光电检测设备制造技术

本公开涉及自动检测技术领域，提出了一种光电检测设备。光电检测设备包括上料部、传输组件以及检测组件，上料部用于承载待检测膜料；传输组件用于驱动上料部移动；检测组件设置在上料部的移动路径上，检测组件包括透光率检测部和面电阻检测部，以用于测量待检测膜料的光学透光率和面电阻。本公开的光电检测设备通过上料部、传输组件以及检测组件的透光率检测部和面电阻检测部能够实现对待检测膜料的光学透光率和面电阻的自动测量，以此判断待检测膜料是否合格。由于整个过程属于自动化测量，提高了检测效率，且适合生产线的批量快速检测。

【技术实现步骤摘要】
光电检测设备
本公开涉及自动检测
，尤其涉及一种光电检测设备。
技术介绍
石墨烯材料具有优异的电学、力学、光学以及热力学等性质，是一种是综合性能优秀、极具应用前景的新型材料。目前国内外多家科研院所和企业都已经实现了石墨烯薄膜材料的中试级规模化生产，但是由于设备不稳定或工艺不成熟所得到材料的性能均一性比较差。高品质石墨烯材料的批量稳定制备有助于下游的规模化应用，因此针对石墨烯薄膜材料批量制备生产线的过程检测尤为重要。当前行业内针对石墨烯薄膜材料的检测主要是采取手动单点的检测方式，通常还需要特殊制样，属于离线式的检测手段，效率低，不适合用于生产线的批量快速检测。
技术实现思路
本公开的一个主要目的在于克服上述现有技术的至少一种缺陷，提供一种光电检测设备。本技术提供了一种光电检测设备，包括：上料部，上料部用于承载待检测膜料；传输组件，传输组件用于驱动上料部移动；检测组件，检测组件设置在上料部的移动路径上，检测组件包括透光率检测部和面电阻检测部，以用于测量待检测膜料的光学透光率和面电阻。在本技术的一个实施例中，传输组件包括：第一传输部；第二传输部，第一传输部与第二传输部间隔设置且延伸方向相一致，第一传输部与第二传输部之间形成检测间隙；其中，透光率检测部的至少部分和面电阻检测部的至少部分均与检测间隙相对设置，以在上料部带动待检测膜料移动至与检测间隙相对的位置后，透光率检测部和面电阻检测部用于测量待检测膜料的光学透光率和面电阻。在本技术的一个实施例中，透光率检测部包括第一探头和第二探头，第一探头和面电阻检测部均位于检测间隙的上方，第二探头的至少部分位于检测间隙内或检测间隙的下方；其中，第一探头和第二探头相对设置。在本技术的一个实施例中，上料部为镂空结构，以避免遮挡第一探头和第二探头测量待检测膜料的光学透光率。在本技术的一个实施例中，透光率检测部和面电阻检测部均可移动地设置，以调节透光率检测部和面电阻检测部与上料部上的待检测膜料之间的相对位置。在本技术的一个实施例中，光电检测设备还包括：横移机构，横移机构设置在上料部的移动路径上，检测组件设置在横移机构上，横移机构驱动检测组件沿垂直于上料部的移动方向的方向移动。在本技术的一个实施例中，透光率检测部包括相对设置的第一探头和第二探头，横移机构包括：第一横移部，第一横移部位于传输组件的上方，第一探头和面电阻检测部设置在第一横移部上；第二横移部，第一横移部与第二横移部相对设置，且第二横移部位于传输组件的下方，第二探头设置在第二横移部上；驱动部，驱动部与第一横移部以及第二横移部均驱动连接，以通过第一横移部和第二横移部驱动第一探头、面电阻检测部以及第二探头同步移动。在本技术的一个实施例中，光电检测设备还包括：升降机构，升降机构可移动地设置在横移机构上，检测组件设置在升降机构上，以使检测组件通过升降机构设置在横移机构上；其中，升降机构位于传输组件的上方，升降机构驱动检测组件的部分沿靠近或远离上料部的方向可移动地设置。在本技术的一个实施例中，光电检测设备还包括：旋转驱动机构，旋转驱动机构设置在升降机构上，旋转驱动机构包括第一安装端和第二安装端，第一安装端和第二安装端分别朝向两个方向，透光率检测部的部分和面电阻检测部分别设置在第一安装端和第二安装端上，以使旋转驱动机构驱动透光率检测部或面电阻检测部朝向待检测膜料。在本技术的一个实施例中，透光率检测部的部分和面电阻检测部直接设置在升降机构上，且均朝向传输组件的延伸方向设置，以用于同时获取待检测膜料的光学透光率和面电阻。本技术的光电检测设备通过上料部、传输组件以及检测组件的透光率检测部和面电阻检测部能够实现对待检测膜料的光学透光率和面电阻的自动测量，以此判断待检测膜料是否合格。由于整个过程属于自动化测量，提高了检测效率，且适合生产线的批量快速检测。附图说明通过结合附图考虑以下对本公开的优选实施方式的详细说明，本公开的各种目标，特征和优点将变得更加显而易见。附图仅为本公开的示范性图解，并非一定是按比例绘制。在附图中，同样的附图标记始终表示相同或类似的部件。其中：图1是根据一示例性实施方式示出的一种光电检测设备的结构示意图；图2是根据一示例性实施方式示出的一种光电检测设备的部分结构示意图；图3是根据另一示例性实施方式示出的一种光电检测设备的结构示意图；图4是根据另一示例性实施方式示出的一种光电检测设备的部分结构示意图；图5是根据一示例性实施方式示出的一种光电检测方法的流程示意图；图6是根据另一示例性实施方式示出的一种光电检测方法的流程示意图。附图标记说明如下：10、上料部；20、传输组件；21、第一传输部；22、第二传输部；23、检测间隙；30、检测组件；40、透光率检测部；41、第一探头；42、第二探头；50、电阻检测部；60、横移机构；61、第一横移部；62、第二横移部；63、驱动部；70、升降机构；80、旋转驱动机构；81、第一安装端；82、第二安装端。具体实施方式体现本公开特征与优点的典型实施例将在以下的说明中详细叙述。应理解的是本公开能够在不同的实施例上具有各种的变化，其皆不脱离本公开的范围，且其中的说明及附图在本质上是作说明之用，而非用以限制本公开。在对本公开的不同示例性实施方式的下面描述中，参照附图进行，附图形成本公开的一部分，并且其中以示例方式显示了可实现本公开的多个方面的不同示例性结构，系统和步骤。应理解的是，可以使用部件，结构，示例性装置，系统和步骤的其他特定方案，并且可在不偏离本公开范围的情况下进行结构和功能性修改。而且，虽然本说明书中可使用术语“之上”，“之间”，“之内”等来描述本公开的不同示例性特征和元件，但是这些术语用于本文中仅出于方便，例如根据附图中的示例的方向。本说明书中的任何内容都不应理解为需要结构的特定三维方向才落入本公开的范围内。本技术的一个实施例提供了一种光电检测设备，请参考图1至图4，光电检测设备包括：上料部10，上料部10用于承载待检测膜料；传输组件20，传输组件20用于驱动上料部10移动；检测组件30，检测组件30设置在上料部10的移动路径上，检测组件30包括透光率检测部40和面电阻检测部50，以用于测量待检测膜料的光学透光率和面电阻。本技术一个实施例的光电检测设备通过上料部10、传输组件20以及检测组件30的透光率检测部40和面电阻检测部50能够实现对待检测膜料的光学透光率和面电阻的自动测量，以此判断待检测膜料是否合格。由于整个过程属于自动化测量，提高了检测效率，且适合生产线的批量快速检测。在一个实施例中，光电检测设备可用于对石墨烯薄膜材料进行检测，即待检测膜料为石墨烯薄膜材料。光学透光率和面电阻两项指标是石墨烯薄膜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电检测设备，其特征在于，包括：/n上料部(10)，所述上料部(10)用于承载待检测膜料；/n传输组件(20)，所述传输组件(20)用于驱动所述上料部(10)移动；/n检测组件(30)，所述检测组件(30)设置在所述上料部(10)的移动路径上，所述检测组件(30)包括透光率检测部(40)和面电阻检测部(50)，以用于测量所述待检测膜料的光学透光率和面电阻。/n

