一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置，被平行设置于半电波暗室内的垂直墙壁前方一定距离处，包括：两并列设置的天线底座，以及可拆卸连接所述两天线底座的天线，所述天线呈“蛇形”延伸并顺序遍历呈等间距阵列排布的预设电场测试位置；其中连接第二测试位置与第三测试位置的天线、连接第六测试位置与第七测试位置的天线、连接第八测试位置与第九测试位置的天线、连接第十测试位置与第十一测试位置的天线以及连接第十四测试位置与第十五测试位置的天线为可折叠天线。本实用新型专利技术采用可折叠天线便于存放，同时本实用新型专利技术为自动化装置，无需校准者手动记录，大大提高测试准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置
本技术涉及通信
，具体而言，尤其涉及一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置。
技术介绍
辐射抗扰度试验用以检测电子电器产品在受到外界的空间辐射电磁场骚扰时的耐受能力，以确保电子电气产品在受到常见电磁干扰时仍然能够继续正常稳定的工作，是电子电气产品抗扰度试验中最重要的试验之一。场校准是辐射抗扰度试验的基础。场校准的目的在于确保测试设备能够建立一个足够大的场均匀域，以便将受试设备放置在该均匀域中进行辐射抗扰度试验；同时，为了进行指定辐射场强的大小，需要通过场校准对测试设备的电平输出进行标定。试验场地校准的目的是为确保试样周围的场充分均匀，以保证试验结果的有效性。场地校准中用到的均匀场是一个假想的垂直平面，在该平面中电磁场的变化足够小，其面积为1.5m×1.5m.。对于半电波暗室，由于无法在接近参考地平面处建立均匀场，因此假想的均匀场立参考地面的高度不得低于0.8m，实际测试过程中，被测设备也尽可能放在同样的高度。场地均匀性校准的目的是为今后试验时的天线和被测设备的距离提供依据，优先采用3m法。场地均匀性校准是在被测设备没有放入的情况下进行的，否则场的均匀性会因为被测设备的存在而产生畸变。均匀场距参考地面的高度不得低于0.8m，场地均匀性校准时用一个经校准的场强探头放在1.5m见方的假想平面上按指定的步长在每个频段内进行测量，每隔0.5m作为一个测试点，总共16个点，如图1所示。要求在整个频率范围内记录所有16个点的场强，标准要求其中至少要有12个点的场强容差在0～+6dB的范围以内，则认为在规定的区域内75％的表面场的幅值之差6dB，校准时所用的场强就作为实际测试时采用的场强。通常采用恒定场强校准法，校准步骤包括：将场探头置于16个测试位置中的一个，并将信号发生器的频率设为校准要求中的最低频率(比如：80MHz)；调整馈入发射天线的前向功率(即调整功放的增益)，使场强达到校准要求的Ec，记录此时的前向功率值，(场校准一般在水平和垂直极化方式下用给定的频率步进的无调制载波进行测试，场校准时所用的场强至少为测试时用在EUT上的场强的1.8倍，且要保证放大器工作于线性区，将这个校准场强记做Ec，这个值仅用于场的校准，测试用场强则不能超过Ec/1.8。)；以最大为前频率的1％为步进，增加频率；重复2、3步，直到该频段的最大频率点(使每个频点的场强都一样)；重复上述步骤，直到测完16个位置；测完之后，对每个频点进行计算，得到相应的功率值；将16个前向功率值作升序排列；从最大值开始，检查是否至少有11个低于该值的数和该最大值的差在容限－6dB～+0dB内；若不在上述容限内，照上述步骤重测该频点，注意到，每个频点有5个可重测的位置(5个重测完后，仍不达标，校准失败)；不含最大值，如果至少12个值在6dB容限内，则校准完成。采用上述手动校准方法，具有以下缺点：耗费大量时间，效率低。手动辐射抗扰度校准方法需要对16个点在不同频段、不同方向逐一测试。测试不同频段需要校准即80MHz-1GHz、1GHz-2GHz、2GHz-6GHz需要校准，不同方向即水平、垂直方向，因此手动校准需要调整位置次数为16*2*3＝96次。手动调整每次需要5分钟，会浪费至少480分钟即8小时。容易出错。96次手动调整中，需要校准人员一直手动校准记录，常常在记录过程中会出现错误。手动调整位置不精确，影响测试准确率。手动调整探头位置，探头位置往往存在一定误差，影响测试效果。存在安全隐患。一次校准结束后实验室仍会存在辐射，测试人员需要通过经验判断无辐射方可进入，但实验室是否无辐射未知，因此存在一定的安全隐患。
