镜片参数测量承载装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种镜片参数测量承载装置，其包括第一承载盘、第二承载盘及支撑座。该第一承载盘具有多个第一容置通孔及第一锁固结构，该第二承载盘具有多个第二容置通孔及第二锁固结构，该第一承载盘与第二承载盘相互扣合，用于使多个第一容置通孔与多个第二容置通孔相互配合以固定多个待测量镜片。该支撑座具有第三锁固结构，通过第一锁固结构与第三锁固结构的配合，或第二锁固结构与第三锁固结构的配合，以选择性将第一承载盘或第二承载盘固定于支撑座。该镜片参数测量承载装置可固定多个待测量镜片进行参数测量，不仅固定简单方便，且可快速实现多个待测量镜片的待测量表面的转换，有利于提高镜片参数量测速度和准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种承载装置，尤其涉及一种便于装载镜片进行参数量测的承载装置。技术背景镜头模组中的镜片质量通常是影响镜头模组质量的关键，因此，在进行镜头模组组装之 前，通常需要对镜片进行各种参数的测量，以检测镜片质量的好坏。例如，成型后的镜片通 常需要进行镜片面型精度PV值(Peak to Valley)的测量，PV值是镜片表面的整个面型的最大 峰谷值，体现了镜片光圈的变形程度，是镜片质量的重要参数之一。现有技术的镜片面型精度PV值的测量过程中，通常是将待测量镜片放入具有通孔的金属 模块中，再将两块磁铁放置于金属模块上，利用两块磁铁的磁力和金属模块的相互吸引配合 作用，将待测量镜片固定在金属模块的通孔中，并露出待测量镜片的待测量表面，最后再将 固定好待测量镜片的金属模块固定到PV值测量装置上进行测量。但是，由于该固定待测量镜 片进行测量的方式并不是非常方便，固定后只能对待测量镜片的一个待测量表面进行测量， 无法快速转换到待测量镜片的另一个待测量表面进行测量。特别是当需要对不同尺寸的待测 量镜片进行测量时，或当需要对大批量的待测量镜片进行测量时，通常需要频繁的更换待测 量镜片进行固定测量，这样一来不仅需要耗费较多的时间，而且还会导致镜片固定不好，从 而影响镜片PV值的测量速度和准确度。因此，有必要提供一种镜片参数测量承载装置，以便于装载镜片进行参数测量，从而进 一步提高镜片参数测量的速度和准确度。
技术实现思路
以下以实施例说明一种镜片参数测量承载装置。所述镜片参数测量承载装置，其包括第一承载盘、第二承载盘及支撑座，该第一承载盘 具有多个第一容置通孔及第一锁固结构，该第二承载盘具有多个与所述多个第一容置通孔相 对应的第二容置通孔及第二锁固结构，该第一承载盘与第二承载盘相互扣合，用于使多个第 一容置通孔与多个第二容置通孔相互配合以固定多个待测量镜片，该支撑座具有与第一锁固 结构及第二锁固结构对应的第三锁固结构，通过第一锁固结构与第三锁固结构的配合，或第 二锁固结构与第三锁固结构的配合，用以选择性将第一承载盘或第二承载盘固定于支撑座， 进而选择性露出待测量镜片的待测量表面。与现有技术相比，所述镜片参数测量承载装置包括具有多个第一容置通孔和第一锁固结 构的第一承载盘和具有多个第二容置通孔和第二锁固结构的第二承载盘，及具有第三锁固结 构的支撑座，该第一承载盘与第二承载盘相互扣合，通过第一锁固结构与第三锁固结构配合 或第二锁固结构与第三锁固结构配合，可选择性的固定第一承载盘或第二承载盘于支撑座， 从而可同时装载固定多个待测量镜片进行参数测量，不仅使测量多个待测量镜片时的固定简 单方便，各个镜片的固定良好，而且可快速实现多个待测量镜片的待测量表面的转换，有利 于提高镜片参数量测的速度和准确度。附图说明图l是本技术方案实施例一提供的镜片参数测量承载装置的立体示意图。图2是本技术方案实施例一提供的镜片参数测量承载装置的沿对角线的剖视图。图3是本技术方案实施例一提供的镜片参数测量承载装置放置待测量镜片的局部放大4A 4B是本技术方案实施例一提供的镜片参数测量承载装置的使用状态局部放大示意图。图5是本技术方案实施例二提供的镜片参数测量承载装置的立体示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术方案实施例提供的镜片参数测量承载装置作进一步说明。请参阅图1和图2，本技术方案实施例一提供一种镜片参数测量承载装置100，其包括第 一承载盘20、第二承载盘30及支撑座40。第一承载盘20的形状可根据实际需要设计。本实施例中，该第一承载盘20呈方形。该第 一承载盘20包括第一表面21及与第一表面21相对的第二表面22。