体管、第二检查薄膜晶体管、第三检查薄膜晶体管和第四检查薄膜晶体管,并且
所述第一检查薄膜晶体管的第一电极连接到所述第一驱动线,并且所述第一检查薄膜晶体管的第二电极连接到所述第一检查垫。


4.根据权利要求3所述的触摸感测单元,
其中,所述第二检查薄膜晶体管的第一电极连接到所述第三驱动线,并且所述第二检查薄膜晶体管的第二电极连接到所述第三检查垫。


5.根据权利要求4所述的触摸感测单元,
其中,所述触摸线还包括第一感测线、第二感测线和第三感测线,所述第一感测线、所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈讚郁权相赫朴钟烈郑载润赵德汉崔喆坤
申请(专利权)人:三星显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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