一种弧长投影测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种弧长投影测量装置，所述弧长投影测量装置包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。

【技术实现步骤摘要】
一种弧长投影测量装置
本技术涉及太阳能晶棒尺寸测量
，特别涉及一种弧长投影测量装置。
技术介绍
目前对于投影的测量没有特别直接的工具，一般通过测量弧长对应的弦长，使用的工具为数显卡尺或盒尺，通过勾股定理对投影值进行计算，或者直接将投影值的要求换算为弦长的范围进行控制。不仅测量不便，效率低，并且，在对弧面测量时往往不能准确地对准基准而容易使测量值误差较大。
技术实现思路
为了解决现有技术的问题，本技术实施例提供了一种弧长投影测量装置，能够直接准确、快速地对弧长投影进行测量，同时测量更加方便。所述技术方案如下：提供了一种弧长投影测量装置，包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。优选地，所述弧长投影测量装置还包括数显部，所述数显部用于显示从所述刻度部得到的所述测量部沿X轴的位移值。优选地，所述第一直角件、所述第二直角件均为矩形结构。优选地，所述第一直角面的尺寸、所述第二直角面的尺寸均为60mm*20mm，所述第一直角件的侧面尺寸、所述第二直角件的侧面尺寸均为60mm*10mm。优选地，所述倒角贴合部为三角型结构。优选地，所述倒角贴合面相对于X轴方向的夹角为45°优选地，所述刻度部为游标结构，所述数显部用于显示通过所述刻度部得到的测量数值。优选地，所述X轴方向与所述Y轴的方向相垂直。本技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：通过在实际测量中进行应用，达到了预期要实现的技术目的，可以直接准确、快速的进行对弧长投影的测量，与传统卡尺等工具相比，测量更加方便，尤其在对弧面测量时，能够避免卡尺无法准确对准基准而容易使测量值误差较大的技术缺陷。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的弧长投影测量装置结构示意图；图2是本技术实施例提供的弧长投影测量装置的尺寸规格设置优选示例。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明的是，本技术关于“X轴”、“Y轴”“前”、“后”等方向上的描述均是基于附图所示的方位或位置的关系定义的，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所述的装置必须以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。基于现有技术在单晶硅棒外观尺寸测量方面缺少专门而直接的测量仪器，致使通过卡尺等传统刻度尺测量再换算，不仅效率低，测得的数据也不够准确，本技术实施例提供了一种设置有定位部、测量部、和数显部的弧长投影测量装置,该弧长投影测量装置能够直接准确、快速地对弧长投影进行测量，同时测量更加方便,可专门用于单晶棒弧长投影测量，并且可以测量投影值在0-25mm的所有太阳能级单晶硅棒(或多晶硅棒)。图1是本技术实施例提供的弧长投影测量装置结构示意图。如图1所示，本技术实施例提供的弧长投影测量装置包括定位部1、测量部2。定位部1包括沿X轴方向的第一直角件11和沿Y轴方向的第二直角件12，第一直角件11具有第一直角面11a，第二直角件12具有第二直角面12a。测量部2沿X轴方向并靠近第一直角件11的侧面和第二直角件12的侧面设置，即测量部2是一端具有倒角的扁平状长方体，其中长方体的一面与第一直角件11的侧面贴合，且测量部2沿X轴方向相对于第一直角件11的侧面和第二直角件12的侧面可移动，由于长方体的平面和第一直角件11、第二直角件12的侧面贴合，能够很好的控制移动的相对距离。测量部2具有位于前端的倒角贴合部21、位于后端的基准部22以及位于中间的刻度部(图中未示出)，倒角贴合部21具有倒角贴合面21a，倒角贴合面21a的延伸平面与第一直角面11a、第二直角面12a相交，基准部22具有基准面22a。在本实施例中，X轴方向和Y轴方向相垂直，其中沿X轴方向的第一直角件，是指相对于Y轴方向具有直角夹角的部件；沿Y轴方向的第二直角件，是指相对于X轴方向具有直角夹角的部件。本技术实施例提供的弧长投影测量装置，在进行单晶棒弧长投影测量时，具体工作过程如下：首先通过基准部22的基准面22a确定弧长投影测量装置的准确作用位置；然后移动整个测量装置，使得第一直角件11的第一直角面11a、第二直角件12的第二直角面12a与单晶棒的两个直角面相贴合，从而完成测量前的定位工作；最后，其他部分不动，通过沿X轴方向推动测量部2，直至测量部2的倒角贴合部21的倒角贴合面21a贴合单晶棒的倒角位置的倒角面，由于在测量部2沿X轴方向移动并致使倒角贴合面21a贴合单晶棒的倒角位置的倒角面的过程中，第一直角件11的第一直角面11a、第二直角件12的第二直角面12a与单晶棒的两个直角面始终相贴合，从测量部2的刻度部读取的测量部2在X轴方向的位移即为单晶棒倒角面或倒角曲面弧长的X轴投影值(或叫水平投影值)。这里，单晶棒的两个直角面是指单晶棒上夹角为直角的两个表面。由于该种弧长投影测量装置可以通过定位部1快速地完成贴合定位，并通过刻度部直接读取测量部2的位移数值而得到弧长投影值，有别于传统工具测量，测量便捷有效，且误差小，从而满足晶棒的尺寸指标要求，以便服务于按照尺寸对晶棒进行分类的后续工作。在本技术的一些实施例中提供的弧长投影测量装置还包括数显部3，用于显示从刻度部得到的测量部沿X轴的位移值，从而更方便直观地读取数值，进一步提高了测量效率。在本技术的一些实施例中，第一直角件11、第二直角件12均为矩形结构。另外，第一直角件11、第二直角件12也可以做成顶部楔形结构，只要其具有第一直角面11a或第二直角面12a即可。另外，在本技术的一些实施例中，倒角贴合部21为三角型本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种弧长投影测量装置，其特征在于，包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。/n

【技术特征摘要】
1.一种弧长投影测量装置，其特征在于，包括定位部、测量部，所述定位部包括沿X轴方向的第一直角件和沿Y轴方向的第二直角件，所述第一直角件具有第一直角面，所述第二直角件具有第二直角面，所述测量部沿X轴方向并靠近所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面设置，且所述测量部沿X轴方向相对于所述第一直角件的侧面和所述第二直角件的侧面可移动，所述测量部具有位于前端的倒角贴合部、位于后端的基准部以及位于中间的刻度部，所述倒角贴合部具有倒角贴合面，所述倒角贴合面的延伸平面与所述第一直角面、所述第二直角面相交，所述基准部具有基准面。


2.根据权利要求1所述的弧长投影测量装置，其特征在于，还包括数显部，所述数显部用于显示从所述刻度部得到的所述测量部沿X轴的位移值。


3.根据权利要求1所述的弧长投影测量装置，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建勇，吴利涛，柳志强，
申请(专利权)人：宁晋晶兴电子材料有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13