本发明专利技术涉及一种眼镜片光学质量测量装置。该装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器（７）和显像装置构成的成像部份，所述光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑（９），被检眼镜片（１０）放置在准直部份中光阑（９）的光路上游一侧，光束收束部份将经光阑（９）后的光束汇聚在图像传感器（７）上。该装置采用Ｈａｒｔｍａｎｎ原理对眼镜片进行光线追迹进而测量其光学像差来实现对眼镜片光学质量的测量。另外，该装置的光迹采样密度高以至能测量十阶以上的像差。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种眼镜片光学质量测量装置。
技术介绍
眼镜片(包括框架眼镜片、角膜接触镜、人工晶体等)仍将继续广泛地成为矫正屈光不正的方法，其光学质量的优劣直接影响到人眼视觉质量。通常有几种不同的方法用来测量眼镜片的光学质量，如Hartmann法、干涉法、Ronchi测试法以及直接测量镜片的表面形状的方法等，但是这些方法一般存在以下两个缺点1、只能检测某个点或小范围的光学像差分布，对于像差有突变分布并且视场较大的渐变镜等，无法获知其整个镜片的光学质量；2、测量不够精密，目前的很多方法只能检测镜片的低阶像差，如离焦、低阶球差和散光，无法检测到更高阶的像差。专利技术目的本专利技术的目的在于为克服现有技术的不足，提供一种能获知整个镜片的光学质量、能检测像差有突变分布并且视场较大的渐变镜和更高阶像差的眼镜片光学质量测量装置。为实现上述目的，本专利技术所采取的技术方案是一种眼镜片光学质量测量装置，其特征在于该装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器和显像装置构成的成像部份，所述光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑，被检眼镜片放置在准直部份中光阑的光路上游一侧，光束收束部份将经光阑后的光束汇聚在图像传感器上。本专利技术的测量装置利用Shack-Hartmann波前检测的原理，扩束光束经过被测镜片的折射系统，形成波前像差的形式，位于被测镜片前方的Hartmann光阑将折射光线的波前分成若干个更小的波前，每个波前经光束收束部份后都被聚焦成一个光点，被CCD传感器接收到，CCD传感器将接收到的波前图像传输至计算机中并显示在屏幕上，而光点相对于Hartmann光阑小孔中心在空间位置上的位移，则直接显示了此处波前的倾斜情况，通过软件计算每个波前的倾斜程度就可得到整个被测镜片波前的形态和像差分布。另外，该装置的光迹采样密度高以至能测量十阶以上的像差。下面根据附图和具体实施例对本专利技术装置作进一步描述。附图说明图1为本专利技术具体实施例光路原理结构示意图；具体实施方式如图1所示，眼镜片光学质量测量装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器7和显像装置构成的成像部份，其中点光源可以是光纤光源或通过在发光源1如激光或LED光源前设置空间滤波器得到，空间滤波器可选用20倍的显微镜2和设有直径为3～8μm的小孔的挡板3构成，所述光束扩束及准直部份包括消色差负透镜4和第一消色差正透镜5，光束收束部份由第二消色差正透镜6构成，负透镜可以为平凹或双凹双胶透镜，正透镜可以为平凸或双凸双胶透镜，图像传感器7和显像装置分别由CCD传感器和计算机8构成，光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑9，如Hartmann光阑，通光小孔阵列上的通光小孔数不少于100，以保证该装置的光迹采样密度高以至能测量十阶以上的像差。被检眼镜片10放置在准直部份中光阑9的光路上游一侧，发光源1、显微镜2、挡板3、消色差负透镜4、第一消色差正透镜5、第二消色差正透镜6和CCD传感器的中心处于同一光轴上，光束收束部份将经光阑9后的光束汇聚在图像传感器7上，为了便于调节图像的清晰度和大小，精确控制和改变光线追迹光路中的感光面所探测的光迹成像面来提高测量范围，最好设有包括可沿光轴平行方向移动的图像传感器7安装平台的调节装置11，将图像传感器7固定在安装平台上，调节装置11的移动机构可以是齿轮齿条或螺杆螺套方式，通过调节图像传感器7安装平台，可以精确获得不同位置的光迹成像面。此外还可以在发光源1前方设有强度可调的中性滤光片13构成光强调节机构。为避免测量装置沿单列排列长度过长，本具体实施例中还设置了一对相互垂直与光轴成45°的反射镜12，将光路折成来回对折的形式，可使测量装置长度减少一半。权利要求1.一种眼镜片光学质量测量装置，其特征在于该装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器(7)和具有图像处理功能的显像装置构成的成像部份，所述光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑(9)，被检眼镜片(10)放置在准直部份中光阑(9)的光路上游一侧，光束收束部份将经光阑(9)后的光束汇聚在图像传感器(7)上。2.根据权利要求1所述的眼镜片光学质量测量装置，其特征在于所述点光源包括发光源(1)、空间滤波器，所述光束扩束及准直部份包括消色差负透镜(4)和第一消色差正透镜(5)，光束收束部份由第二消色差正透镜(6)构成，图像传感器(7)和显像装置分别由CCD传感器和计算机(8)构成，所述发光源(1)、空间滤波器、消色差负透镜(4)、第一消色差正透镜(5)、第二消色差正透镜(6)和CCD传感器的中心处于同一光轴上。3.根据权利要求2所述的眼镜片光学质量测量装置，其特征在于所述负透镜为平凹或双凹双胶透镜，正透镜为平凸或双凸双胶透镜。4.根据权利要求1或2所述的眼镜片光学质量测量装置，其特征在于还设有包括可沿光轴平行方向移动的图像传感器(7)安装平台的调节装置(11)，所述图像传感器(7)固定在安装平台上。5.根据权利要求1或2或3所述的眼镜片光学质量测量装置，其特征在于所述发光源(1)前方设有强度可调的中性滤光片(13)构成光强调节机构。6.根据权利要求4所述的眼镜片光学质量测量装置，其特征在于所述发光源(1)前方设有强度可调的中性滤光片(13)构成光强调节机构。全文摘要本专利技术涉及一种眼镜片光学质量测量装置。该装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器(7)和显像装置构成的成像部份，所述光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑(9)，被检眼镜片(10)放置在准直部份中光阑(9)的光路上游一侧，光束收束部份将经光阑(9)后的光束汇聚在图像传感器(7)上。该装置采用Hartmann原理对眼镜片进行光线追迹进而测量其光学像差来实现对眼镜片光学质量的测量。另外，该装置的光迹采样密度高以至能测量十阶以上的像差。文档编号G01M11/02GK1900673SQ20061004121公开日2007年1月24日 申请日期2006年7月25日 优先权日2006年7月25日专利技术者贺极苍, 沈梅晓, 吕帆 申请人:温州医学院眼视光研究院本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种眼镜片光学质量测量装置，其特征在于该装置包括沿光路依次设置的点光源、光束扩束及准直部份、光束收束部份及由图像传感器（７）和具有图像处理功能的显像装置构成的成像部份，所述光束准直部份的光路中设有其上均匀排列有通光小孔阵列的光板构成的光阑（９），被检眼镜片（１０）放置在准直部份中光阑（９）的光路上游一侧，光束收束部份将经光阑（９）后的光束汇聚在图像传感器（７）上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：贺极苍，沈梅晓，吕帆，
申请(专利权)人：温州医学院眼视光研究院，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]
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