【技术实现步骤摘要】
一种卷芯极耳胶高度测量夹具
本技术涉及一种夹具,具体涉及一种卷芯极耳胶高度测量夹具。
技术介绍
目前已有的卷芯测量装置无法检测出卷芯的极耳胶外露高低,而导致的正负极包覆不良及极片不居中隔膜,造成卷芯封装后极耳胶无外露或外露超高、正负极隔膜包覆不良引起的电池品质问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是一种卷芯极耳胶高度测量夹具,可测量卷芯极耳胶外露上下限,防止正负极隔膜包覆不良卷芯流出及极耳胶高低造成的封装后尺寸不良。本技术是通过以下技术方案来实现的:一种卷芯极耳胶高度测量夹具,包括测试夹具主体,测试夹具主体中间具有一个卷芯放置腔,卷芯放置于卷芯放置腔内,测试夹具主体的正对极耳以及极耳胶的位置设置有极耳胶槽以及极耳槽,测试时,极耳扣入于极耳槽内,极耳胶扣入于极耳胶槽内,在极耳胶槽内设定一个高低台阶,限位极耳胶外露。本技术的有益效果是:本技术在卷芯测量夹具内增加极耳胶槽,以及在极耳胶槽内设定一个高低台阶限位极耳胶外露上下限,可测量卷芯极耳胶外露上下限,防止正负极隔膜包覆不良卷芯流出及极耳胶 ...
【技术保护点】
1.一种卷芯极耳胶高度测量夹具,其特征在于:包括测试夹具主体,测试夹具主体中间具有一个卷芯放置腔(1),卷芯放置于卷芯放置腔(1)内,测试夹具主体的正对极耳(11)以及极耳胶(12)的位置设置有极耳胶槽(4)以及极耳槽(3);/n测试时,所述极耳(11)扣入于极耳槽(3)内,极耳胶(12)扣入于极耳胶槽(4)内,在极耳胶槽(4)内设定一个高低台阶(2),限位极耳胶(12)外露。/n
【技术特征摘要】
1.一种卷芯极耳胶高度测量夹具,其特征在于:包括测试夹具主体,测试夹具主体中间具有一个卷芯放置腔(1),卷芯放置于卷芯放置腔(1)内,测试夹具主体的正对极耳(11)以及极耳胶(12)的位置设置...
【专利技术属性】
技术研发人员:王思凡,李正亮,
申请(专利权)人:深圳市聚和源科技有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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