【技术实现步骤摘要】
用于感测文件的磁安全特征的传感器装置及系统
本专利技术涉及根据权利要求1的传感器装置和根据权利要求16的用于感测文件的磁安全特征的系统。
技术介绍
由DE102011110138A11已知一种测量设备,该测量设备用于测量该测量设备的环境的磁特性,该测量设备具有传感器线,该传感器线具有在线方向上延伸的至少一个磁阻传感器元件。本专利技术的问题是提供一种改进的传感器装置及一种改进的系统。
技术实现思路
上述问题通过根据权利要求1的传感器装置和根据权利要求16的系统解决。有利的实施例在从属权利要求中详细说明。已经认识到,可以通过具有至少一个第一磁体组件、一个第二磁体组件和一个传感器组件的传感器装置来提供一种改进的传感器装置。传感器组件具有用于感测文件的磁安全特征的检测区,其中第一磁体组件具有提供第一磁场的至少一个第一磁,且第二磁体组件具有提供第二磁场的至少一个第二磁体,其中第一磁体具有第一横向表面,其面向第二磁体组件并界定间隙空间,且第二磁体具有第二横向表面,其面向第一磁体组件并界定间隙空间,其中传感器组件布置在间隙空间中。校正磁体组件布置在传感器组件的背向检测区的一侧,其中校正磁体组件布置在间隙空间中且相对于第一横向表面/或第二横向表面倾斜,且具有提供第三磁场的至少一个校正磁体,其中第一至第三磁场相互作用以形成总磁场,且总磁场在预定取向上穿透传感器组件。这种配置的优点在于,可以在传感器装置的传感器组件处提供特别有利地设计/定向的和强的总磁场。结果,传感器组件处的总磁场具有特别高的 ...
【技术保护点】
1.一种传感器装置(15),/n具有至少一个第一磁体组件(75)、至少一个第二磁体组件(80)和至少一个传感器组件(85),/n其中所述传感器组件(85)具有检测区(35),以用于感测文件(31)的磁安全特征,/n其中所述第一磁体组件(75)具有提供第一磁场(390)的至少一个第一磁体(176)和提供第二磁场(395)的至少一个第二磁体(195),/n其中所述第一磁体(176)具有第一横向表面(185),其面向所述第二磁体组件(80)并界定间隙空间(120),所述第二磁体(195)具有第二横向表面(205),其面向所述第一磁体组件(75)并界定所述间隙空间(120),/n其中所述传感器组件(85)布置在所述间隙空间(120)中,/n其特征在于:/n校正磁体组件(95),其布置在所述传感器组件(85)的背向所述检测区(35)的一侧,/n其中所述校正磁体组件(95)布置在所述间隙空间(120)中且相对于所述第一横向表面(185)和/或所述第二横向表面(205)倾斜,且具有提供第三磁场(400)的至少一个校正磁体(210),/n其中所述第一磁场至所述第三磁场(390,395,400)相互作用 ...
【技术特征摘要】
20190214 DE 102019103723.91.一种传感器装置(15),
具有至少一个第一磁体组件(75)、至少一个第二磁体组件(80)和至少一个传感器组件(85),
其中所述传感器组件(85)具有检测区(35),以用于感测文件(31)的磁安全特征,
其中所述第一磁体组件(75)具有提供第一磁场(390)的至少一个第一磁体(176)和提供第二磁场(395)的至少一个第二磁体(195),
其中所述第一磁体(176)具有第一横向表面(185),其面向所述第二磁体组件(80)并界定间隙空间(120),所述第二磁体(195)具有第二横向表面(205),其面向所述第一磁体组件(75)并界定所述间隙空间(120),
其中所述传感器组件(85)布置在所述间隙空间(120)中,
其特征在于:
校正磁体组件(95),其布置在所述传感器组件(85)的背向所述检测区(35)的一侧,
其中所述校正磁体组件(95)布置在所述间隙空间(120)中且相对于所述第一横向表面(185)和/或所述第二横向表面(205)倾斜,且具有提供第三磁场(400)的至少一个校正磁体(210),
其中所述第一磁场至所述第三磁场(390,395,400)相互作用以形成总磁场(405),且所述总磁场(405)以预定取向穿透所述传感器组件(85)。
2.根据权利要求1所述的传感器装置(15),
其中所述总磁场(405)沿基本上垂直于所述传感器组件(85)的范围的主方向穿透所述传感器组件(85)。
3.根据权利要求1或2所述的传感器装置(15),
其中所述校正磁体组件(95)布置为距所述第一磁体组件(75)和所述第二磁体组件(80)一距离,
其中所述校正磁体(210)具有校正磁体上侧(245)和校正磁体下侧(250),
其中所述校正磁体上侧(245)和/或所述校正磁体下侧(250)相对于所述第一横向表面(185)和/或所述第二横向表面(205)倾斜地布置,优选垂直地布置,
其中所述第三磁场(400)优选地基本上经由所述校正磁体上侧(245)离开且基本上经由所述校正磁体下侧(250)进入。
4.根据权利要求3所述的传感器装置(15),
其中所述校正磁体组件(95)具有面向所述第一横向表面(185)的第三横向表面(215)和面向所述第二横向表面(205)的第四横向表面(220),
其中所述传感器组件(85)具有面向所述检测区(35)的传感器上侧(325),
其中所述校正磁体组件(95)具有面向所述传感器组件(85)布置的组件上侧(225),
其中所述组件上侧(225)平行于所述传感器上侧(325)布置。
5.根据权利要求3或4所述的传感器装置(15),
其中所述第一横向表面(185)和所述第二横向表面(205)彼此平行地定向,或以小于5°,特别是小于2°,特别是小于1°的倾角定向,
其中所述第三横向表面(215)和所述第四横向表面(220)彼此平行地定向,并且有利地,平行于所述第一横向表面(185)和/或所述第二横向表面(205)定向。
6.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置(15),
其中所述校正磁体组件(95)布置在所述第一横向表面(185)和所述第二横向表面(205)之间的中心位置中。
7.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置(15),
其中所述校正磁体(210)设计成块状,
其中所述校正磁体组件(95)具有第一校正导电元件(235)和第二校正导电元件(240),
其中所述第一校正导电元件(235)和所述第二校正导电元件(240)各自设计成板状,
其中所述第一校正导电元件(235)布置在所述校正磁体上侧(245),且所述第二校正导电元件(240)布置在所述校正磁体下侧(250),
其中所述第一校正导电元件(235)设计为至少部分地在所述组件上侧(225)和所述校正磁体上侧(245)之间引导所述第三磁场(400),且所述第二校正导电元件(240)设计为至少部分地在组件下侧(230)和所述校正磁体下侧(250)之间引导所述第三磁场(400)。
8.根据权利要求7所述的传感器装置(15),
其中所述校正磁体组件(95)具有布置成行(305)的若干校正磁体(210),
其中所述校正磁体(210)以它们的端面彼此抵靠,
其中所述第一校正导电元件(235)在所述校正磁体(210)的校正磁...
【专利技术属性】
技术研发人员:R皮珀,A巴托斯,A梅森伯格,
申请(专利权)人:泰连感应德国有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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