一种同步测量码盘装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种同步测量码盘装置，所述同步测量码盘装置包括电机、测量码盘及采集装置，所述测量码盘包括第一码盘及第二码盘，所述第一码盘与所述第二码盘为相互啮合的齿轮，且所述第一码盘与所述电机的输出轴连接；所述第一码盘上开设有多个第一信号开槽，多个所述第一信号开槽围设于所述第一码盘中心且贯穿所述第一码盘，所述第二码盘上开设有多个第二信号开槽，多个所述第二开槽围设于所述第二码盘的中心，且贯穿所述第二码盘；所述采集装置设置于所述第一码盘及所述第二码盘的边沿。

【技术实现步骤摘要】
一种同步测量码盘装置
本技术涉及码盘数据测量领域，尤其涉及一种同步测量码盘装置。
技术介绍
码盘是指测量角位移的数字编码器，其通过将输出轴上的机械几何位移转换成脉冲数字量的传感器。即码盘是在一定直径的圆板上开通若干个孔，由电机的输出轴带动码盘同步转动，经过发光二极管等电子元件组成的检测装置输出若干脉冲信号，通过对脉冲信号的编码或解码，可得到电机转速或控制电机的转速。传统的码盘，通常是与电机的输出轴连接，其只能跟随电机一同转动，通过读取码盘转动的角度，控制电机转动方向、转动速度或停止转动。但是由于电机本身或读取码盘角位移设备的误差，可能存在读取不够准确，在一些需要高精度控制的场景，采集的精度无法达到要求。
技术实现思路
为克服码盘采集精度无法达到要求的问题,本技术提供一种同步测量码盘装置。本技术解决技术问题的技术方案是提供一种同步测量码盘装置，所述同步测量码盘装置包括电机、测量码盘及采集装置，所述测量码盘包括第一码盘及第二码盘，所述第一码盘与所述第二码盘为相互啮合的齿轮，且所述第一码盘与所述电机的输出轴连接；所述第一码盘上开设有多个第一信号开槽，多个所述第一信号开槽围设于所述第一码盘中心且贯穿所述第一码盘，所述第二码盘上开设有多个第二信号开槽，多个所述第二开槽围设于所述第二码盘的中心，且贯穿所述第二码盘；所述采集装置设置于所述第一码盘及所述第二码盘的边沿。与现有技术相比，本技术所提供的一种同步测量码盘装置具有以下优点：通过两个相互啮合的码盘及分别读取两个码盘的采集装置，在同时采集两个码盘角位移的后，还可以根据两个码盘之间啮合的传动比，换算出两个码盘的角位移数据是否一样，从而提高其测量的精度。以上所述本技术的具体实施方式，并不构成对本技术保护范围的限定。任何根据本技术的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本技术权利要求的保护范围内。附图说明图1为本技术第一实施例提供的一种同步测量码盘装置的立体结构示意图；图2为图1中测量码盘的结构示意图；图3为本技术第二实施例提供的一种同步测量码盘装置中测量码盘的立体结构示意图；附图标记说明：10、同步测量码盘装置；20、电机；30、测量码盘；301、第一码盘；303、第二码盘；3011、第一信号开槽；3031、第二信号开槽；40、采集装置。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。请参阅图1-3，本技术提供一种同步测量码盘装置10，其包括电机20、测量码盘30及采集装置40，测量码盘30包括第一码盘301及第二码盘303，第一码盘301及第二码盘303为相互啮合的齿轮。第一码盘301与电机20的输出轴连接，跟随电机20的输出轴一同转动，并带动第二码盘303转动。采集装置40分别采集第一码盘301及第二码盘303转动的角位移数据，根据第一码盘301及第二码盘303的角位移数据是否一致，以确定同步测量码盘装置10的测量是否准确。具体的，第一码盘301上开设有多个第一信号开槽3011，第二码盘303上开设有多个第二信号开槽3031，第一信号开槽3011贯穿第一码盘301，且围设于第一码盘301的中心。第二信号开槽3031贯穿第二码盘303，且围设于第二码盘303的中心。