一种黑白密度片的校验检测方法技术

本发明专利技术涉及一种黑白密度片的校验检测方法，通过拟合曲线与阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线作对比，得出不同厚度的阶梯试块处的真实黑白密度值，利用此种方法更贴近于真实情况，提高了工作黑白密度片校验的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种黑白密度片的校验检测方法
本专利技术属于检验检测
，特别是涉及一种黑白密度片的校验检测方法。
技术介绍
黑白密度片主要是用于检定和校准各类透射式光学密度计的密度示值的计量器具。其中黑白密度片分为标准黑白密度片和工作黑白密度片，标准黑白密度片由特殊配方的卤化银感光乳剂加工处理而成，其外观特点为单乳剂面的黑白密度光楔。工作黑白密度片种类繁多，应根据应用领域的实际需要进行选择和加工。其中医院的X光机辐射值就需要定期对其进行检测，以便对X光机的辐射值进行评估，因此加工制作的工作黑白密度片的密度示值准确性显得尤为重要，现有的工作黑白密度片多是程式化生产出来的，其校验方法过于机械程式化，这样并不符合实际情况，测量出来的密度值就会较大的误差，影响其判断结果。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了提供一种黑白密度片的校验检测方法，解决现有工作黑白密度片机械程式化校验方法存在较大误差的问题。本专利技术为了解决上述问题所采取的技术方案是，提供了一种黑白密度片的校验检测方法，包括以下步骤：步骤一：对阶梯试块进行X光线照射本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种黑白密度片的校验检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一：对阶梯试块进行X光线照射，在示值装置上显示阶梯试块的底片；/n步骤二：根据阶梯试块的底片得出不同厚度处的黑白密度值；/n步骤三：根据计算公式在坐标轴中绘制阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线，同时根据步骤二中得出的黑白密度值绘制拟合曲线；/n步骤四：将黑白密度值函数曲线与拟合曲线进行对比，并对拟合曲线进行修正；/n步骤五：根据修正后的拟合曲线由不同厚度的阶梯试块处得出其对应的黑白密度值作为其真实黑白密度值。/n

【技术特征摘要】
1.一种黑白密度片的校验检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：对阶梯试块进行X光线照射，在示值装置上显示阶梯试块的底片；
步骤二：根据阶梯试块的底片得出不同厚度处的黑白密度值；
步骤三：根据计算公式在坐标轴中绘制阶梯试块不同...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙成章，黄成伟，周云森，李胜春，王双玲，高申星，刘辉，牛国栋，王攀峰，毛哲，唐盟，李静，高颖，李洁，常昱斌，
申请(专利权)人：河南省计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：河南;41