一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法技术

本发明专利技术公开了一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，属于电子锁技术领域，包含OLED显示屏模块功能测试、FLASH/EEPROM模块功能测试、指纹模块功能测试、密码模块功能测试、刷卡模块功能测试；板卡各个模块连接好上电后，主控程序进入模块自动测试流程，通过主控MCU跟各个子模块的通信测试来检测模块是否正常运行，测试过程中显示各模块的测试流程及结果；整个流程测试完成后，在OLED显示屏上显示各个模块的测试结果，正常的显示“√”，异常的显示“×”，从而达到板卡上电后子模块自动化测试的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法
本专利技术涉及电子锁
，尤其涉及一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法。
技术介绍
现有的指纹锁板卡在生产出来之后，需要一人一个工位进行各个模块的功能测试，如指纹模块、密码模块、电机模块等，且当前模块测试完成后若归为问题板卡，无法得知后续模块的功能是否正常，当修复完成后需要重新进行测试，现有的测试方法既减缓了板卡测试的速度也造成了人力的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的为针对目前技术中存在的不足，提供一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，通过指纹锁上电后主控MCU跟各个子模块的通信是否成功的判断，实现对指纹锁板卡各个子模块运行状态的测试，并且直观的通过OLED显示来呈现测试结果，一个工位即可实现板卡的全部功能测试，可以缩短板卡测试时长且节约人力成本。本专利技术的技术方案如下：一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，包括以下步骤：OLED显示屏模块功能测试；OLED显示屏模块功能测试通过后，系统自动进入FLASH/EEPROM模块功能测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nOLED显示屏模块功能测试；/nOLED显示屏模块功能测试通过后，系统自动进入FLASH/EEPROM模块功能测试，测试失败则测试结束；/nFLASH/EEPROM模块功能测试通过后，系统自动进入指纹模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入指纹模块功能测试；/n指纹模块功能测试通过后，系统自动进入密码模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入密码模块功能测试；/n密码模块功能测试通过后，系统自动进入刷卡模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入刷卡模块功能测试；/n进行刷卡模块功能测试，系统记录测试...

【技术特征摘要】
1.一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
OLED显示屏模块功能测试；
OLED显示屏模块功能测试通过后，系统自动进入FLASH/EEPROM模块功能测试，测试失败则测试结束；
FLASH/EEPROM模块功能测试通过后，系统自动进入指纹模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入指纹模块功能测试；
指纹模块功能测试通过后，系统自动进入密码模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入密码模块功能测试；
密码模块功能测试通过后，系统自动进入刷卡模块功能测试，测试失败则系统记录失败状态后再进入刷卡模块功能测试；
进行刷卡模块功能测试，系统记录测试结果；
在上述模块功能测试完成后，OLED进行测试结果汇总显示。


2.根据权利要求1所述的一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，其特征在于，OLED显示屏模块功能测试具体包括：
MCU通过I2C进行屏幕参数的初始化，并在屏幕显示“OLED测试”，若成功则屏幕显示“OLED测试通过”，若异常则通过语音播报“失败”。


3.根据权利要求1所述的一种带OLED屏的指纹锁板卡自动测试方法，其特征在于，FLASH/EEPROM模块功能测试具体包括：
MCU通过SPI/I2C接口对FLASH/EEPROM进行读写测试，首先从特定地址A开始写入100个字节的数据，然后从特定地址A开始读取连续的100个字节数据，前后比较100个字节是否相同，若相同说明FLASH/EEPROM功能正常，OLED显示“FLASH/EEPRO...

【专利技术属性】
技术研发人员：张新村，梁经林，
申请(专利权)人：四川金网通电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51