一种基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法技术

本发明专利技术公开了基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法。所述方法包括如下步骤：对岩心进行压汞实验，得到不同进汞压力下的进汞饱和度，进而得到岩心的孔喉半径和孔吼分布频率；根据进汞压力得到岩心的薄膜束缚水厚度；根据孔喉半径得到岩心的不同进汞区间孔喉平均半径；根据孔喉分布频率、薄膜束缚水厚度和不同进汞区间孔喉平均半径得到岩心的不同进汞区间薄膜束缚水饱和度，进而得到岩心的薄膜束缚水饱和度。本发明专利技术可以根据实验压汞曲线数据，快速得到岩心薄膜束缚水饱和度，具有简便实用、可操作性强的特点。本发明专利技术薄膜束缚水饱和度的测定结果可应用于储层评价、产能预测、储量计算以及油气藏出水机理研究等众多方面，具有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法
本专利技术涉及一种基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法，属于油气田生产

技术介绍
束缚水是滞留在储层岩石微小孔隙或吸附于岩石颗粒表面的不可流动的水。束缚水饱和度为束缚水所占孔隙的体积与岩石总孔隙体积之比。束缚水饱和度是油藏单相与油水两相渗流的临界参数，也是进行储层评价、产能预测、油水渗流规律分析和储量计算的基础参数。束缚水包括两种形式：一种是滞留在储层岩石微小孔隙中的毛细管束缚水(如图1a所示)；另一种是吸附于岩石颗粒表面(或大孔隙壁上)的薄膜束缚水(如图1b所示)。因此，束缚水饱和度也可分为两种：即毛细管束缚水饱和度和薄膜束缚水饱和度。目前，束缚水饱和度主要通过压汞、离心毛管力、油水相渗、核磁共振等流体实验方法测定。由于这些实验手段不能对毛细管束缚水和薄膜束缚水进行有效区分，致使目前薄膜束缚水饱和度尚无法准确定量的测定，这在很大程度上制约了薄膜束缚水的理论研究和实践应用。因此，建立一种薄膜束缚水饱和度的测定方法具有重要的理论意义和实践价值。
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法，包括如下步骤：/n1)对岩心进行压汞实验，得到不同进汞压力下的进汞饱和度，进而得到岩心的孔喉半径和孔吼分布频率；/n2)根据所述进汞压力得到岩心的薄膜束缚水厚度；/n3)根据所述孔喉半径得到岩心的不同进汞区间孔喉平均半径；/n4)根据所述孔喉分布频率、所述薄膜束缚水厚度和所述不同进汞区间孔喉平均半径得到岩心的不同进汞区间薄膜束缚水饱和度，进而得到岩心的薄膜束缚水饱和度。/n

【技术特征摘要】
1.一种岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法，包括如下步骤：
1)对岩心进行压汞实验，得到不同进汞压力下的进汞饱和度，进而得到岩心的孔喉半径和孔吼分布频率；
2)根据所述进汞压力得到岩心的薄膜束缚水厚度；
3)根据所述孔喉半径得到岩心的不同进汞区间孔喉平均半径；
4)根据所述孔喉分布频率、所述薄膜束缚水厚度和所述不同进汞区间孔喉平均半径得到岩心的不同进汞区间薄膜束缚水饱和度，进而得到岩心的薄膜束缚水饱和度。


2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于：步骤1)中，根据所述进汞压力，结合式(1)得到所述孔喉半径；



式(1)中，ri表示第i个进汞压力对应的孔喉半径，μm；σ表示汞表面张力，为0.48N/m；θ表示汞润湿角，为140°；Pi表示第i个测试点进汞压力，MPa；n表示进汞压力测试总点数。


3.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于：步骤1)中，根据所述进汞饱和度，结合式(2)得到所述孔喉分布频率；
fi＝ΔSi＝Si+1-Si(i＝1，2，……，n-1；)(2)
式(2)中，fi表示第i个区间孔喉分布频率，％；ΔSi表示第i个区间汞饱和度增量，％；Si+1表示第i+1个测试点进汞压力对应的汞饱和度，％；Si表示第i个测试点进汞压力对应的汞饱和度，％；n表示进汞压力测试总点数。


4.根据权利要求1-3中任一项所述的测定方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：代金友，任茜莹，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：发明
国别省市：北京;11