发光控制装置、光源装置以及投射型影像显示装置制造方法及图纸

发光控制装置、光源装置以及投射型影像显示装置。发光控制装置包含第1检测电路、第2检测电路和发光控制电路。第1检测电路检测作为第1电阻的两端的电位差的第1电位差。第2检测电路检测作为第2电阻的两端的电位差的第2电位差。发光控制电路输出控制第1开关元件的接通/断开的第1控制信号和控制第2开关元件的接通/断开的第2控制信号。发光控制电路在检测出第1电位差小于第1阈值并且检测出第2电位差大于第2阈值时，进行使第1控制信号和第2控制信号中的至少一方成为非激活的停止处理。

【技术实现步骤摘要】
发光控制装置、光源装置以及投射型影像显示装置
本专利技术涉及发光控制装置、光源装置以及投射型影像显示装置等。
技术介绍
已知有对投影仪等所使用的光源进行控制的发光控制装置。发光控制装置通过对使电流流过电感器的晶体管进行导通/截止控制来进行开关调节控制，使通过该开关调节控制得到的恒定电流流过发光元件，从而控制发光元件的发光量。此时，发光控制装置检测流过发光元件的电流和流过开关调节用的晶体管的电流，并根据这些电流进行开关调节控制。例如在专利文献1中公开了这样的发光控制装置的现有技术。专利文献1：日本特开2018-106862号公报在发光控制装置中，为了避免过电流所引起的异常或故障而进行过电流检测。以往，通过进行针对流过发光元件的电流的过电流检测和针对流过开关调节用的晶体管的电流的过电流检测，并单独地利用它们的检测结果来应对过电流。但是，存在如下课题：如果仅单独利用检测结果，有时不能适当地应对过电流。
技术实现思路
本专利技术的一个方式涉及一种发光控制装置，其控制光源电路的第1开关元件和第2开关元件，该光源电路包含串联设置在第1电源节点与第1节点之间的发光元件、第1电阻和所述第1开关元件以及串联设置在所述第1节点与第2电源节点之间的电感器、所述第2开关元件和第2电阻，其中，该发光控制装置包含：第1检测电路，其检测作为所述第1电阻的两端的电位差的第1电位差；第2检测电路，其检测作为所述第2电阻的两端的电位差的第2电位差；以及发光控制电路，其输出控制所述第1开关元件的接通/断开的第1控制信号和控制所述第2开关元件的接通/断开的第2控制信号，所述发光控制电路在由所述第1检测电路检测到所述第1电位差小于第1阈值并且由所述第2检测电路检测到所述第2电位差大于第2阈值时，进行使所述第1控制信号和所述第2控制信号中的至少一方成为非激活的停止处理。附图说明图1是光源装置的结构例。图2是光源装置的结构例。图3是模拟调光模式下的波形图。图4是PWM调光模式下的波形图。图5是说明停止处理的波形图。图6是电流检测电路的详细结构例以及第1检测电路的第1详细结构例。图7是第2检测电路的详细结构例。图8是动作控制电路的详细结构例。图9是第1检测电路的第2详细结构例。图10是说明第1检测电路的第2详细结构例的动作的波形图。图11是软启动控制电路的详细结构例。图12是说明软启动控制电路的动作的波形图。图13是在正常时进行软启动处理的情况下的波形图。图14是投射型影像显示装置的结构例。标号说明10：光源电路；11：第1开关元件；12：第2开关元件；14：电感器；15：发光元件；100：发光控制装置；101：发光控制电路；110：第1驱动电路；120：第2驱动电路；121：控制信号输出电路；122：斜率补偿电路；123：电流检测电路；124：误差放大器电路；125：开关电路；126：比较器；131：第1检测电路；132：第2检测电路；133：动作控制电路；135：软启动控制电路；140：振荡电路；200：光源装置；300：处理装置；310：操作部；320：存储部；330：通信部；340：显示装置；350：光学系统；400：投射型影像显示装置；ACS：调光用电压；DCS：PWM信号；DRV：第1控制信号；GTB：第2控制信号；ILD：流过发光元件的电流；N1：第1节点；NGN：第2电源节点；NVI：第1电源节点；RCS：第1电阻；RIS：第2电阻。具体实施方式以下，详细说明本申请的优选实施方式。另外，以下说明的本实施方式并不对权利要求书中记载的内容进行不当限定，在本实施方式中说明的结构未必全是必要结构要素。1.光源装置、发光控制装置图1和图2是光源装置200的结构例。光源装置200包含发光元件及其周边电路即光源电路10以及控制发光元件的发光的发光控制装置100。发光控制装置100例如是集成电路装置，例如通过半导体芯片实现。首先，使用图1和图2说明光源电路10和发光控制装置100的结构，使用图3、图4说明PWM调光模式和模拟调光模式。之后，在图5以后，对过电流检测进行说明。如图2所示，光源电路10包含第1开关元件11、第2开关元件12、电感器14以及发光元件15。光源电路10还包含第1电阻RCS、第2电阻RIS、电容器CA以及二极管DA。另外，在图1中，图示了第1开关元件11和第2开关元件12为N型晶体管的情况，但这些开关元件并不限定于N型晶体管。发光元件15通过电流ILD驱动，以与电流ILD的电流值对应的明亮度发光。发光元件15是串联连接的多个激光二极管。但是，发光元件15也可以是1个激光二极管、或者也可以是LED(LightEmittingDiode)。发光元件15和第1开关元件11串联设置在第1电源节点NVI与第1节点N1之间。第1节点N1是与电感器14的一端连接的节点。电感器14、第2开关元件12以及第2电阻RIS串联设置在第1节点N1与第2电源节点NGN之间。具体而言，在第1电源节点NVI与发光元件15的一端之间连接有第1电阻RCS，发光元件15的另一端与第1开关元件11的漏极连接，第1开关元件11的源极与电感器14的一端连接。电感器14的另一端与第2开关元件12的漏极连接，在第2开关元件12的源极与第2电源节点NGN之间连接有第2电阻RIS。第1电源节点NVI是供第1电源输入的节点，第2电源节点NGN是供第2电源输入的节点。第1电源的电压高于第2电源的电压。第2电源例如是地。另外，电容器CA、二极管DA的连接关系如图2所示，关于包含这些电路元件的光源电路10的动作，在图3、图4中后述。第2开关元件12对流过电感器14的电流进行开关调节控制。第1开关元件11控制是否使流过电感器14的电流向发光元件15流通。将第1开关元件11始终接通、通过第2开关元件12的开关调节控制来控制发光元件15的发光量的模式称为模拟调光模式，详细情况将在后面叙述。另外，将通过第1开关元件11接通/断开来根据其接通占空比控制发光元件15的发光量的模式称为PWM调光模式。如图1所示，发光控制装置100包含发光控制电路101、第1检测电路131以及第2检测电路132。另外，发光控制装置100包含PWM端子TDCS、调光用电压输入端子TACS以及端子TDRV、TGTB、TIS、TCSP、TCSN。从处理装置向PWM端子TDCS输入在PWM调光模式下用于调光控制的PWM信号DCS。从处理装置向调光用电压输入端子TACS输入在模拟调光模式下用于调光控制的调光用电压ACS。处理装置是发光控制装置100的主机装置，例如是MPU、CPU等处理器。发光控制电路101根据PWM信号DCS和调光用电压ACS对第1开关元件和所述第2开关元件进行接通/断开控制，由此，对发光元件15的发光量进行调节。发光控制电路101包含第1驱动电路110、第2驱动电路120、振荡电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光控制装置，其特征在于，控制光源电路的第1开关元件和第2开关元件，该光源电路包含串联设置在第1电源节点与第1节点之间的发光元件、第1电阻和所述第1开关元件、以及串联设置在所述第1节点与第2电源节点之间的电感器、所述第2开关元件和第2电阻，该发光控制装置包含：/n第1检测电路，其检测作为所述第1电阻的两端的电位差的第1电位差；/n第2检测电路，其检测作为所述第2电阻的两端的电位差的第2电位差；以及/n发光控制电路，其输出控制所述第1开关元件的接通/断开的第1控制信号和控制所述第2开关元件的接通/断开的第2控制信号，/n所述发光控制电路在由所述第1检测电路检测到所述第1电位差小于第1阈值并且由所述第2检测电路检测到所述第2电位差大于第2阈值时，进行使所述第1控制信号和所述第2控制信号中的至少一方成为非激活的停止处理。/n