当第一码盘301及第二码盘303转动时，采集装置40设置于第一码盘301及第二码盘303的边沿，分别采集第一信号开槽3011及第二信号开槽3031的转动信息，从而获取第一码盘301及第二码盘303转动的角位移数据，并结合第一码盘301与第二码盘303之间的传动比，以验证采集装置40采集到的角位移数据是否准确。如，当第一码盘301与第二码盘303之间的传动比为1:1时，采集装置40采集到第一码盘301与第二码盘303的角位移数据是一致的，则说明该次角位移数据的采集是准确的，否则则不准确。而当第一码盘301与第二码盘303之间的传动比为1:2时，采集装置40采集到的第一码盘301与第二码盘303的角位移也应该为1:2。需说明的是，采集装置40的数量为两个，分别设置于第一码盘301及第二码盘303的周边。其可以为光电传感器或扫描仪，两个采集装置40的一侧安装发光装置，相对另一侧安装接收装置，第一码盘301及第二码盘303分别位于两个采集装置40的发光装置及接收装置之间，发光装置发射光源，当第一信号开槽3011及第二信号开槽3031通过发光装置及接收装置之间时，发光装置发射的光源通过第一信号开槽3011及第二信号开槽3031，进入到接收装置。通过发光装置及接收装置，在第一信号开槽3011及第二信号开槽3031经过采集装置40时，采集装置40可采集到光源信息，并将光源信息转换为角位移数据。即，根据采集装置40采集到光源信息的间隔时间，结合电机的转速及第一信号开槽3011及第二信号开槽3031的设置方式，换算成第一码盘301与第二码盘303的角位移。需说明的是，发光装置可以是发光二极管、LED灯等可发射光源的设备，接收装置可以是光敏电阻等能够接收到光源照射信息的设备。进一步的，在本实施例中，第一码盘301与第二码盘303为锥齿轮，第一码盘301与第二码盘303的轴向方向相互垂直，以节省第一码盘301与第二码盘所占用的空间。在部分实施例中，第一码盘301与第二码盘303也可以为圆柱齿轮，第一码盘301与第二码盘303的轴向方向相互垂直。只要同步测量第一码盘301与第二码盘303的角位移数据，并结合传动比，从而对比第一码盘301与第二码盘303的角位移数据是否一致即可。与现有技术相比，本技术所提供的一种同步测量码盘装置具有以下优点：通过两个相互啮合的码盘及分别读取两个码盘的采集装置，在同时采集两个码盘角位移的后，还可以根据两个码盘之间啮合的传动比，换算出两个码盘的角位移数据是否一样，从而提高其测量的精度。以上所述本技术的具体实施方式，并不构成对本技术保护范围的限定。任何根据本技术的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本技术权利要求的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种同步测量码盘装置，其特征在于：/n所述同步测量码盘装置包括电机、测量码盘及采集装置，所述测量码盘包括第一码盘及第二码盘，所述第一码盘与所述第二码盘为相互啮合的齿轮，且所述第一码盘与所述电机的输出轴连接；/n所述第一码盘上开设有多个第一信号开槽，多个所述第一信号开槽围设于所述第一码盘中心且贯穿所述第一码盘，所述第二码盘上开设有多个第二信号开槽，多个所述第二信号开槽围设于所述第二码盘的中心，且贯穿所述第二码盘；/n所述采集装置设置于所述第一码盘及所述第二码盘的边沿。/n

【技术特征摘要】
1.一种同步测量码盘装置，其特征在于：
所述同步测量码盘装置包括电机、测量码盘及采集装置，所述测量码盘包括第一码盘及第二码盘，所述第一码盘与所述第二码盘为相互啮合的齿轮，且所述第一码盘与所述电机的输出轴连接；
所述第一码盘上开设有多个第一信号开槽，多个所述第一信号开槽围设于所述第一码盘中心且贯穿所述第一码盘，所述第二码盘上开设有多个第二信号开槽，多个所述第二信号开槽围设于所述第二码盘的中心，且贯穿所述第二码盘；
所述采集装置设置于所述第一码盘及所述第二码盘的边沿。


2.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：方正，
申请(专利权)人：武汉中创融科科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42