单片机测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种单片机测试装置，应用于单片机技术领域，包括测试主板、主处理器、测试座，所述主处理器与所述测试座相连接；所述主处理器固定设置在所述测试主板上，用于对被测单片机进行测试；所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接。

【技术实现步骤摘要】
单片机测试装置
本技术涉及单片机
，具体涉及单片机测试装置。
技术介绍
随着电子信息的发展，单片机以其强大的数据处理技术和计算功能可以在智能电子设备中充分应用。而单片机生产完成后，会存在不合格的产品，此时便需要对单片机进行测试才能排除。目前多数产品使用的单片机管脚多且间距小，测试困难，在生产阶段都是采取试用的办法，一旦芯片存在质量问题，取芯片的过程往往会损坏电路板。
技术实现思路
有鉴于此，本技术为了在至少一定程度上克服相关技术中存在的问题，提供一种单片机测试装置。为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种单片机测试装置，包括：测试主板、主处理器和测试座，所述主处理器与所述测试座相连接；所述主处理器固定设置在所述测试主板上，用于对被测单片机进行测试；所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接。可选的，包括：所述测试主板包括第二电路板和第一排母，所述第一排母固定在所述第二电路板上，所述测试座的排针与所述第一排母可拆卸连接。可选的，还包括：开关，所述开关设置在所述测试主板上，并与所述主处理器相连接。可选的，还包括：指示灯，所述指示灯设置在所述测试主板上，并与所述主处理器相连接。可选的，还包括：显示器，所述显示器通过连接器与所述被测单片机连接，用于显示测试结果。可选的，所述连接器包括第二排母，所述第二排母为双排排母。可选的，还包括：至少一个复位单元，用于对所述主处理器或被测单片机进行复位。可选的，还包括：电源单元，用于为所述装置供电。可选的，所述测试座还包括上盖，所述上盖与所述底座的一端可旋转连接。可选的，所述上盖与所述底座的另一端设置有卡扣，以扣合所述上盖与所述底座。本技术采用以上技术方案，可以实现如下技术效果：本申请的单片机测试装置包括：测试主板、主处理器、测试座，所述主处理器与所述测试座相连接，将所述主处理器固定设置在所述测试主板上，便可以对被测单片机进行测试；通过设置测试座，将被测单片机安装在测试座上，由于测试座与测试主板可拆卸连接，因此，在测试座出现故障时，便于更换；将被测单片机设置在测试座上，而不是直接焊接在测试板上，可以省去焊接的过程，并且取芯片时，可以直接取下，不会损坏电路板；另外，所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接，排针和排母的设置可以使拆卸更加方便。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术一实施例提供的单片机测试装置的结构示意图；图2是本技术一实施例提供的单片机测试装置的测试座的结构示意图；图3是本技术另一实施例提供的单片机测试装置的结构示意图；图4是本技术又一实施例提供的单片机测试装置的结构示意图。附图标记：测试主板-1、主处理器-2、测试座-3、底座-31、排针-32、第一电路板-33、上盖-34、卡扣-35、开关-4、指示灯-5、显示器-6、复位单元-7、电源单元-8。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本技术的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本技术所保护的范围。实施例图1是本技术一实施例提供的单片机测试装置的结构示意图。如图1所示，本实施例提供一种单片机测试装置，包括：测试主板1、主处理器2、测试座3，所述主处理器与所述测试座相连接；所述主处理器固定设置在所述测试主板上，用于对被测单片机进行测试；所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座31、排针32和第一电路板33，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接。本申请的单片机测试装置包括：测试主板、主处理器、测试座，所述主处理器与所述测试座相连接，将所述主处理器固定设置在所述测试主板上，便可以对被测单片机进行测试；通过设置测试座，将被测单片机安装在测试座上，犹豫测试座与测试主板可拆卸连接，因此，在测试座出现故障时，便于更换；将被测单片机设置在测试座上，而不是直接焊接在测试板上，可以省去焊接的过程，并且取芯片时，可以直接取下，不会损坏电路板；另外，所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接，排针和排母的设置可以使拆卸更加方便。其中，主处理器对被测单片机测试的过程可以参照相关技术。例如，被测单片机安装在测试座上后，上电初始化，主处理器中的程序开始对被测单片机的各项功能进行测试。本实施例中的被测单片机可以但不限于为STM32F427VIT6单片机，主处理器可以但不限于为已测试合格的STM32F427VIT6单片机。一些实施例中，所述测试主板包括第二电路板和第一排母，所述第一排母固定在所述第二电路板上，所述测试座的排针与所述第一排母可拆卸连接。通过将排母焊接在第二电路板上，第二电路板便可以通过排母与测试座中的排针连接，从而实现，将测试座安装在测试主板上的目的。可以理解的是，排针与第一排母的排数是相同的，本实施例中，排针和第一排母可以但不限于为单排或双排。采用单排排针和排母可以更加方便的插拔。图2是本技术一实施例提供的单片机测试装置的测试座的结构示意图。如图2所示，进一步的，为了使被测单片机更加牢固的安装在测试座上，本申请的单片机测试装置中的所述测试座还包括上盖34，所述上盖与所述底座的一端可旋转连接。通过设置上盖，可以将被测单片机通过上盖和底座的扣合牢牢的固定，使被测单片机不会再测试过程中发生移动。进一步的，所述上盖与所述底座的另一端设置有卡扣35，以扣合所述上盖与所述底座。通过设置卡扣，使上盖与底座盖合后固定住，更加牢固。图3是本技术另一实施例提供的单片机测试装置的结构示意图。如图3所示，一些实施例中，单片机测试装置还包括：开关4，所述开关设置在所述测试主板上，并与所述主处理器相连接。通过设置开关，可以在单片机安装在测试座上后，单片机测试装置的各器件都已备好的情况下，在按动开关上电，避免出现短路或断路的情况，造成测试结果不准确或装置故障。可选的，一些实施例中，单片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种单片机测试装置，其特征在于，包括：测试主板、主处理器和测试座，所述主处理器与所述测试座相连接；/n所述主处理器固定设置在所述测试主板上，用于对被测单片机进行测试；/n所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种单片机测试装置，其特征在于，包括：测试主板、主处理器和测试座，所述主处理器与所述测试座相连接；
所述主处理器固定设置在所述测试主板上，用于对被测单片机进行测试；
所述测试座，用于安装被测单片机，包括底座、排针和第一电路板，所述底座固定设置在所述第一电路板上，所述第一电路板通过所述排针与所述测试主板可拆卸连接。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试主板包括第二电路板和第一排母，所述第一排母固定在所述第二电路板上，所述测试座的排针与所述第一排母可拆卸连接。


3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：开关，所述开关设置在所述测试主板上，并与所述主处理器相连接。


4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：指示灯，所述指示灯设置在所述测试主板上，并与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建强，霍风祥，李鹏飞，兰金国，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11