【技术特征摘要】
1.一种光电检测设备，其特征在于，包括：
上料部(10)，所述上料部(10)用于承载待检测膜料；
传输组件(20)，所述传输组件(20)用于驱动所述上料部(10)移动；
检测组件(30)，所述检测组件(30)设置在所述上料部(10)的移动路径上，所述检测组件(30)包括透光率检测部(40)和面电阻检测部(50)，以用于测量所述待检测膜料的光学透光率和面电阻。


2.根据权利要求1所述的光电检测设备，其特征在于，所述传输组件(20)包括：
第一传输部(21)；
第二传输部(22)，所述第一传输部(21)与所述第二传输部(22)间隔设置且延伸方向相一致，所述第一传输部(21)与所述第二传输部(22)之间形成检测间隙(23)；
其中，所述透光率检测部(40)的至少部分和所述面电阻检测部(50)的至少部分均与所述检测间隙(23)相对设置，以在所述上料部(10)带动所述待检测膜料移动至与所述检测间隙(23)相对的位置后，所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)用于测量所述待检测膜料的光学透光率和面电阻。


3.根据权利要求2所述的光电检测设备，其特征在于，所述透光率检测部(40)包括第一探头(41)和第二探头(42)，所述第一探头(41)和所述面电阻检测部(50)均位于所述检测间隙(23)的上方，所述第二探头(42)的至少部分位于所述检测间隙(23)内或所述检测间隙(23)的下方；
其中，所述第一探头(41)和所述第二探头(42)相对设置。


4.根据权利要求3所述的光电检测设备，其特征在于，所述上料部(10)为镂空结构，以避免遮挡所述第一探头(41)和所述第二探头(42)测量所述待检测膜料的光学透光率。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的光电检测设备，其特征在于，所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)均可移动地设置，以调节所述透光率检测部(40)和所述面电阻检测部(50)与所述上料部(10)上的所述待检测膜料之间的相对位置。


6.根据权利要求5所述的光电检测设备，其特征在于，所述光电检测设备还包括：
横移机构(60)，所述横移机构(60)设置在所述上料部(10)的移动路径上，所述检测组件(30)设置在所述横移机构(60)上，所述横移机构(60)驱动所述检测组件(30)沿垂直于...

【专利技术属性】
技术研发人员：周竞辉，高鹏，高翾，张风港，
申请(专利权)人：北京石墨烯研究院，
类型：新型
国别省市：北京;11