该第一表面21设有多个贯通 于第二表面22的第一容置通孔23，该容置通孔23为阶梯形通孔结构，用于放置待测量镜片。 该多个第一容置通孔23的形状大小可根据待测量镜片的实际形状大小来设计，可为与待测量 镜片大小相匹配的圆形通孔或方形通孔，且每个第一容置通孔23的形状大小可相同也可不同 。本实施例中，该多个第一容置通孔23为大小形状均相同的圆形通孔。该第一容置通孔23包括靠近第一表面21—端的第一通孔231和靠近第二表面22—端的第 二通孔232，该第一通孔231的内切圆直径大于第二通孔232的内切圆直径，从而使得第一容 置通孔23呈阶梯形通孔结构。该阶梯形的通孔结构在靠近第二表面22—端形成阻挡，以使待 测量镜片可固定位于第一容置通孔23中，不会落出，同时便于待测量镜片的待测量表面可以 露出便于测量。该第一通孔231的内切圆直径应当等于待测量镜片的直径。该第二通孔232的内切圆直径应当小于待测量镜片的直径且大于或等于待测量镜片的待测量表面的直径。另外 ，第一通孔231与第一表面21交接处可设置为倒角结构。此外，第一承载盘20设有多个第一锁固结构24，用于将第一承载盘20固定于支撑座40。 本实施例中，多个第一锁固结构24为贯通于第一表面21和第二表面22的通孔结构，该多个第 一锁固结构24与支撑座40上的相应螺孔的位置相对应、形状大小相匹配，并通过螺钉连接固 定。该第一承载盘20的第一表面21还可设置多个凸柱25，以使第一承载盘20直接与第二承载 盘30进行卡扣配合。该凸柱25可为圆形柱、椭圆形柱或方形柱，该多个凸柱25可与多个第一 锁固结构24呈间隔排列。本实施例中，第一承载盘20为方形结构，在第一承载盘20的两个对 角处设置第一锁固结构24，该第一锁固结构24与支撑座40上的相应螺孔的位置相对应、形状 大小相匹配；在第一承载盘20的另外两个对角处的第一表面21设置两个凸柱25，该凸柱25为 圆形柱。第二承载盘30与该第一承载盘20的形状大小相匹配，也呈方形。该第二承载盘30包括第 三表面31及与第三表面31相对的第四表面32。该第三表面31设有多个与第一承载盘20的第一 容置通孔23位置相对应、形状相匹配、并贯通于第四表面32的第二容置通孔33。该第二容置 通孔33可为与第一容置通孔23位置相对应、形状相匹配的圆形通孔或方形通孔。本实施例中 ，该第二容置通孔33为圆形通孔。该第二容置通孔33的内切圆直径小于第一容置通孔23的第 一通孔231的内切圆直径，即待测量镜片的直径，且大于或等于待测量镜片的待测量表面的 直径。当第二承载盘30与第一承载盘20相互扣合后，使待测量镜片可固定位于第一容置通孔 23和第二容置通孔33中，同时便于露出待测量镜片的待测量表面进行参数测量。当然，该第 二容置通孔33也可为呈阶梯形通孔结构，以配合第一容置通孔23固定待测量镜片为宜。另外 ，第二容置通孔33与第四表面32交接处可设置为倒角结构。此外，该第二承载盘30设有多个第二锁固结构34，用于将第二承载盘30固定于支撑座 40。第二锁固结构34与支撑座40上的相应螺孔的位置相对应、形状大小相匹配，并通过螺钉 连接固定。本实施例中，多个第二锁固结构34为贯通于第三表面31和第四表面32的通孔结构 ，与支撑座40上相应的螺孔通过螺钉连接固定。该第二承载盘30的第三表面31还可设置多个 卡扣孔35，其与第一承载盘20的多个凸柱25位置相对应、形状大小相匹配，以使第一承载盘 20可直接与第二承载盘30通过凸柱25与卡扣孔35进行卡扣配合固定待测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种镜片参数测量承载装置，其包括第一承载盘、第二承载盘及支撑座，该第一承载盘具有多个第一容置通孔及第一锁固结构，该第二承载盘具有多个与所述多个第一容置通孔相对应的第二容置通孔及第二锁固结构，该第一承载盘与第二承载盘相互扣合，用于使多个第一容置通孔与多个第二容置通孔相互配合以固定多个待测量镜片，该支撑座具有与第一锁固结构及第二锁固结构对应的第三锁固结构，通过第一锁固结构与第三锁固结构的配合，或第二锁固结构与第三锁固结构的配合，用以选择性地将第一承载盘或第二承载盘固定于支撑座，进而选择性露出待测量镜片的待测量表面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王俊凯，胡璧辉，郭原隆，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]