【技术实现步骤摘要】
一种22Na放射源的新应用及其应用方法
本专利技术涉及22Na放射源的新应用及其应用方法。
技术介绍
先进制造技术(AdvancedManufacturingTechnology,简称为AMT)起始于1948年,包含机械技术、电气技术、计算机技术等多种技术,是一系列技术、设备和系统的总称;是传统制造技术与传感器技术、自动化技术、互联网技术等先进技术的融合。先进制造技术包括智能制造技术、数控加工技术和快速成型技术等多种关键技术,比较常见的如:数控加工中心,3D打印机和激光立体成型(Lasersolidforming)等。先进制造领域的过程控制技术,是对加工过程之中的环境,加工设备和加工情况进行闭环反馈控制的一种控制技术。随着材料学发展,先进制造领域的加工材料越来越多,经常会面临一些限制比较特殊的操作条件,比如密闭空间,无光环境,特殊气体等。这些特殊环境会对传统传感器的应用造成限制。对于先进制造技术的发展趋势众说纷纭,但作为一种制造技术,必然会朝着越来越大,越来越快,越来越精的目标发展,越来越大是指一次加工体积; ...
【技术保护点】
1.一种
【技术特征摘要】
1.一种22Na放射源的新应用,其特征在于:22Na放射源在先进制造过程控制中的检测应用。
2.如权利要求1所述的一种22Na放射源的新应用,其特征在于:所述检测应用为22Na放射源在先进制造过程控制中的定位检测应用。
3.如权利要求2所述的一种22Na放射源的新应用方法,其特征在于:在定位检测应用中包括如下步骤,
1)、通过22Na放射源发出γ射线;
2)、γ射线从放射源向接收检测器照射,随着空间路经介质和厚度不同影响γ射线的辐射强度;
3)、γ射线被接收检测器接收检测;
4)、接收检测器将接收的γ射线辐射强度转换成电信号输出。
4.如权利要求3所述的一种22Na放射源的新应用方法,其特征在于:所述检测应用方法在步骤4)后还包括,
5)、步骤4)的电信号输出发送给定位系统,定位系统接收到接受检测设备的电信号后使用统计敏感的非线性迭代峰值剥峰算法消除背景影响;
6)、定位系统按照预设方法确定电信号所代表的位置信息;
7)、通过位置信息对加工装置当前位置数据进行定位验证和修正。
5.如权利要求3或4中所述的一种22Na放射源的新应用方法,其特征在于:所述22Na放射源发出γ射线向接收检测器照射的检测使用方式包括有垂直透照式点对点检测、斜角直照式点对点检测、不对称强度场透照式点对面检测或对称场强透照式点对面趋势检测。
6.如权利要求5中所述的一种22Na放射源的新应用方法,其特征在于:所述垂直透照式点对点检测使用方式包括一个或多个点照式22Na放射源及一个接收检测器,在先进制造设备中设有承载架设加工件的承台和可相对加工件移动对其加工工作的加工装置,所述点照射式22Na放射源设置在对应加工件的承台背向加工件的外侧并其照射方向对应加工工件一侧照射,所述接收检测器设置在加工装置上可随其移动;在检测使用工作中,所述点照式22Na放射源发出的指向性γ射线透过承台和加工件照射出,接收检测器随加工装置移动,当移动至与点照式22Na放射源正对应时接收检测器接收γ射线,接收检测器输出给定位系统,定位系统按对应经过的点照式22Na放射源预设位置进行定位验证和修正;
或者;
所述垂直透照式点对点检测使用方式包括一个点照式22Na放射源及一个或多个接收检测器,在先进制造设备中设有承载架设加工件的承台和可相对加工件移动对其加工工作的加工装置,所述接收检测器设置在对应加工件的承台背向加工件的外侧,所述点照式22Na放射源设置在加工装置上可随其移动并其照射方向对应加工工件一侧照射;在检测使用工作中,所述点照式22Na放射源发出的指向性γ射线透过加工件和承台照射出,同时随加工装置移动,当移动至与接收检测器正对应时接收检测器接收γ射线,接收检测器输出给定位系统,定位系统对应经过的接收检测器预设位置进行定位验证和修正。
7.如权利要求5中所述的一种22Na放射源的新应用方法,其特征在于:所述斜角直照式点对点检测使用方式包括一个或多个点照式22Na放射源及一个接收检测器,在先进制造设备中设有承载架设加工件的承台和可相对加工件移动对其加工工作的加工装置,所述接收检测器设置在加工装置上可随其移动,所述点照式22Na放射源设置在低于加工装置的承台周围的侧壁上并其照射方向为倾斜角度朝向承台的相对方向照射;在检测使用工作中,所述点照式22Na放射源发出的指向性γ射线沿其倾斜角度照射出,接收检测器随加工装置移动,当移动至点照式22Na放射源的指向性γ射线的路径时接收检测器接收γ射线,接收检测器输出给定位系统,定位系统按对应经过的点照式2...
【专利技术属性】
技术研发人员:国思茗,陈庆文,蔡海毅,石磊,
申请(专利权)人:泉州职业技术大学,
类型:发明
国别省市:福建;35
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