Mura检测方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种mura检测方法、装置及可读存储介质，检测方法包括：获取原始图像信号；从原始图像信号中获取目标测试图像；获取目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；对目标测试区域进行处理以得到目标测试区域的灰阶分布；根据灰阶分布得到目标测试区域的亮度梯度分布；根据目标测试区域的亮度梯度分布计算SEMU值；根据SEMU值获取mura区域对应位置。通过上述实施方式，本申请能够实现对晕影现象的进行客观测量及评价。

【技术实现步骤摘要】
Mura检测方法、装置及可读存储介质
本申请涉及灰阶亮度调节
，特别是涉及一种mura检测方法、装置及可读存储介质。
技术介绍
区域调光(localdiming)技术是指将LCD的背光分成N多小区域(Block)；工作时，根据相应小区域对应液晶显示的内容的灰度，来调整背光的明暗度；以此达到节能、增强画质的目的。随着技术的发展区域调光容易引入Halo(晕影)现象，mura的一种，即受限于背光分区面板本来的对比度特性等，在高亮的像素旁边的黑色像素处会出现晕影的现象，影响高对比图像的显示效果，因此现象区域较小，无法使用光学测量仪器进行量测，且现有技术一般为人眼进行主观性评价，无法客观测量。
技术实现思路
本申请提供一种mura检测方法、装置及可读存储介质，能够解决现有技术中无法对晕影现象的进行客观测量及评价的问题。为解决上述技术问题，本申请采用的一种技术方案是：提供一种mura的检测方法，所述检测方法包括：获取原始图像信号；从所述原始图像信号中获取目标测试图像；获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：/n获取原始图像信号；/n从所述原始图像信号中获取目标测试图像；/n获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；/n对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；/n根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；/n根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEMU值；/n根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取原始图像信号；
从所述原始图像信号中获取目标测试图像；
获取所述目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；
对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布；
根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布；
根据所述目标测试区域的所述亮度梯度分布计算SEMU值；
根据所述SEMU值获取所述mura区域对应位置。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述目标测试区域进行处理以得到所述目标测试区域的灰阶分布包括：
调整所述目标测试区域的位置；
获取所述目标测试区域中每一像素的RGB灰阶值。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述灰阶分布得到所述目标测试区域的亮度梯度分布包括：
将所述目标测试区域中的每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换，以获得其在颜色系统的三刺激值XYZ；
根据所述三刺激值得到所述目标测试区域的亮度梯度分布。


4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述对每一所述像素的RGB灰阶值进行色度转换采用公式为：



其中，A为转换矩阵





5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述SEMU值计算公式为：



|Cx|＝|C1-C2|/C2
其中，C1为所述mura区域的平均灰阶值，C2为所述mura区域之外的平均灰阶值，Sx为所述mura区域的面积，所述SEMU为所述mura区域的mura等...

【专利技术属性】
技术研发人员：王艳雪，
申请(专利权)人：惠州市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44