本实用新型专利技术实施例公开了一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，涉及检查设备技术领域，其技术方案要点包括工作台、设置在工作台上且用于传送载带的入料装置、出料装置，在所述入料装置和出料装置之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置；所述外观检测装置包括竖直设置在载带一侧的安装板，位于所述安装板上且用于拍摄载带的识别相机，在所述安装板上且位于所述识别相机两侧设置有光源，所述光源照射载带的光照点与载带上识别相机拍摄点相同。本实用新型专利技术方案用以解决现有技术中IC芯片载带表面进行缺陷检测时人工检测效率低、漏检滤高的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种IC芯片载带表观缺陷检测装置
本技术实施例涉及检查设备
，具体涉及一种IC芯片载带表观缺陷检测装置。
技术介绍
IC芯片载带在生产过程中需要对其表面进行缺陷检测，现在国内载带生产厂及芯片条带封测厂均采用人工检测。人工在检测过程中，一般是以3m/min的速度进行检测,人工检测可达到约75万片/天，在长时间检测过程中，人工检测易疲劳，从而出现漏检率高，易造成客户投诉降低产品信誉度，此外，在检测后，信息集成较为复杂且耗时。
技术实现思路
为此，本技术实施例提供一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，以解决现有技术中IC芯片载带表面进行缺陷检测时人工检测效率低、漏检滤高的问题。为了实现上述目的，本技术实施例提供如下技术方案：根据本技术实施例中，其公开了一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，包括工作台、设置在工作台上且用于传送载带的入料装置、出料装置，在所述入料装置和出料装置之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置；所述外观检测装置包括竖直设置在载带一侧的安装板，位于所述安装板上且用于拍摄载带的识别相机，在所述安装板上且位于所述识别相机两侧设置有光源，所述光源照射载带的光照点与载带上识别相机拍摄点相同。进一步地，所述外观检测装置在载带上侧间隔设置有两组，所述外观检测装置在载带下侧设置有一组。进一步地，所述入料装置包括设置在所述工作台上的若干传送齿轮、所述入料装置包括设置在所述工作台上的若干传送齿轮、以及设置在工作台上且位于外观检测装置远离传送齿轮一侧用于对载带进行驱动的传动组件。进一步地，所述传动组件包括安装架，设置在所述安装架上的主动齿轮、以及转动设置在所述安装架上且可转动扣合在所述安装架上的扣合架、以及带动主动齿轮转动的电机。所述主动齿轮包括辊筒、以及设置在所述辊筒圆周方向的齿盘，所述齿盘间隔设置有两组，所述齿盘与载带宽度方向的边孔一一扣合；在所述扣合架上设置有压持轮，所述压持轮的轴线两端分别间隔设置有两组凸环，两组凸环之间形成嵌合槽，当扣合架转动向安装架时，所述齿盘外端部嵌合在嵌合槽内。进一步地，在所述入料装置和所述外观检测装置之间、所述外观检测装置和出料装置之间分别设置有缓冲组件。进一步地，所述缓冲组件包括间隔设置的第一缓冲轮、以及第二缓冲轮，在所述第一缓冲轮和第二缓冲轮之间形成缓冲腔。进一步地，在所述外观检测装置靠近入料装置的一侧设置有清洁检查装置，所述清洁检查装置包括设置在所述工作台上且用于对载带两侧边孔进行检测的光感传感器、以及设置在所述工作台上用于对载带上下两侧进行清扫的毛刷。本技术实施例具有如下优点：本技术实施例通过设置的IC芯片载带表观缺陷检测装置，可以使用设备自动对载带表观缺陷进行检测，相比于人工检测，速度更快，同时，机器检测效果稳定，无漏检，保证产品出货质量。相比于人工检测，极大的节约了劳动成本。附图说明为了更清楚地说明本技术的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
能涵盖的范围内。图1为本技术实施例提供的一种IC芯片载带表观缺陷检测装置的整体结构示意图；图2为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出传动组件的示意图；图3为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出主动齿轮的示意图；图4为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出压持轮的示意图；图5为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出外观检测装置的示意图；图6为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出清洁检查装置的示意图；图7为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出毛刷的示意图；图8为本技术实施例提供的IC芯片载带表观缺陷检测装置中突出缓冲组件的示意图。