一种RFID芯片的防伪方法技术

本发明专利技术公开了一种RFID芯片的防伪方法，在无持续外部电源的条件下仅通过RFID标签工作瞬间对检测引脚进行检测，采用无极性的芯片封装设计方式，使用多个外部检测引脚，多个检测引脚独立检测外部连接状态，每个检测引脚的信号均不同，设计了多种外部连接线路，使之具备不同的电路阻抗或者感抗，芯片初始化的过程中检测并保存检测引脚的相互连接状态，并且在以后每次启动的过程中自动对检测引脚的外部连接状态进行检测并与芯片内部存储的外部检测引脚状态寄存器进行对比，从而判断芯片是否被回收重复使用。

【技术实现步骤摘要】
一种RFID芯片的防伪方法
本专利技术属于半导体芯片的设计领域，尤其涉及一种RFID芯片的防伪方法。
技术介绍
目前市场上电子产品的盗版问题屡见不鲜，很多盗版产品使用正版产品的回收拆机芯片，重新生产组装，普通消费者从功能上很难辨别产品的真伪。目前通用的芯片大多有极性设计，方便区分，使用，容易辨别方向，每个脚都有独特的功能定义，不能混用。具备防拆除功能的芯片大都需要外部供电，维持芯片的工作状态，才能够做到实时检测，一旦检测到被移除或者被攻击，则会改写芯片状态，或者锁定芯片，保证芯片不可被重复使用；少数无持续电源的防拆除检测芯片目前设计比较简单，检测电路单一，在芯片未被销毁的前提下，不法者可以批量回收恢复芯片并重新仿制产品，达到以次充好，以假乱真的目的。典型应用如RFID防伪标签等，有大量的芯片被不法商家回收重复使用。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种RFID芯片的防伪方法，达到降低甚至杜绝芯片被回收利用的可能性。为解决上述问题，本专利技术的技术方案为：一种RFID芯片的防伪方法，包括：将RFID芯片的一组或多组引脚作为检测引脚，用于检测RFID芯片的状态；在RFID芯片内部设置所述检测引脚相对应的引脚状态寄存器及安全检测状态寄存器；在RFID芯片中设置芯片初始化逻辑单元，当RFID阅读器对RFID芯片进行初始化时，按照所述初始化逻辑单元中预设的引脚检测规则对RFID芯片的检测引脚进行信号匹配，并将匹配结果写入所述引脚状态寄存器中；在RFID芯片初始化后的每次上电过程中，首先检测所述安全检测状态寄存器的状态；若检测结果为已置位，则RFID芯片进入销毁状态，发出销毁提示信号。根据本专利技术一实施例，若所述安全检测状态寄存器的检测结果为未置位，则对所述检测引脚进行逐对检测，将检测结果与相应的引脚状态寄存器中存储的状态进行比较，若相同，则判定RFID芯片未被移除或销毁，进入标准模式；若不同，则将所述安全检测状态寄存器置位，进入销毁模式。根据本专利技术一实施例，所述初始化逻辑单元中预设的引脚检测规则为对所述一组或多组检测引脚中依次提取一检测引脚，将所述检测引脚逐一与其他检测引脚进行对输入信号的比较，若两检测引脚的输入信号相同，则判定为匹配，初始化相应的引脚状态寄存器值为1；若两检测引脚的输入信号不相同，则判定为不匹配，初始化相应的引脚状态寄存器值为0。根据本专利技术一实施例，所述引脚状态寄存器为一次性编程寄存器。根据本专利技术一实施例，采用多种感应线路连接所述检测引脚，当RFID阅读器读取RFID芯片时，不同的感应线路产生能量不同的感应信号。根据本专利技术一实施例，采用无极性的封装方式对RFID芯片进行封装。本专利技术由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：1)本专利技术一实施例中的RFID芯片的防伪方法，针对目前普遍的RFID芯片回收对其信息进行再利用的盗版问题，在不需要持续外部供电的前提下，仅RFID标签工作瞬间，通过对检测引脚相互之间连接状态的检测与RFID芯片初始化时的引脚状态进行对比，来判断RFID芯片是否是被回收重复使用，大大降低了芯片被回收使用的成功率。2)本专利技术一实施例中的RFID芯片的防伪方法，针对目前普遍的RFID芯片回收对其信息进行再利用的盗版问题，在不需要持续外部供电的前提下，仅RFID标签上电瞬间，通过对安全检测状态寄存器的检测，判断是否已置位，来决定是否对RFID芯片进行销毁，达到降低甚至杜绝RFID芯片被回收利用。3)本专利技术一实施例中的RFID芯片的防伪方法，针对目前普遍的RFID芯片回收对其信息进行再利用的盗版问题，将RFID芯片内的引脚状态寄存器采用一次性编程寄存器，只能烧录一次，一经烧录就不可更改，不可恢复，防止RFID芯片被回收再更改使用。4)本专利技术一实施例中的RFID芯片的防伪方法，采用无极性封装方式对RFID芯片进行封装，可实现引脚的相互替代，RFID芯片功能不受芯片贴装方向的影响，没有了明确的贴装方向，降低了RFID芯片被回收利用的成功率。