基于群延时的射频电路测试方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及射频电路检测技术领域，涉及一种基于群延时的射频电路测试方法及系统。本发明专利技术通过对原始检测信号以及经过射频电路之后的检测信号分别进行捕获，处理模块分别计算原始检测信号的触发时延和经过射频电路之后的信号时延，处理运算后即可判断被测电路是否正常；本发明专利技术可节省测试人员对测试的重复工作，可代替大量人工实验，提高测试的可靠性和稳定性，同时也降低了测试人员的测试门槛，提高了工作效率；本发明专利技术也可进行长时间的测试，利用收集的测试数据可得出射频板群时延与工作时间的关系，保证射频板的使用可靠性。

【技术实现步骤摘要】
基于群延时的射频电路测试方法及系统
本专利技术涉及射频电路检测
，涉及一种基于群延时的射频电路测试方法及系统。
技术介绍
目前在生产手机综测仪生产和研发过程中，一般需要对手机综测仪中射频板链路进行测试，主要是进行射频信号在传输过程中的时延测试，现有的射频电路测试无法进行长时间的测试，同时电路较复杂，成本相对较高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种可进行长时间测试，增加了射频电路测试的可靠性的基于群延时的射频电路测试方法及系统。为了解决上述技术问题，本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于群延时的射频电路测试方法，具体步骤包括：信号输出模块输出两检测信号，其中一个检测信号输出至处理模块作为触发信号，将另一检测信号输入至被测射频电路进行延时，使所述检测信号产生传输延时；将所述触发信号与延时后的检测信号输入至处理模块进行处理运算，判断所述被测射频电路是否正常。进一步地，两检测信号为信号输出模块同时输出且频率和功率大小均相同的信号。进一步地，对触发信号和延时本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于群延时的射频电路测试方法，其特征在于，具体步骤包括：/n信号输出模块输出两检测信号，其中一个检测信号输出至处理模块作为触发信号，将另一检测信号输入至被测射频电路进行延时，使所述检测信号产生传输延时；将所述触发信号与延时后的检测信号输入至处理模块进行处理运算，判断所述被测射频电路是否正常；/n对所述触发信号与延时后的检测信号进行处理运算具体包括：/n当触发信号或者延时后的检测信号使用的是数字通道测试则解析0到1跳变时的时间戳T1；/n当触发信号或者延时后的检测信号使用的是模拟通道测试则解析上升沿在80%处的时间戳T2；/n解析触发信号与延时后的检测信号的波形数据，获得触发信号的时间戳...

【技术特征摘要】
1.一种基于群延时的射频电路测试方法，其特征在于，具体步骤包括：
信号输出模块输出两检测信号，其中一个检测信号输出至处理模块作为触发信号，将另一检测信号输入至被测射频电路进行延时，使所述检测信号产生传输延时；将所述触发信号与延时后的检测信号输入至处理模块进行处理运算，判断所述被测射频电路是否正常；
对所述触发信号与延时后的检测信号进行处理运算具体包括：
当触发信号或者延时后的检测信号使用的是数字通道测试则解析0到1跳变时的时间戳T1；
当触发信号或者延时后的检测信号使用的是模拟通道测试则解析上升沿在80%处的时间戳T2；
解析触发信号与延时后的检测信号的波形数据，获得触发信号的时间戳T1和延时后的检测信号的时间戳T2，则结果时延TDelay=|T1-T2|，将结果时延TDelay与预定标准时延进行对比。


2.如权利要求1所述的基于群延时的射频电路测试方法，其特征在于，两检测信号为信号输出模块同时输出且频率和功率大小均相同的信号。


3.如权利要求1所述的基于群延时的射频电路测试方法，其特征在于，对触发信号和延时后的检测信号测试曲线上对应时间的每个点进行获取，对每个点在程式中使用键值对方式对每个数据类型进行存储。


4.一种基于群延时的射频电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄建林，胡源，
申请(专利权)人：昆山普尚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32