【技术特征摘要】
20190227 JP 2019-0336881.一种发光控制装置，其特征在于，控制光源电路的第1开关元件和第2开关元件，该光源电路包含串联设置在第1电源节点与第1节点之间的发光元件、第1电阻和所述第1开关元件、以及串联设置在所述第1节点与第2电源节点之间的电感器、所述第2开关元件和第2电阻，该发光控制装置包含：
第1检测电路，其检测作为所述第1电阻的两端的电位差的第1电位差；
第2检测电路，其检测作为所述第2电阻的两端的电位差的第2电位差；以及
发光控制电路，其输出控制所述第1开关元件的接通/断开的第1控制信号和控制所述第2开关元件的接通/断开的第2控制信号，
所述发光控制电路在由所述第1检测电路检测到所述第1电位差小于第1阈值并且由所述第2检测电路检测到所述第2电位差大于第2阈值时，进行使所述第1控制信号和所述第2控制信号中的至少一方成为非激活的停止处理。


2.根据权利要求1所述的发光控制装置，其特征在于，
所述发光控制电路在由所述第2检测电路检测到所述第2电位差大于所述第2阈值时，进行在使流过所述第2开关元件的电流停止后使所述电流增加的重新启动处理。


3.根据权利要求2所述的发光控制装置，其特征在于，
所述发光控制电路在所述重新启动处理后进行所述停止处理。


4.根据权利要求3所述的发光控制装置，其特征在于，
当在所述重新启动处理后由所述第1检测电路检测出所述第1电位差小于所述第1阈值并且由所述第2检测电路检测出所述第2电位差大于所述第2阈值时，所述发光控制电路进行所述停止处理。


5.根据权利要求3或4所述的发光控制装置，其特征在于，
所述发光控制电路在所述重新启动处理进行了2次以上的规定次数时，进行所述停止处理。
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【专利技术属性】
技术研发人员：山元佑基，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP