【技术实现步骤摘要】
基于微带天线的分子探测器及系统
本专利技术涉及分子探测领域，具体而言，涉及一种基于微带天线的分子探测器及系统。
技术介绍
分子探测作为一项与国民生产生活息息相关的工作，分子、化学、医学领域具有十分重要的应用。经常被讨论的分子探测的方法一般是针对微量目标分子的超敏感检测方法，这样的探测方法根据工作方式的不同大致可以分为两类：一类是基于折射率敏感的探测方法，另一类是基于分子指纹吸收的探测方法。然而，这些探测效果一般都表征为目标分子存在与否，浓度变化，无法实现对分子大小与数量的精密探测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于微带天线的分子探测器及系统，以解决现有技术中探测效果一般都表征为目标分子存在与否，浓度变化，无法实现对分子大小与数量的精密探测的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：第一方面，本申请提供一种基于微带天线的分子探测器，分子探测器包括：金属底板、绝缘层和两个导体贴片，绝缘层设置在金属底板的一侧，两个导体贴片...
【技术保护点】
1.一种基于微带天线的分子探测器，其特征在于，所述分子探测器包括：金属底板、绝缘层和两个导体贴片，所述绝缘层设置在所述金属底板的一侧，两个所述导体贴片相互平行的设置在所述绝缘层远离金属地板的一侧，且两个所述导体贴片沿所述绝缘层的中心点对称，不沿所述绝缘层的对称轴对称，所述金属底板远离所述导体贴片的一侧位置有凹槽，且所述凹槽的中线与所述金属底板的一条对称轴重合。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于微带天线的分子探测器，其特征在于，所述分子探测器包括：金属底板、绝缘层和两个导体贴片，所述绝缘层设置在所述金属底板的一侧，两个所述导体贴片相互平行的设置在所述绝缘层远离金属地板的一侧，且两个所述导体贴片沿所述绝缘层的中心点对称，不沿所述绝缘层的对称轴对称，所述金属底板远离所述导体贴片的一侧位置有凹槽，且所述凹槽的中线与所述金属底板的一条对称轴重合。
2.根据权利权利要求1所述的基于微带天线的分子探测器，其特征在于，所述导体贴片的材料为金、银、铜中的至少一种。
3.根据权利权利要求1所述的基于微带天线的分子探测器，其特征在于，所述绝缘层的材料为聚酰亚胺、二氧化硅、氧化铝中的至少一种。
4.根据权利要求3所述的基于微带天线的分子探测器，其特征在于，所述绝缘层的长边与导体贴片的长边垂直。
5.根据权利要求4所述的基于微带天线的分子...
【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：金华伏安光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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