技术实现思路
根据上述提出手动校准存在的使用不便、性能不稳定的技术问题，而提供一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置。本技术主要利用可折叠设计使装置具备便携性，同时利用自动化设计保证了辐射抗扰度场校准的精确度和稳定性。本技术采用的技术手段如下：一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置，被平行设置于半电波暗室内的垂直墙壁前方一定距离处，所述装置包括：两并列设置的天线底座，以及可拆卸连接所述两天线底座的天线，所述天线呈“蛇形”延伸并顺序遍历呈等间距阵列排布的预设电场测试位置；所述预设电场测试位置包括第一测试位置、第二测试位置…第十五测试位置以及第十六测试位置，其中连接第二测试位置与第三测试位置的天线、连接第六测试位置与第七测试位置的天线、连接第八测试位置与第九测试位置的天线、连接第十测试位置与第十一测试位置的天线以及连接第十四测试位置与第十五测试位置的天线为可折叠天线。进一步地，所述可折叠天线包括设置于天线中间的折叠部以及折叠部两侧的延伸部，所述折叠部为一转轴装置。进一步地，所述两天线底座通过禁锢螺栓与所述天线连接。进一步地，还包括提取电场强度的电场探头，所述电场探头在驱动装置的作用下在沿所述天线在预设电场测试位置之间运动。进一步地，所述半电波暗室内铺设吸波材料。进一步地，所述半电波暗室内相对垂直墙壁一侧还设置有场发生天线。较现有技术相比，本技术具有以下优点：本技术利用可折叠设计，使装置便于存放和携带。同时在使用过程中可避免校准过程中辐射、确保试验人员的安全，并极大缩短了校准等待时间，大大提高了校准效率。本技术采用自动化装置，无需手动调整探头位置，无需校准者手动记录，大大提高测试准确率。综上，本技术应用可折叠的天线设计以及自动化的检测思路，有效解决了现有技术中检测结果不精确、装置需要手动调节的问题。基于上述理由本技术可在辐射抗扰度场校准领域广泛推广。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做以简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有辐射抗扰度场校准装置示意图。图2为本技术可折叠辐射抗扰度场校准装置示意图。图3a为本技术折叠天线第一形态示意图。图3b为本技术折叠天线第二形态示意图。图3c为本技术折叠天线第三形态示意图。图4为应用本技术的辐射抗扰度场校准系统示意图。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置，被平行设置于半电波暗室内的垂直墙壁前方一定距离处，其特征在于，所述装置包括：/n两并列设置的天线底座，以及可拆卸连接所述两天线底座的天线，所述天线呈“蛇形”延伸并顺序遍历呈等间距阵列排布的预设电场测试位置；所述预设电场测试位置包括第一测试位置、第二测试位置…第十五测试位置以及第十六测试位置，其中连接第二测试位置与第三测试位置的天线、连接第六测试位置与第七测试位置的天线、连接第八测试位置与第九测试位置的天线、连接第十测试位置与第十一测试位置的天线以及连接第十四测试位置与第十五测试位置的天线为可折叠天线。/n

【技术特征摘要】
1.一种可折叠的辐射抗扰度场校准装置，被平行设置于半电波暗室内的垂直墙壁前方一定距离处，其特征在于，所述装置包括：
两并列设置的天线底座，以及可拆卸连接所述两天线底座的天线，所述天线呈“蛇形”延伸并顺序遍历呈等间距阵列排布的预设电场测试位置；所述预设电场测试位置包括第一测试位置、第二测试位置…第十五测试位置以及第十六测试位置，其中连接第二测试位置与第三测试位置的天线、连接第六测试位置与第七测试位置的天线、连接第八测试位置与第九测试位置的天线、连接第十测试位置与第十一测试位置的天线以及连接第十四测试位置与第十五测试位置的天线为可折叠天线。


2.根据权利要求1所述的辐射抗扰度场校准装置，其特征在于，所述可折...

【专利技术属性】
技术研发人员：王哲，刘欢，史艳雪，
申请(专利权)人：中车大连电力牵引研发中心有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21