基于超快光学扫频的宽带微波测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，用待测微波信号对光载波进行调制，生成仅保留单边一阶边带的调制光信号；将所述调制光信号与一路线性调频光信号耦合后进行光电探测；然后利用一中频窄带带通滤波器对光电探测所得电信号进行滤波，并提取滤波后信号的包络；根据所述滤波后信号的包络进行时频对应，得到待测微波信号的频谱。本发明专利技术还公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量装置。相比现有技术，本发明专利技术的扫描速度更快，扫描范围更大，工作频率及带宽更灵活。

【技术实现步骤摘要】
基于超快光学扫频的宽带微波测量方法及装置
本专利技术涉及一种微波频率测量方法，尤其涉及一种微波光子辅助的，具有更大测量范围的宽带微波测量方法。
技术介绍
微波频率测量广泛应用于无线通信、电子战等领域。电子技术的迅速发展使得电子战中对电磁频谱权的争斗愈发激烈，未来电子战将面对愈发复杂且多变的电磁环境，这就对微波频率测量技术的测量速度提出了更高要求。同时，随着电力系统向高频、宽带的方向发展演进，微波瞬时频率测量方法也相应的需要具有更宽的高频测量范围。然而由于电子器件工作带宽的限制，传统的频率测量方法面临着测量速度慢、工作频率低、带宽小、测量范围有限等问题。相较于工作于纯电域内的传统微波频率测量技术，微波光子频率测量技术可突破上述局限，它具有低损耗、高带宽和强抗电磁干扰能力等优势，但是现有的微波光子频率测量方法仍存在测量效率较低、测量范围较小及可测量型号种类有限等问题。为了提高微波光子频谱测量技术性能，潘时龙课题组在一篇中国专利技术专利CN108918967A中提出了“基于微波光子倍频与混频的频谱实时监测方法及装置”。该技术的思路是将本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，用待测微波信号对光载波进行调制，生成仅保留单边一阶边带的调制光信号；将所述调制光信号与一路线性调频光信号耦合后进行光电探测；然后利用一中频窄带带通滤波器对光电探测所得电信号进行滤波，并提取滤波后信号的包络；根据所述滤波后信号的包络进行时频对应，得到待测微波信号的频谱。/n

【技术特征摘要】
1.基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，用待测微波信号对光载波进行调制，生成仅保留单边一阶边带的调制光信号；将所述调制光信号与一路线性调频光信号耦合后进行光电探测；然后利用一中频窄带带通滤波器对光电探测所得电信号进行滤波，并提取滤波后信号的包络；根据所述滤波后信号的包络进行时频对应，得到待测微波信号的频谱。


2.如权利要求1所述基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，所述时频对应具体按照下式：



其中，t为时间，t1、t2分别为所述线性调频光信号的起始频率f1和终止频率f2的对应时刻，fc为所述光载波的频率，fI为所述窄通带中频带通滤波器的通带中心频率，fR为待测微波信号的频率。


3.如权利要求1或2所述基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，通过将脉冲光信号依次进行滤波、色散展宽生成所述线性调频光信号。


4.如权利要求1或2所述基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，通过可调谐激光器生成所述线性调频光信号。


5.如权利要求1或2所述基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，其特征在于，通过由光放大器、色散元件、可调谐光滤波器、光耦合器依次连接而成的环形谐振腔生成所述线性调频光信号，光通过所述环形谐振腔所需时间与所述可调谐光滤波器的调谐周期相匹配。


6.基于超快光学扫频的宽带微波测量装置，其特征在于，包括：
超快光学扫频单元，用于生成线性调频光信号；

【专利技术属性】
技术研发人员：张方正，周悦雯，潘时龙，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32