【技术实现步骤摘要】
一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统
本专利技术涉及一种太阳自适应光学系统,属于自适应光学
,具体涉及一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,用于太阳观测过程中,极端湍流强度(大气相干长度在3~5厘米)所致的光波前畸变的探测和校正。
技术介绍
自适应光学系统通过对大气湍流引起的波前畸变进行实时补偿校正,使大口径望远镜获得理想的成像能力,是当前大口径天文望远镜的必备设备。在太阳观测领域,虽然太阳望远镜口径较小,但是由于白天地球受到太阳辐射的影响,湍流较夜间观测更强,且更加多变,因此也需要自适应光学系统恢复大口径望远镜高分辨力成像能力。众所周知,对于太阳自适应光学系统而言,由于需要利用太阳大气本身结构特征作为信标进行波前提取,因此,为了保证一定的探测精度,通常而言,太阳自适应光学系统的设计和工作都存在着大气条件的下限,即需要大气湍流满足不低于8cm(ThomasR.RimmeleandJoseMarino,solaradaptiveoptics,LivingRev.SolarPhys.,8,2,2011)。一些系统虽然对控制算法等进行改进,可以适当降低系统工作的湍流条件下限,但是对于极端湍流条件下,传统意义上的太阳自适应光学系统均无法工作。一些太阳观测的站址虽然具有较好的平均视宁度,其大气视宁度强度多变,有时也会出现非常差的瞬时大气视宁度;此外,随着人类活动的范围越来越大,早期天文观测站址的大气条件也在受到越来越多的影响。部分大气湍流条件即使配备传统太阳自适应光学系统,也无法进行太阳高分辨力观测。 ...
【技术保护点】
1.一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,其特征在于:由准直镜(1)、倾斜波前校正器(2)、高阶波前校正器(3)、第一分光镜(4)、精跟踪波前传感器(5)、精跟踪波前校正控制器(6)、第二分光镜(7)、成像子系统(8)、相关夏克-哈特曼波前传感器(9)以及高阶波前校正控制器(10)组成,倾斜波前校正器(2)、精跟踪波前传感器(5)和精跟踪波前校正控制器(6)组成对大气湍流进行倾斜校正的闭环子系统,高阶波前校正器(3)、相关夏克-哈特曼波前传感器(9)以及高阶波前校正控制器(10)组成对大气湍流进行高阶像差校正的闭环子系统,经过望远镜主焦点的光,首先由准直镜(1)进行准直,随后进入倾斜波前校正器(2)和高阶波前校正器(3),其中高阶波前校正器(3)位于望远镜入瞳的共轭位置,第一分光镜(4)将光分为两束,一束用于精跟踪波前传感器(5)探测低阶倾斜像差;另一束经第二分光镜(7)分别进入成像子系统(8)和相关夏克-哈特曼波前传感器(9)。/n为了在极端湍流条件下,即大气相干长度在3~5cm,提升高阶波前探测的精度,系统放弃传统经典的探测波段(500nm~550nm),采用波长更长的TiO波段 ...
【技术特征摘要】
1.一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,其特征在于:由准直镜(1)、倾斜波前校正器(2)、高阶波前校正器(3)、第一分光镜(4)、精跟踪波前传感器(5)、精跟踪波前校正控制器(6)、第二分光镜(7)、成像子系统(8)、相关夏克-哈特曼波前传感器(9)以及高阶波前校正控制器(10)组成,倾斜波前校正器(2)、精跟踪波前传感器(5)和精跟踪波前校正控制器(6)组成对大气湍流进行倾斜校正的闭环子系统,高阶波前校正器(3)、相关夏克-哈特曼波前传感器(9)以及高阶波前校正控制器(10)组成对大气湍流进行高阶像差校正的闭环子系统,经过望远镜主焦点的光,首先由准直镜(1)进行准直,随后进入倾斜波前校正器(2)和高阶波前校正器(3),其中高阶波前校正器(3)位于望远镜入瞳的共轭位置,第一分光镜(4)将光分为两束,一束用于精跟踪波前传感器(5)探测低阶倾斜像差;另一束经第二分光镜(7)分别进入成像子系统(8)和相关夏克-哈特曼波前传感器(9)。
为了在极端湍流条件下,即大气相干长度在3~5cm,提升高阶波前探测的精度,系统放弃传统经典的探测波段(500nm~550nm),采用波长更长的TiO波段(中心波长705.7nm)进行波前探测,探测波长和湍流强度有如下关系:
其中,λ0和λd分别为湍流强度的测量波长和自适应光学系统的探测波长,r0和分别是与湍流测量和自适应光学系统探测波长对应的大气相干长度,可知长波探测会增加大气湍流相干长度,提升波前探测精度,此外,TiO波段的不透明性对温度非常敏感,在黑子的半影,尤其是本影这类温度变低的区域,TiO的线深显著增加,采用此波段进行波前探测,在观测太阳活动区时获得更高的图像对比度,有利于系统波前像差的提取;
为了提升系统校正能力,根据系统波前探测和校正空间尺度与大气湍流相干长度相当的设计原则,降低系统波前传感器采样误差和波前校正器的拟合误差对校正效果的影响,确保系统对强湍流具有足够的探测和校正能力,在模式法闭环校正的基础上,当畸变波前的前N项Zernike模式得到完全校正,残...
【专利技术属性】
技术研发人员:饶长辉,张兰强,饶学军,刘洋毅,孔林,鲍华,
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所,
类型:发明
国别省市:四川;51
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