光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置制造方法及图纸

一种光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置，其特征在于包括一四端光纤耦合器（４），其第一端口（４１）经一光隔离器（５）与一可调谐激光器（６）的输出端相连，第二端口（４２）接待测光纤光栅（１），第三端口（４３）经光纤调相器（３）接反射式可变延时器（２），第四端口（４４）接光信号接收器（７）。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光纤光栅，特别是一种光纤光栅群时延谱和群时延色散的差动干涉测量装置，主要应用于光纤通信中光纤光栅色散补偿器件的测试和其他有关光谱测量和调谐方面的应用。
技术介绍
光纤通信技术中影响传输距离的主要因素，一是光信号的衰减，二是光信号脉冲的展宽。光纤色散是光脉冲展宽的主要原因之一。利用啁啾光纤光栅反射谱的群时延特性，可以补偿光纤的色散。它已成为一种主要的色散补偿器件。色散补偿啁啾光纤光栅的设计和制作，必须测量和控制它的群时延特性，包括群时延谱、群时延色散、群时延线性度等参数。为此需要对啁啾光纤光栅的群时延谱进行测量。其他种类的光纤光栅，如变迹(切趾)光纤光栅、相移光纤光栅、取样光纤光栅等等特殊结构的光纤光栅，也需要根据应用要求，测量它们的群时延谱特性。对光纤光栅群时延谱的测量，已经有一些发表的技术。在先技术之一是调制相移法(Modulation Phase Shift Method)。见。其基本原理是对光频作微波调制，测量二个边带的时延差。从而计算光纤光栅的色散时延。该方法已经被开发成测量仪器，其价格昂贵。同时还存在测试数据的稳定性问题。据实际使用，色散数据往往与选取的微波调制本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：方祖捷，瞿荣辉，蔡海文，李琳，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：