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一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统技术方案

技术编号:25576069 阅读:30 留言:0更新日期:2020-09-08 20:11
本实用新型专利技术公开了一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统;属于光学相住测量技术领域;其技术要点包括安装架,所述安装架上设置有显微镜支架,在显微镜支架上通过升降机构活动连接有载物台;在载物台下方设置有与载物台通光孔相对应的非偏振分束镜;在显微镜支架侧边的安装架上设有朝向非偏振分束镜的LED光源,在LED光源与非偏振分束镜之间设置有第一光学4F系统;在显微镜支架上方的安装架上设置有与载物台通光孔相对应的相机,在相机与载物台通光孔之间设置有与第一光学4F系统相互垂直的第二光学4F系统;本实用新型专利技术旨在提供一种结构紧凑、成本较低且使用方便的基于光强传输方程的非干涉相位测量系统;用于相位测量。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统
本技术涉及一种相位测量系统,更具体地说,尤其涉及一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统。
技术介绍
1983年,Teague利用亥姆霍兹方程在傍轴近似的条件下推导出了光强传输方程。通过记录光轴方向多个平面的强度图像,求解二阶微分方程,即可实现基于光强传输方程的非干涉相位测量,具有非接触、非迭代、无需相位解包裹等优点,广泛应用于细胞形态学分析、微光学元件检测等领域中。基于光强传输方程的相位测量系统大多使用激光作为光源,或者借助商业显微镜搭建。选用激光作为光源,存在激光散斑噪声,影响相位测量结果。虽然借助商业显微镜可以方便、简单地搭建非干涉相位测量系统,避免了激光散斑噪声,但是成本较贵,体积较为庞大。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述现有技术的不足,提供一种结构紧凑、成本较低且使用方便的基于光强传输方程的非干涉相位测量系统。本技术的技术方案是这样实现的:一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统,包括安装架,所述安装架上设置有显微镜支架,在显微镜支架上通过升降机构活动连本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统,包括安装架(1),其特征在于,所述安装架(1)上设置有显微镜支架(2),在显微镜支架(2)上通过升降机构活动连接有载物台(3);在载物台(3)下方设置有与载物台(3)通光孔相对应的非偏振分束镜(4);/n在显微镜支架(2)侧边的安装架(1)上设有朝向非偏振分束镜(4)的LED光源(5),在LED光源(5)与非偏振分束镜(4)之间设置有第一光学4F系统(6);/n在显微镜支架(2)上方的安装架(1)上设置有与载物台(3)通光孔相对应的相机(7),在相机(7)与载物台(3)通光孔之间设置有与第一光学4F系统(6)相互垂直的第二光学4F系统(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统,包括安装架(1),其特征在于,所述安装架(1)上设置有显微镜支架(2),在显微镜支架(2)上通过升降机构活动连接有载物台(3);在载物台(3)下方设置有与载物台(3)通光孔相对应的非偏振分束镜(4);
在显微镜支架(2)侧边的安装架(1)上设有朝向非偏振分束镜(4)的LED光源(5),在LED光源(5)与非偏振分束镜(4)之间设置有第一光学4F系统(6);
在显微镜支架(2)上方的安装架(1)上设置有与载物台(3)通光孔相对应的相机(7),在相机(7)与载物台(3)通光孔之间设置有与第一光学4F系统(6)相互垂直的第二光学4F系统(8)。


2.根据权利要求1所述的一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统,其特征在于,所述第一光学4F系统(6)由沿光线前进方向依序设置的第一物镜(6a)、孔径光阑(6b)和第一透镜(6c)组成;所述孔径光阑(6b)位于第一物镜(6a)的后焦点位置,所述第一物镜(6a)的后焦点位置与第一透镜(6c)的前焦点位置重合。


3.根据权利要求1所述的一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统,其特征在于,所述第二光学4F系统(8)由第二物镜(8a)和第二透镜(8b)组成;所述第二物镜(8a)后焦点位置和第二透镜(8b)前焦点位置重合;所述第二物镜(8a)为多倍率显微物镜...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓定南江泽标郑兆聪
申请(专利权)人:嘉应学院
类型:新型
国别省市:广东;44

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