图中：1、工作台；2、入料装置；21、传送齿轮；22、传动组件；221、安装架；222、主动齿轮；2221、辊筒；2222、齿盘；223、扣合架；224、压持轮；2241、凸环；2242、嵌合槽；225、电机；3、出料装置；31、出料齿轮；4、外观检测装置；41、安装板；42、识别相机；43、光源；5、缓冲组件；51、第一缓冲轮；52、第二缓冲轮；53、缓冲腔；6、清洁检查装置；61、光感传感器；62、毛刷。具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本技术可实施的范畴。一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，如图1至图8所示，包括工作台1、设置在工作台1上且用于传送载带的入料装置2、出料装置3，在入料装置2和出料装置3之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置4。在使用时，通过入料装置2将载带传递至外观检测装置4处进行检查，检测完毕之后，通过出料装置3将检测后的载带传出。入料装置2包括设置在工作台1上的若干传送齿轮21、以及设置在工作台上且位于外观检测装置4远离传送齿轮21一侧用于对载带进行驱动的传动组件22。传动组件22包括固定在工作台1上的安装架221、转动设置在安装架221上的主动齿轮222、以及转动设置在安装架221上且可转动扣合在安装架221上的扣合架223、以及带动主动齿轮222转动的电机225。主动齿轮222包括辊筒2221、以及设置在辊筒2221圆周方向的齿盘2222，齿盘2222间隔设置有两组，齿盘2222与载带宽度方向的边孔一一扣合；在扣合架223上设置有压持轮224，压持轮224的轴线两端分别间隔设置有两组凸环2241，两组凸环2241之间形成嵌合槽2242，当扣合架223转动向安装架221时，齿盘2222外端部嵌合在嵌合槽2242内。从而，使得载带能够在主动齿轮222的带动下向前移动，不会出现打滑的现象。在入料装置2和外观检测装置4之间、外观检测装置4本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：包括工作台(1)、设置在工作台(1)上且用于传送载带的入料装置(2)、出料装置(3)，在所述入料装置(2)和出料装置(3)之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置(4)；/n所述外观检测装置(4)包括竖直设置在载带一侧的安装板(41)，位于所述安装板(41)上且用于拍摄载带的识别相机(42)，在所述安装板(41)上且位于所述识别相机(42)两侧设置有光源(43)，所述光源(43)照射载带的光照点与载带上识别相机(42)拍摄点相同。/n
【技术特征摘要】
1.一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：包括工作台(1)、设置在工作台(1)上且用于传送载带的入料装置(2)、出料装置(3)，在所述入料装置(2)和出料装置(3)之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置(4)；
所述外观检测装置(4)包括竖直设置在载带一侧的安装板(41)，位于所述安装板(41)上且用于拍摄载带的识别相机(42)，在所述安装板(41)上且位于所述识别相机(42)两侧设置有光源(43)，所述光源(43)照射载带的光照点与载带上识别相机(42)拍摄点相同。
2.根据权利要求1所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述外观检测装置(4)在载带上侧间隔设置有两组，所述外观检测装置(4)在载带下侧设置有一组。
3.根据权利要求1所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述入料装置(2)包括设置在所述工作台(1)上的若干传送齿轮(21)、以及设置在工作台(1)上且位于外观检测装置(4)远离传送齿轮(21)一侧用于对载带进行驱动的传动组件(22)。
4.根据权利要求3所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述传动组件(22)包括安装架(221)，设置在所述安装架(221)上的主动齿轮(222)、以及转动设置在所述安装架(221)上且可转动扣合在所述安装架(221)上的扣合架(223)、以及带动主动齿轮(222)转动的电机...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵开宝，林吉祥，王庆山，
申请(专利权)人：沈阳威构科技有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21
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