附图说明图1为本专利技术一实施例中的RFID芯片的防伪方法的示意图；图2为本专利技术一实施例中的现有的RFID芯片的封装正面示意图；图3为本专利技术一实施例中的现有的RFID芯片的封装反面示意图；图4为本专利技术一实施例中的无极性多检测引脚芯片封装反面示意图；图5为本专利技术一实施例中的有极性多检测引脚芯片封装反面示意图；图6为本专利技术一实施例中的信号比较阵列的示意图；图7为本专利技术一实施例中的RFID芯片上电检测安全检测状态寄存器的流程图；图8为本专利技术一实施例中的无极性多检测引脚芯片感应线路示意图；图9为本专利技术一实施例中的有极性多检测引脚芯片外接线路示意图；图10为本专利技术一实施例中的有极性多检测引脚芯片外接线路示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出的一种RFID芯片的防伪方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。针对目前普遍的RFID芯片回收对其信息进行再利用的盗版问题，本专利技术提供了一种RFID芯片的防伪方法，如图1所示，该防伪方法包括：S1：将RFID芯片的一组或多组引脚作为检测引脚，用于检测RFID芯片的状态；S2：在RFID芯片内部设置检测引脚相对应的引脚状态寄存器及安全检测状态寄存器；S3：在RFID芯片中设置芯片初始化逻辑单元，当RFID阅读器对RFID芯片进行初始化时，按照初始化逻辑单元中预设的引脚检测规则对RFID芯片的检测引脚进行信号匹配，并将匹配结果写入引脚状态寄存器中；S4：在RFID芯片初始化后的每次上电过程中，首先检测安全检测状态寄存器的状态；若检测结果为已置位，则RFID芯片进入销毁状态，发出销毁提示信号。本专利技术的核心思想在于在不需要持续外部供电的前提下，仅RFID标签工作瞬间，通过对外部引脚相互之间连接状态的检测与芯片初始化时的引脚状态进行对比，来判断芯片是否是被回收重复使用，从概率学的实现角度来避免芯片被批量回收使用的问题。具体的，本专利技术采用的措施主要有以下四点：1、采用无极性的芯片封装方式，芯片采用旋转兼容的设计方式，芯片封装上无任何方向标识，可以任意方向帖装。普通的有极性芯片设计如图2和图3所示，一般会采取在芯片某个角上对芯片进行标记，用以区分芯片的方向。本专利技术提出了一种无极性的芯片设计形式，如图4(以12引脚芯片为例)所示：其中，芯片引脚1-1、2-1、3-1、4-1定义为同一属性的接口，同样的1-2、2-2、3-2、4-2，1-3、2-3、3-3、4-3也分别定义为同一属性的接口，可以实现旋转后相互替代，即芯片功能不受芯片帖装方向的影响。2、采用多个检测引脚，使用的检测引脚越多，芯片被回收重复使用的成功率越小。如图4中，选择(1-1、2-1、3-1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种RFID芯片的防伪方法，其特征在于，包括：/n将RFID芯片的一组或多组引脚作为检测引脚，用于检测RFID芯片的状态；/n在RFID芯片内部设置所述检测引脚相对应的引脚状态寄存器及安全检测状态寄存器；/n在RFID芯片中设置芯片初始化逻辑单元，当RFID阅读器对RFID芯片进行初始化时，按照所述初始化逻辑单元中预设的引脚检测规则对RFID芯片的检测引脚进行信号匹配，并将匹配结果写入所述引脚状态寄存器中；/n在RFID芯片初始化后的每次上电过程中，首先检测所述安全检测状态寄存器的状态；若检测结果为已置位，则RFID芯片进入销毁状态，发出销毁提示信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种RFID芯片的防伪方法，其特征在于，包括：
将RFID芯片的一组或多组引脚作为检测引脚，用于检测RFID芯片的状态；
在RFID芯片内部设置所述检测引脚相对应的引脚状态寄存器及安全检测状态寄存器；
在RFID芯片中设置芯片初始化逻辑单元，当RFID阅读器对RFID芯片进行初始化时，按照所述初始化逻辑单元中预设的引脚检测规则对RFID芯片的检测引脚进行信号匹配，并将匹配结果写入所述引脚状态寄存器中；
在RFID芯片初始化后的每次上电过程中，首先检测所述安全检测状态寄存器的状态；若检测结果为已置位，则RFID芯片进入销毁状态，发出销毁提示信号。


2.如权利要求1所述的RFID芯片的防伪方法，其特征在于，若安全检测状态寄存器的检测结果为未置位，则对所述检测引脚进行逐对检测，将检测结果与相应的引脚状态寄存器中存储的状态进行比较，若相同，则判定RFID芯片未被移除或销毁，进入标准模式；若不同，则将所述安全检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊霄鹏，周玉洁，谭永伟，
申请(专利权)人：上海爱信诺航芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31