上电复位电路及芯片制造技术

技术编号:25604612 阅读:40 留言:0更新日期:2020-09-12 00:00
本发明专利技术实施例提供一种上电复位电路及芯片,属于芯片领域。所述上电复位电路包括:包括电容模块、开关模块和波形整形模块,在电源电压上升阶段,所述开关模块用于在所述电源电压大于第一预设值的情况下接通,其中在所述开关模块未接通的情况下,所述第一电压处于上升状态,在所述开关模块接通的情况下,所述第一电压处于下降状态,所述波形整形模块,用于对所述第一电压进行整形并将整形后的电压作为复位信号输出。其在电源电压上电缓慢时芯片仍然能够正常复位,并且在电源快速掉电重启时,仍然能够正常产生二次复位信号。

【技术实现步骤摘要】
上电复位电路及芯片
本专利技术涉及芯片领域,具体地涉及一种上电复位电路及芯片。
技术介绍
芯片在电源上电或掉电重启时,需要一个复位信号来初始化寄存器及锁存器等存储单元,然后才能正常进入工作状态。因此复位电路对电路能否正常的启动工作至关重要。相关技术中,可以采用图1所示的上电复位电路,电源上电后,NMOS管M11对电容C11充电。因为电容两端电压不能突变,会使输出电压相对于电源电压VDD产生一定的滞后,使得反相器INV11的输出端Vout首先输出高电平的复位信号,芯片进入复位状态,随着电容两端的电压逐渐升高,反相器的输出端Vout输出的复位信号的电平值发生翻转,芯片退出复位状态。该电路结构简单,但是当上电较为缓慢时,与电源的相对延时减少,就会在反相器的输出端Vout产生一个低矮的复位信号(即,输出信号幅值较低),无法使系统正常复位。图2所示的上电复位电路为充电箝位上电复位电路,只有当电源电压VDD升高到高于左侧的NMOS管M21、M22和M23的开启电压之和时,右侧的NMOS管M20才能够给电容C21充电,使得反相器INV本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上电复位电路,其特征在于,所述上电复位电路包括电容模块、开关模块和波形整形模块,/n所述电容模块的一端与电源相连接,所述电容模块的另一端接地,所述电源用于对所述电容模块进行充电,所述电容模块用于将充电电流转换为第一电压输出,/n所述开关模块的一端与所述电源耦合,所述开关模块的另一端接地,其中,在电源电压上升阶段,所述开关模块用于在所述电源电压大于第一预设值的情况下接通,其中在所述开关模块未接通的情况下,所述第一电压处于上升状态,在所述开关模块接通的情况下,所述第一电压处于下降状态,/n所述波形整形模块,用于对所述第一电压进行整形并将整形后的电压作为复位信号输出。/n

【技术特征摘要】
1.一种上电复位电路,其特征在于,所述上电复位电路包括电容模块、开关模块和波形整形模块,
所述电容模块的一端与电源相连接,所述电容模块的另一端接地,所述电源用于对所述电容模块进行充电,所述电容模块用于将充电电流转换为第一电压输出,
所述开关模块的一端与所述电源耦合,所述开关模块的另一端接地,其中,在电源电压上升阶段,所述开关模块用于在所述电源电压大于第一预设值的情况下接通,其中在所述开关模块未接通的情况下,所述第一电压处于上升状态,在所述开关模块接通的情况下,所述第一电压处于下降状态,
所述波形整形模块,用于对所述第一电压进行整形并将整形后的电压作为复位信号输出。


2.根据权利要求1所述的上电复位电路,其特征在于,所述电容模块包括:第一电阻、第一NMOS管和第二NMOS管,
其中所述第一电阻的一端与所述电源相连接,所述第一NMOS管的栅极与所述第一电阻的另一端相连接,所述第一NMOS管的漏极和源极接地,所述第二NMOS管的栅极与所述第一电阻的另一端相连接,所述第二NMOS管的漏极和源极接地。


3.根据权利要求2所述的上电复位电路,其特征在于,所述开关模块包括第三NMOS管和第四NMOS管,其中所述第三NMOS管的栅极与所述电源相连接,所述第三NMOS管的漏极与所述第一电阻的另一端相连接,所述第四NMOS管的栅极和漏极均与所述第三NMOS管的源极相连接,所述第四NMOS管的源极接地。


4.根据权利要求3所述的上电复位电路,其特征在于,所述第一预设值为所述第三NMOS管的开启电压和所述第四NMOS管的开启电压之和。


5.根据权利要求3或4所述的上电复位电路,其特征在于,所述波形整形模...

【专利技术属性】
技术研发人员:李德建王小曼杨立新杨小坤万培元白涛白志华陈志杰沈冲飞华斌
申请(专利权)人:北京智芯微电子科技有限公司国网信息通信产业集团有限公司国网上海市电力公司国家电网有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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