一种金属材料性能参数测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种金属材料性能参数测量装置及方法。该金属材料性能参数测量装置中的试验台架上设置试件、位移传感器和非接触激振器；位移传感器与处理器电连接；非接触激振器通过扫频信号发生器与处理器电连接；处理器用于控制扫频信号发生器的扫频电压；扫频信号发生器用于控制非接触激振器发出扫频信号，以对试件进行激振；位移传感器用于检测试件的位移变化信号，并将位移变化信号发送至处理器；处理器还用于根据位移变化信号，得到试件的幅频曲线，从而确定试件的阻尼比。本发明专利技术能提高阻尼比测量的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种金属材料性能参数测量装置及方法
本专利技术涉及材料性能测量领域，特别是涉及一种金属材料性能参数测量装置及方法。
技术介绍
目前，通常利用半功率带宽法测量阻尼比。其中，采用锤击法得到其幅频曲线，之后得到半功率点对应的两个频率及共振频率点，最后基于半功率点对应的两个频率及共振频率点得到其阻尼比。现有用半功率带宽法测量阻尼比的方法由于用小锤敲击，每次敲击的条件无法保持一致，所得到的数据不稳定，故得到的阻尼比并不准确。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种金属材料性能参数测量装置及方法，以提高阻尼比测量的准确性。为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：一种金属材料性能参数测量装置，包括：试验台架、位移传感器、非接触激振器、扫频信号发生器和处理器；所述试验台架上设置试件、所述位移传感器和所述非接触激振器；所述位移传感器与所述处理器电连接；所述非接触激振器通过所述扫频信号发生器与所述处理器电连接；所述处理器用于控制所述扫频信号发生器的扫频电压；所述扫频信号发生器用于控制所述非接触激振器发出扫频信号，以对所述试件进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，包括：试验台架、位移传感器、非接触激振器、扫频信号发生器和处理器；所述试验台架上设置试件、所述位移传感器和所述非接触激振器；所述位移传感器与所述处理器电连接；所述非接触激振器通过所述扫频信号发生器与所述处理器电连接；所述处理器用于控制所述扫频信号发生器的扫频电压；所述扫频信号发生器用于控制所述非接触激振器发出扫频信号，以对所述试件进行激振；所述位移传感器用于检测所述试件的位移变化信号，并将所述位移变化信号发送至所述处理器；所述处理器还用于根据所述位移变化信号，得到所述试件的幅频曲线，从而确定所述试件的阻尼比。/n

【技术特征摘要】
1.一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，包括：试验台架、位移传感器、非接触激振器、扫频信号发生器和处理器；所述试验台架上设置试件、所述位移传感器和所述非接触激振器；所述位移传感器与所述处理器电连接；所述非接触激振器通过所述扫频信号发生器与所述处理器电连接；所述处理器用于控制所述扫频信号发生器的扫频电压；所述扫频信号发生器用于控制所述非接触激振器发出扫频信号，以对所述试件进行激振；所述位移传感器用于检测所述试件的位移变化信号，并将所述位移变化信号发送至所述处理器；所述处理器还用于根据所述位移变化信号，得到所述试件的幅频曲线，从而确定所述试件的阻尼比。


2.根据权利要求1所述的一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，所述试验台架包括底座、支撑轴和横梁；所述底座上固定所述支撑轴，所述支撑轴的顶端固定所述横梁；所述试件固定在所述横梁上；所述位移传感器和所述非接触激振器均固定在所述支撑轴上。


3.根据权利要求2所述的一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，还包括夹具；所述夹具固定在所述横梁的一侧；所述夹具用于固定所述试件。


4.根据权利要求2所述的一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，所述位移传感器和所述非接触激振器均通过磁体固定在所述支撑轴上。


5.根据权利要求1所述的一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，所述非接触激振器与所述试件的底端对应且与所述试件在竖直方向平行；所述位移传感器与所述试件的中部对应且与所述试件在竖直方向平行。


6.根据权利要求5所述的一种金属材料性能参数测量装置，其特征在于，所述非接触激振器与所述试件的距离为15mm；所述位移传感器与...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵延广，阎军，阎琨，孙士勇，张鑫，王之凡，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：辽宁;21