同波长编码识别系统、方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了同波长编码识别系统、方法、装置及存储介质，其中同波长编码识别系统，包括主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接。本发明专利技术利用加工难度较低的同波长光纤反射编码组，并通过在窄带光源增加滤波器辅助精确测量，能够有效降低识别和生产成本。

【技术实现步骤摘要】
同波长编码识别系统、方法、装置及存储介质
本专利技术涉及光纤领域，尤其是同波长编码识别系统、方法、装置及存储介质。
技术介绍
目前，现有同波长编码识别系统只能依靠两侧设备发光进行判断，而对光纤链路本身不能有所唯一识别。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供同波长编码识别系统、方法、装置及存储介质，能够实现光纤链路的唯一识别、诊断和自动切换。本专利技术解决其问题所采用的技术方案是：第一方面，本专利技术实施例提供了同波长编码识别系统，包括主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接。本专利技术上述的技术方案至少具有如下优点或有益效果之一：利用滤波器可以将窄带光源发出的光频谱更窄，使窄带光源向同波长光纤反射编码组射出的光波更加精确，能够有效避免带来杂波干扰。当光波射向同波长光纤反射编码组时，能够产生反射光，反射光可以经过环形器传送到光电探测器的输入端中，此时可以控制光电探测器测量反射光的反射光强，主控模块可以根据光波的反射光强和反射时间得出同波长光纤反射编码组的序列特征和位置信息，本专利技术的利用加工难度较低的同波长光纤反射编码组，并通过在窄带光源增加滤波器辅助精确测量，能够有效降低识别和生产成本。进一步，所述同波长光纤反射编码组包括至少两个波长相同的光纤光栅，相邻两个所述光纤光栅之间的距离为基准间距的整数倍。进一步，所述窄带光源为脉冲窄带光源，所述脉冲窄带光源的脉冲频率大于或者等于10GHz，能够达到10毫米的测量精度。进一步，所述滤波器为高通窄带滤波器。进一步，所述光电探测器的探测频率与脉冲窄带光源的脉冲频率相等。第二方面，本专利技术实施例提供了同波长编码识别方法，应用于同波长编码识别系统，所述同波长编码识别系统包括：主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接；所述同波长编码识别方法包括以下步骤：所述主控模块控制所述窄带光源输出光波；所述主控模块控制所述光电探测器检测已滤波的所述光波经所述同波长光纤反射编码组发射回来的反射光强；所述主控模块根据所述光波的反射光强和反射时间得出所述同波长光纤反射编码组的序列特征和位置信息。本专利技术上述的技术方案至少具有如下优点或有益效果之一：可以控制窄带光源输出光波，利用滤波器可以将窄带光源发出的光频谱更窄，使窄带光源向同波长光纤反射编码组射出的光波更加精确，能够有效避免带来杂波干扰。当光波射向同波长光纤反射编码组时，能够产生反射光，反射光可以经过环形器传送到光电探测器的输入端中，此时可以控制光电探测器测量反射光的反射光强，主控模块可以根据光波的反射光强和反射时间得出同波长光纤反射编码组的序列特征和位置信息，本专利技术的利用加工难度较低的同波长光纤反射编码组，并通过在窄带光源增加滤波器辅助精确测量，能够有效降低识别和生产成本。进一步，所述同波长光纤反射编码组包括两个以上光纤光栅，窄带光源输出的光波经所述光纤光栅反射所得的反射光之间时间差为单位间隔时间的整数倍，所述单位间隔时间为相距最近的两个光纤光栅的反射光之间的时间差。第三方面，本专利技术实施例提供了识别控制装置，包括：存储器、控制处理器及存储在所述存储器上并可在所述控制处理器上运行的计算机程序，所述控制处理器执行所述计算机程序时实现如第二方面所述的同波长编码识别方法。本专利技术上述的技术方案至少具有如下优点或有益效果之一：识别控制装置可以控制窄带光源输出光波，利用滤波器可以将窄带光源发出的光频谱更窄，使窄带光源向同波长光纤反射编码组射出的光波更加精确，能够有效避免带来杂波干扰。当光波射向同波长光纤反射编码组时，能够产生反射光，反射光可以经过环形器传送到光电探测器的输入端中，此时可以控制光电探测器测量反射光的反射光强，主控模块可以根据光波的反射光强和反射时间得出同波长光纤反射编码组的序列特征和位置信息，本专利技术的利用加工难度较低的同波长光纤反射编码组，并通过在窄带光源增加滤波器辅助精确测量，能够有效降低识别和生产成本。第四方面，本专利技术实施例提供了计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如第二方面所述的同波长编码识别方法。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明下面结合附图和实例对本专利技术作进一步说明。图1是本专利技术的一个实施例的同波长编码识别系统的示意图；图2是本专利技术的一个实施例的同波长编码识别系统的同波长光纤反射编码组的示意图；图3是本专利技术的一个实施例的同波长编码识别方法的流程图；图4为本专利技术一个实施例提供的识别控制装置的示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。需要说明的是，虽然在系统示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于系统中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。同波长编码识别系统，包括主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接。本专利技术利用加工难度较低的同波长光纤反射编码组，并通过在窄带光源增加滤波器辅助精确测量，能够有效降低识别和生产成本。下面结合附图，对本专利技术实施例作进一步阐述。参照图1，本专利技术实施例提供了一种窄谱光波滤波同波长编码识别系统，包括：主控模块110、窄带光源120、滤波器130、环形器140、同波长光纤反射编码组150和光电探测器160，环形器140包括第一端、第二端和第三端，窄带光源120、滤波器130与环形器140的第一端依次连接，同波长光纤反射编码组150通过光纤与环形器140的第二端连接，光电探测器160的输入端与环形器140的第三端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种同波长编码识别系统，其特征在于，包括：主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种同波长编码识别系统，其特征在于，包括：主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所述窄带光源、所述滤波器与所述环形器的第一端依次连接，所述同波长光纤反射编码组通过光纤与所述环形器的第二端连接，所述光电探测器的输入端与所述环形器的第三端连接，所述光电探测器和所述窄带光源分别与所述主控模块电连接。


2.根据权利要求1所述的一种同波长编码识别系统，其特征在于，所述同波长光纤反射编码组包括至少两个波长相同的光纤光栅，相邻两个所述光纤光栅之间的距离为基准间距的整数倍。


3.根据权利要求1或者2所述的一种同波长编码识别系统，其特征在于，所述窄带光源为脉冲窄带光源，所述脉冲窄带光源的脉冲频率大于或者等于10GHz。


4.根据权利要求3所述的一种同波长编码识别系统，其特征在于，所述滤波器为高通窄带滤波器。


5.根据权利要求4所述的一种同波长编码识别系统，其特征在于，所述光电探测器的探测频率与所述脉冲窄带光源的脉冲频率相等。


6.同波长编码识别方法，其特征在于，应用于同波长编码识别系统，所述同波长编码识别系统包括：主控模块、窄带光源、滤波器、环形器、同波长光纤反射编码组和光电探测器，所述环形器包括第一端、第二端和第三端，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱惠君，薛鹏，白金刚，毛志松，邬耀华，
申请(专利权)人：中山水木光华电子信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44