【技术实现步骤摘要】
温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统
本专利技术涉及检测领域，特别是电子电器产品以及电子元件产品的温升试验，更为具体的说是涉及温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统。
技术介绍
温升是指电子电气设备中的各个部件高出环境的温度。导体通流后产生电流热效应，随着时间的推移，导体表面的温度不断地上升直至稳定。为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件的温升，将被测设备置于高于其额定工作温度(T＝25℃)的某一特定温度(T＝70℃)下运行，稳定后记录其元件高于环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。稳定的判断条件是在所有测试点在1个小时测试间隔内前后温差不超过2K，此时测得任意测试点的温度与测试最后1/4周期环境温度平均值的差值称为温升，单位为K。目前温升试验过程中，一般采用目测法，目测读取阻值数据，然后用笔手工记录下当前时刻的绕组阻值和对应时刻的时间点，并且根据记录下的一组绕组阻值和时间刻度，以时间刻度为横坐标，以绕组阻值为纵坐标，手工绘制出绕组阻值随时间变化的曲线。这种方式具有很多缺陷，譬如在这种记录方式下不能准...
【技术保护点】
1.温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统，其特征在于：包括测试组件、远端拟合组件以及测试组件与远端拟合组件之间的数据通讯组件，所述测试组件包括绕组阻值测试仪和时间点记录器，所述远端拟合组件包括数据拟合计算器、数据显示器；所述数据通讯组件包括测试组件连接端、远端拟合组件连接端，以及测试组件连接端与远端拟合组件连接端之间的数据传输，该数据传输为有线或者为无线方式。/n
【技术特征摘要】
1.温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统，其特征在于：包括测试组件、远端拟合组件以及测试组件与远端拟合组件之间的数据通讯组件，所述测试组件包括绕组阻值测试仪和时间点记录器，所述远端拟合组件包括数据拟合计算器、数据显示器；所述数据通讯组件包括测试组件连接端、远端拟合组件连接端，以及测试组件连接端与远端拟合组件连接端之间的数据传输，该数据传输为有线或者为无线方式。
2.根据权利要求1所述的温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统，其特征在于：所述数据拟合计算器为芯片。
3.根据权利要求1所述的温升试验绕组阻值曲线自动拟合系统，其特征在于：所述测试组件连接端为RS232接口，所述远端拟合组件连接端为USB接口，所述RS...
【专利技术属性】
技术研发人员：侯明，陈洁，刘杰，徐玲，白采玉，
申请(专利权)人：滁州市技术监督检测中心，
类型：新型
国别省市：安徽;34
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。