一种烧写器以及一种RTC的校正方法技术

本申请公开了一种RTC的校正方法，应用于内置了RTC芯片的烧写器中，包括：从上位机中获取配置文件以及烧录文件；获取RTC芯片的数据信息以及待烧录的目标芯片的数据信息，并结合配置文件，确定出针对目标芯片的校正数据；将校正数据存储至目标芯片中，以对目标芯片进行RTC校正；将烧录文件烧录至目标芯片。应用本申请的方案，可以方便有效地进行芯片的RTC校正，提高了校正效率。本申请还提供了一种烧写器，具有相应技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种烧写器以及一种RTC的校正方法
本专利技术涉及校正
，特别是涉及一种烧写器以及一种RTC的校正方法。
技术介绍
众所周知，由于晶体的老化，温度等因素的影响，需要对芯片的RTC(RealTimeClock，实时时钟)进行校正。特别是在智能电表中，结算方式已经由传统的电量结算转换为金额结算，并且费率模式也较传统的电表更为复杂，使得对智能电表中的实时时钟的精度提出了更高的要求。根据行业标准，通常要求其在工作温度范围内的精度满足1s/day以内，即误差要低于11.5ppm，在23℃时满足小于0.5s/day。目前通常采用的是二次曲线校正的方法，修正晶体的温度偏差，从而提升智能电表的实时时钟的精度。目前，不同的厂家都会单独设计其校正的流程和对应的校准工具，导致用户操作复杂，特别是用户需要批量进行芯片的RTC校正时，不利于提高校正效率。综上所述，如何方便有效地进行芯片的RTC校正，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种烧写器以及一种RTC的校正方法，以方便有效地进行芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种RTC的校正方法，其特征在于，应用于内置了RTC芯片的烧写器中，包括：/n从上位机中获取配置文件以及烧录文件；/n获取所述RTC芯片的数据信息以及待烧录的目标芯片的数据信息，并结合所述配置文件，确定出针对所述目标芯片的校正数据；/n将所述校正数据存储至所述目标芯片中，以对所述目标芯片进行RTC校正；/n将所述烧录文件烧录至所述目标芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种RTC的校正方法，其特征在于，应用于内置了RTC芯片的烧写器中，包括：
从上位机中获取配置文件以及烧录文件；
获取所述RTC芯片的数据信息以及待烧录的目标芯片的数据信息，并结合所述配置文件，确定出针对所述目标芯片的校正数据；
将所述校正数据存储至所述目标芯片中，以对所述目标芯片进行RTC校正；
将所述烧录文件烧录至所述目标芯片。


2.根据权利要求1所述的RTC的校正方法，其特征在于，所述获取所述RTC芯片的数据信息以及待烧录的目标芯片的数据信息，并结合所述配置文件，确定出针对所述目标芯片的校正数据，包括：
获取所述RTC芯片的温度值以及秒脉冲捕获值；
获取所述目标芯片的温度值以及秒脉冲捕获值；
根据所述RTC芯片的温度值以及所述目标芯片的温度值，确定出针对所述目标芯片的温度校正值；
根据所述RTC芯片的秒脉冲捕获值以及所述目标芯片的秒脉冲捕获值，并结合所述配置文件，确定出针对所述目标芯片的RTC校正值；
将所述温度校正值以及所述RTC校正值作为确定出的针对所述目标芯片的校正数据。


3.根据权利要求2所述的RTC的校正方法，其特征在于，所述根据所述RTC芯片的温度值以及所述目标芯片的温度值，确定出针对所述目标芯片的温度校正值，包括：
将所述目标芯片的温度值与所述RTC芯片的温度值的差值，作为确定出的针对所述目标芯片的温度校正值。


4.根据权利要求2所述的RTC的校正方法，其特征在于，所述根据所述RTC芯片的秒脉冲捕获值以及所述目标芯片的秒脉冲捕获值，并结合所述配置文件，确定出针对所述目标芯片的RTC校正值，包括：
通过将计算出的Δc作为确定出的针对所述目标芯片的RTC校正值，以使所述目标芯片基于aT2+bT+c+Δc确定出秒脉冲对应的振动频率；
其中，f1表示所述目标芯片的秒脉冲捕获值，f2表示所述RTC芯片的秒脉冲捕获值，a,b,c均为保存在所述配置文件中的针对所述目标芯片的固定参数，T为环境温度值，y1＝aT2+bT+c，表示的是所述目标芯片在未进行RTC校正前所采用的频率响应曲线，y2＝aT2+bT+c+Δc，表示的是所述目标芯片在进行了RTC校正后所采用的频率响应曲线。


5.根据权利要求1所述的RTC的校正方法，其特征在于，在所述从上位机中获取配置文件以及烧录文件之前，还包括：
对所述烧写器进行自检，并在自检通过之后，执行所述上位机中获取配置文件以及烧录文件的操作。


6.根据权利要求1至5任一项所述的RTC的校正方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄苏芳，李婷，付超，刘晓露，
申请(专利权)人：杭州万高科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33