Mura检测方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种mura检测方法、装置及可读存储介质，检测方法包括：获取原始图像信号；从原始图像信号中获取目标测试图像；获取目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；对目标测试区域进行处理以得到目标测试区域的灰阶分布；根据灰阶分布得到目标测试区域的亮度梯度分布；根据目标测试区域的亮度梯度分布计算SEMU值；根据SEMU值获取mura区域对应位置。通过上述实施方式，本申请能够实现对晕影现象的进行客观测量及评价。

【技术实现步骤摘要】
Mura检测方法、装置及可读存储介质
本申请涉及灰阶亮度调节
，特别是涉及一种mura检测方法、装置及可读存储介质。
技术介绍
区域调光(localdiming)技术是指将LCD的背光分成N多小区域(Block)；工作时，根据相应小区域对应液晶显示的内容的灰度，来调整背光的明暗度；以此达到节能、增强画质的目的。随着技术的发展区域调光容易引入Halo(晕影)现象，mura的一种，即受限于背光分区面板本来的对比度特性等，在高亮的像素旁边的黑色像素处会出现晕影的现象，影响高对比图像的显示效果，因此现象区域较小，无法使用光学测量仪器进行量测，且现有技术一般为人眼进行主观性评价，无法客观测量。
技术实现思路
本申请提供一种mura检测方法、装置及可读存储介质，能够解决现有技术中无法对晕影现象的进行客观测量及评价的问题。为解决上述技术问题，本申请采用的一种技术方案是：提供一种mura的检测方法，所述检测方法包括：获取原始图像信号；从所述原始图像信号中获取目标测试图像；获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEMU值；根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置。其中，所述对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布包括：调整所述目标测试区域的位置；获取所述目标测试区域中每一像素的RGB灰阶值。<br>其中，所述根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布包括：将所述目标测试区域中的每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换，以获得其在颜色系统的三刺激值XYZ；根据所述三刺激值得到所述目标测试区域的亮度梯度分布。其中，所述对每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换采用公式为：其中，A为转换矩阵其中，所述SEMU值计算公式为：|Cx|＝|C1-C2|/C2其中，C1为所述mura区域的平均灰阶值，C2为所述mura区域之外的平均灰阶值，Sx为所述mura区域的面积，所述SEMU为所述mura区域的mura等级。其中，所述根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置包括：获取所述SEMU值与所述mura区域的位置关系曲线；根据所述位置关系曲线的峰值判定所述mura区域对应宽度。其中，所述根据所述位置关系曲线的峰值判定所述mura区域对应宽度包括：设定所述位置关系曲线的预设临界值；根据所述临界值获取所述mura区域对应宽度。其中，所述所述从所述原始图像信号中获取目标测试图像包括：从所述原始图像信号中获取多张预设拍摄角度的图像；从所述多张预设拍摄角度的图像中选择符合测试条件的作为所述目标测试图像。为解决上述技术问题，本申请采用的另一种技术方案是：提供一种mura检测装置，所述检测装置包括：第一获取模块，用于获取原始图像信号第二获取模块，用于从所述原始图像信号中获取目标测试图像；第三获取模块，用于获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；处理模块，用于对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；亮度梯度获取模块，用于根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；计算模块，用于根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEUM值；位置获取模块，用于根据所述SEUM值获取所述mura区域对应位置。为解决上述技术问题，本申请采用的又一种技术方案是，提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载以执行上述中任一项所述的检测方法。本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供一种mura检测方法、装置及可读存储介质，通过对获取到的原始图像信息进行处理获得目标测试区域的亮度梯度曲线图，同时结合SEMU计算获得SEMU和图像的位置关系曲线，根据位置关系曲线获取mura区域对应位置，实现对halo现象的客观测量和评价。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：图1是本申请mura检测方法一实施方式的流程示意图；图2是本申请原始图像信号的示意图；图3是本申请步骤S200一实施方式的流程示意图；图4是本申请目标测试图像一实施方式的示意图；图5是本申请步骤S400一实施方式的流程示意图；图6是本申请步骤S500一实施方式的流程示意图；图7是本申请步骤S700一实施方式的流程示意图；图8是本申请步骤S720一实施方式的流程示意图；图9是本申请归一化的强度梯度分布图；图10是本申请SEMU值与mura区域的位置关系曲线图；图11是本申请mura检测装置一实施方式的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。可以理解的是，本申请中的mura区域则可以表示halo现象所在的区域，也即是本申请的halo现象视为mura的一种。请参阅图1，图1为本申请mura检测方法一实施方式的流程示意图，如图1所示，本申请提供的mura检测方法包括如下步骤：S100，获取原始图像信号。结合图2，图2为本申请获取到原始图像信号100的示意图，其中，原始图像信号100中间区域为白色像素110所在位置。S200，从原始图像信号中获取目标测试图像。可选地，进一步结合图3，图3为本申请步骤S200一实施方式的流程示意图，且步骤S20本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：/n获取原始图像信号；/n从所述原始图像信号中获取目标测试图像；/n获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；/n对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；/n根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；/n根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEMU值；/n根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取原始图像信号；
从所述原始图像信号中获取目标测试图像；
获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；
对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；
根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；
根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEMU值；
根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布包括：
调整所述目标测试区域的位置；
获取所述目标测试区域中每一像素的RGB灰阶值。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布包括：
将所述目标测试区域中的每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换，以获得其在颜色系统的三刺激值XYZ；
根据所述三刺激值得到所述目标测试区域的亮度梯度分布。


4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述对每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换采用公式为：



其中，A为转换矩阵





5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述SEMU值计算公式为：



|Cx|＝|C1-C2|/C2
其中，C1为所述mura区域的平均灰阶值，C2为所述mura区域之外的平均灰阶值，Sx为所述mura区域的面积，所述SEMU为所述mura区域的mura等...

【专利技术属性】
技术研发人员：王艳雪，
申请(专利权)人：惠州市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44