【技术实现步骤摘要】
2DMEMS探针卡用测试装置及其气动结构和调节结构
本技术涉及一种探针卡测试装置,具体是一种2DMEMS探针卡用测试装置及其气动结构和调节结构,属于探针卡应用
技术介绍
探针卡是一种测试接口,主要对裸芯进行测试,通过连接测试机和芯片,通过传输信号对芯片参数进行测试;将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的,探针卡应用在IC尚未封装前,针对裸晶系以探针做功能测试,筛选出不良品、再进行之后的封装工程,因此,探针卡是IC制造中对制造成本影响相当大的重要制程之一。在现有技术中,探针卡测试装置在使用时需要对探针卡进行固定,现有的固定结构的通用性不足,不能够根据探针卡的尺寸进行灵活使用,且目前的固定结构在安装与拆卸探测卡时都较为麻烦,工作效率较低。因此,针对上述问题提出一种2DMEMS探针卡用测试装置及其气动结构和调节结构。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种2DMEMS探针卡用测试装置及其气动结构和调节结构。本技术通过以下技术方案来实现上述目的,一种2DMEMS探针卡用测试装置,包括从上到下依次安装的设备本体、安装架、气动结构、安装块、调节结构、支撑柱和滚轮;所述气动结构包括气缸、导向柱和导向孔,所述导向孔开设在所述安装架的两端端面,所述导向柱贯穿所述导向孔,且所述导向柱的末端与所述安装块的外侧侧面固接;所述安装架的外侧设有复位弹簧,且所述复位弹簧套接于所述导向柱表面;所述气缸固接在 ...
【技术保护点】
1.一种2DMEMS探针卡用测试装置,其特征在于:包括从上到下依次安装的设备本体(1)、安装架(2)、气动结构、安装块(3)、调节结构、支撑柱(18)和滚轮(19);/n所述气动结构包括气缸(4)、导向柱(5)和导向孔(13),所述导向孔(13)开设在所述安装架(2)的两端端面,所述导向柱(5)贯穿所述导向孔(13),且所述导向柱(5)的末端与所述安装块(3)的外侧侧面固接;所述安装架(2)的外侧设有复位弹簧(6),且所述复位弹簧(6)套接于所述导向柱(5)表面;所述气缸(4)固接在所述安装架(2)的外端面,所述气缸(4)的输出杆末端贯穿所述安装架(2)的外端面,且所述气缸(4)的输出杆末端与所述安装块(3)的外侧侧面固接;/n所述调节结构包括推块(7)、通槽(8)、固定块(10)和安装腔(14),所述安装腔(14)开设在所述安装块(3)的内部,所述固定块(10)一侧卡合在所述安装腔(14)内部,且所述固定块(10)一侧与所述安装腔(14)内侧壁之间固接有夹紧弹簧(15);所述通槽(8)开设在所述安装块(3)顶端,所述推块(7)卡合在所述通槽(8)内部,且所述推块(7)底端与所述固定块 ...
【技术特征摘要】
1.一种2DMEMS探针卡用测试装置,其特征在于:包括从上到下依次安装的设备本体(1)、安装架(2)、气动结构、安装块(3)、调节结构、支撑柱(18)和滚轮(19);
所述气动结构包括气缸(4)、导向柱(5)和导向孔(13),所述导向孔(13)开设在所述安装架(2)的两端端面,所述导向柱(5)贯穿所述导向孔(13),且所述导向柱(5)的末端与所述安装块(3)的外侧侧面固接;所述安装架(2)的外侧设有复位弹簧(6),且所述复位弹簧(6)套接于所述导向柱(5)表面;所述气缸(4)固接在所述安装架(2)的外端面,所述气缸(4)的输出杆末端贯穿所述安装架(2)的外端面,且所述气缸(4)的输出杆末端与所述安装块(3)的外侧侧面固接;
所述调节结构包括推块(7)、通槽(8)、固定块(10)和安装腔(14),所述安装腔(14)开设在所述安装块(3)的内部,所述固定块(10)一侧卡合在所述安装腔(14)内部,且所述固定块(10)一侧与所述安装腔(14)内侧壁之间固接有夹紧弹簧(15);所述通槽(8)开设在所述安装块(3)顶端,所述推块(7)卡合在所述通槽(8)内部,且所述推块(7)底端与所述固定块(10)顶端固接。
2.根据权利要求1所述的一种2DMEMS探针卡用测试装置,其特征在于:所述安装架(2)的底端开有安装孔(12),且四个所述安装架(2)呈矩阵分布在所述安装架(2)底端。
3.根据权利要求1所述的一种2DMEMS探针卡用测试装置,其特征在于:所述设备本体(1)的顶端设有工作台(17),且所述安装通过螺栓所述工作台(17)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种2DMEMS探针卡用测试装置,其特征在于:所述设备本体(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘明星,黄海军,
申请(专利权)人:强一半导体苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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